【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子器件测试，具体而言是基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置。
技术介绍
1、硅振荡器是智能化电路模块的重要组成部分之一，工程上很多数字电子系统都采用硅振荡器芯片来完成能量转化的功能。对于大多数微控制器的时钟要求而言，硅振荡器无疑是一种有效的解决方案。由于硅振荡器的重要作用，使其逐渐成为保障电子系统可靠运行的重要芯片之一，并获得广泛应用。
2、硅振荡器在投入使用之前必须通过电性能参数测试，测试过程中需要在被测器件的时钟端clock更换不同的电阻，来实现对不同电流负载的考察。目前，硅振荡器的电性能参数测试通常采用人工测试，需要操作人员将高精度电源、高精度万用表和示波器的引出端，通过导线连接到传统的硅振荡器测试适配器上相应的位置，从而搭建人工测试平台。在测试过程中，操作人员必须时刻关注仪表上的测试结果并进行记录，测试不同的参数时，需要操作人员将导线连接到不同的位置，因此，整个测试过程中会频繁拆卸，不仅费时费力，还容易出现连线错误和读数错误，甚至损毁硅振荡器。
3、针对现有技术的上述不足,本技术提出了一种基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置，它结构简单、成本低廉、制作容易、使用方便并且适用于自动测试系统。采用本技术，可有效提高测试精度和工作效率。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置。
2、为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：一种基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,包括底板和固定在底板上的
3、进一步地，所述选通电阻为三个。
4、进一步地，所述示波器为数字示波器。
5、进一步地，所述万用表为数字万用表。
6、本技术的工作过程如下：将被测硅振荡器放进硅振荡器夹具并使其v+引脚、gnd引脚和clock引脚分别插入第一插槽、第二插槽和第三插槽；v+端接电源vcc,v+端在外围元件区连接1μf电容c1到地端区；gnd端接地端区。自动测试系统通过本技术依次向被测器件座发送输入信号；信号稳定后，切换继电器阵列，使其对应的选通电阻接入被测器件夹具座的clock端和vcc端之间或clock端和gnd端之间，进而实现对被测硅振荡器不同电流负载的考察；示波器对被测硅振荡器的clock端进行采样，万用表对被测硅振荡器的v+端的电流进行采样，从而实现对被测硅振荡器电性能参数的自动测试。
7、本技术在整个测试过程中通过数字继电器进行测试条件的切换，并调用硅振荡器的自动测试程序进行自动测试并保存测试数据，因此，不仅降低了操作人员的工作量、提高了工作效率，而且避免了操作失误，保证了测试精度。
8、本技术结构简单、成本低廉、制作容易、使用方便并且适用于自动测试系统。
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1.一种基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,包括底板(1)和固定在底板(1)上的支柱(2)，其特征在于：还包括硅振荡器夹具(3)、选通电阻(4)和继电器(5)，底板(1)为双层PCB板，底板(1)上设置有电源接口(1.1)、示波器接口(1.2)、GND端(1.3)和V+端(1.4)，硅振荡器夹具(3)、选通电阻(4)和继电器(5)安装在底板(1)上，硅振荡器夹具(3)包括第一插槽(3.1)、第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)，第一插槽(3.1)、第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)分别与待测硅振荡器的V+引脚、GND引脚和CLOCK引脚配合，硅振荡器夹具(3)与底板(1)可拆卸连接，选通电阻(4)为两个以上，继电器(5)与选通电阻(4)一一对应，选通电阻(4)的两端通过相应的继电器(5)分别与第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)连接，第一插槽(3.1)的信号输出端与V+端(1.4)连接，数字示波器接口(1.2)的正、负端分别与第三插槽(3.3)和第二插槽(3.2)连接，示波器接口(1.2)与示波器的信号输入端连接，电源接口(1.1)与数字直流电源连接，万用表的两端分别
2.根据权利要求1所述的基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,其特征在于：所述选通电阻(4)为三个。
3.根据权利要求1或2所述的基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,其特征在于：所述示波器为数字示波器。
4.根据权利要求1或2所述的基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,其特征在于：所述万用表为数字万用表。
5.根据权利要求3所述的基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,其特征在于：所述万用表为数字万用表。
...【技术特征摘要】
1.一种基于自动测试系统的硅振荡器测试辅助装置,包括底板(1)和固定在底板(1)上的支柱(2)，其特征在于：还包括硅振荡器夹具(3)、选通电阻(4)和继电器(5)，底板(1)为双层pcb板，底板(1)上设置有电源接口(1.1)、示波器接口(1.2)、gnd端(1.3)和v+端(1.4)，硅振荡器夹具(3)、选通电阻(4)和继电器(5)安装在底板(1)上，硅振荡器夹具(3)包括第一插槽(3.1)、第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)，第一插槽(3.1)、第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)分别与待测硅振荡器的v+引脚、gnd引脚和clock引脚配合，硅振荡器夹具(3)与底板(1)可拆卸连接，选通电阻(4)为两个以上，继电器(5)与选通电阻(4)一一对应，选通电阻(4)的两端通过相应的继电器(5)分别与第二插槽(3.2)和第三插槽(3.3)连接，第一插槽(3.1)...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏述鑫，李先亚，宋芳，赵永兴，杨怡，李永梅，何康，全泓桥，刘珂，杨敏，
申请(专利权)人：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，
类型：新型
国别省市：
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