【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种检测器装置，所述检测器装置用于陶瓷砖或陶瓷厚板，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的检测器装置，所述检测器装置包括控制模块，所述控制模块布置成接收由所述相机(4)检测到的图像和/或视频，以处理接收到的图像，并且在一个或多个预定时刻识别布置在所述传送平面(T)上的砖(P)的边缘(Sa、Sv)上的所述检测线(31)的弯曲点(m1、m2、m3、m4)。
3.根据权利要求2所述的检测器装置，其中，所述控制模块布置成比较位置，并且测量所述检测线(31)的所述弯曲点(m1、m2、m3、m4)之间的距离。
4.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述激光束(3)的所述第一倾斜度(a1)不同于90°。
5.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述激光束(3)的所述第二倾斜度(a2)不同于90°。
6.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述纵向轴线(X)的所述倾斜度(b)不同于90°。
7.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述视锥(5)的所述纵向轴线(X)在所述搁
8.一种测量装置，所述测量装置用于测量陶瓷砖或陶瓷厚板的品质，所述测量装置包括：至少四个根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置(10)，布置在公共搁置平面(T)的同一侧上并且面对位于所述搁置平面(T)的同一侧上的检测空间(S)；以及控制模块，布置成接收由所述相机(4)检测到的图像和/或视频，以处理接收到的图像和/或视频，并且测量所述检测器装置(10)的所述检测线(31)的一些弯曲点(m1、m2、m3、m4)之间的距离。
9.一种检测方法，所述检测方法用于检测布置在搁置平面(T)上的砖(P)的大小和/或状态信息，所述砖包括至少一个边缘(E)，两个暴露边缘(Sv)和两个搁置边缘(Sa)在所述至少一个边缘(E)处接合，所述检测方法包括以下步骤：
10.根据权利要求9所述的方法，包括以下步骤：比较每个弯曲点的位置数据，和/或比较每个弯曲点的位置数据与所述砖(P)的虚拟模型的对应弯曲点的位置数据，以限定所述砖的质量和/或大小的重要状态信息。
11.根据权利要求9或10所述的方法，其特征在于，在所述检测线(31)与可见边缘(Sv)和所述搁置边缘(Sa)相交的时间间隔内的预设数量的不同时刻，重复所述方法。
12.一种用于测量陶瓷砖的品质的方法，所述陶瓷砖设置有两个以上拐角(v1、v2、v3、v4)，每个拐角包括边缘(E)，所述方法包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种检测器装置，所述检测器装置用于陶瓷砖或陶瓷厚板，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的检测器装置，所述检测器装置包括控制模块，所述控制模块布置成接收由所述相机(4)检测到的图像和/或视频，以处理接收到的图像，并且在一个或多个预定时刻识别布置在所述传送平面(t)上的砖(p)的边缘(sa、sv)上的所述检测线(31)的弯曲点(m1、m2、m3、m4)。
3.根据权利要求2所述的检测器装置，其中，所述控制模块布置成比较位置，并且测量所述检测线(31)的所述弯曲点(m1、m2、m3、m4)之间的距离。
4.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述激光束(3)的所述第一倾斜度(a1)不同于90°。
5.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述激光束(3)的所述第二倾斜度(a2)不同于90°。
6.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述纵向轴线(x)的所述倾斜度(b)不同于90°。
7.根据前述权利要求中的一项所述的检测器装置，其中，所述视锥(5)的所述纵向轴线(x)在所述搁置平面(t)上具有相对于所述纵向方向(y)的第二倾斜度(b2)，并且其中所述第二倾斜度(b2)不同于90°。
8.一种测量装置，所述测量装置用于测量陶瓷...
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