System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 水平度校验方法、终端和计算机可读存储介质技术_技高网

水平度校验方法、终端和计算机可读存储介质技术

技术编号:40139676 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-23 23:25
本发明专利技术公开了一种水平度校验方法、终端和计算机可读存储介质,通过获取当前扫描方向角的点云数据;从点云数据中提取多个特征物点集合;根据多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息;将多个扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到当前扫描方向角的水平度校验结果。通过对扫描所得的点云数据进行分割得到分别对应各个特征物的特征物点集合,对特征物点集合进行处理得到扫描特征物信息,当扫描平面水平时,扫描特征物信息应与预设特征物信息一致,基于此,将扫描特征物信息与预设特征物信息进行比对,从而得到水平度校验结果,由此保证水平度校验精度的前提下,简化了水平度校验流程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及但不限于激光雷达,特别是涉及一种水平度校验方法、终端 和计算机可读存储介质。


技术介绍

1、随着工业智能化,目前导航机器人越来越受到关注,现有的导航机器人一般通过搭载单 线激光雷达,激光发达发射激光束,并接受基于激光束返回的周边信息,由此感知周边环境 和障碍物信息,为机器人导航提供数据,然而,导航机器人搭载的一般是单线激光雷达,而 单线激光雷达的扫描区域是一个二维平面,在使用过程中,往往需要保持扫描平面与地面平 行才能正确感知周边环境障碍物,由此需要对单线激光雷达安装的水平度进行校验,而目前 常用的水平度校验方法要么校验精度低,场景限制大,要么校验过程复杂,操作难度大,即 目前常用单线激光雷达安装水平度校验方法难以兼顾校验精度和简化校验流程。


技术实现思路

1、以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

2、本专利技术实施例提供了一种水平度校验方法、终端和计算机可读存储介质,能够在保证校 验精度的前提下,简化激光雷达安装水平度校验的流程。

3、第一方面,本专利技术实施例提供了一种水平度校验方法,所述方法包括:获取当前扫描方 向角的点云数据;从所述点云数据中提取多个特征物点集合;根据所述多个特征物点集合得 到多个扫描特征物信息;将所述多个扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到当前 扫描方向角的水平度校验结果。

4、第二方面,本专利技术实施例提供了一种终端,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并 可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上 述第一方面所述的水平度校验方法。

5、第三方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存 储有计算机可执行程序,计算机可执行程序用于使计算机执行如上第一方面所述的水平度校 验方法。

6、本专利技术实施例包括:通过获取当前扫描方向角的点云数据;从点云数据中提取多个特征 物点集合;根据多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息;将多个扫描特征物信息与预设 特征物信息进行对比,得到当前扫描方向角的水平度校验结果。基于此,将扫描所得的点云 数据分割为多个特征物点集合,其中,每个特征物点集合可以分别对应每一个特征物,再根 据特征物点集合进行特征提取,由此得到多个扫描特征物信息,再将扫描特征物信息与预设 特征物的实际信息进行比对,当扫描平面水平时,扫描所得的特征物信息会还原出预设特征 物的实际信息,即当扫描特征物信息与预设特征物信息一致时,扫描平面水平,而当扫描特 征物信息与预设特征物信息不一致时,即说明扫描平面存在一定程度的倾斜。

7、本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而 易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书 以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

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【技术保护点】

1.一种水平度校验方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到当前扫描方向角的水平度校验结果之后,还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述点云数据中包括多个信号点以及每个所述信号点的空间坐标。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述扫描特征物信息包括所述扫描特征物的数量和所述扫描特征物的空间坐标,所述根据所述多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述点云数据还包括每个所述信号点的光强度,所述从所述点云数据中提取多个特征物点集合,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述扫描特征物信息还包括每个所述扫描特征物的长度,所述根据所述多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息,还包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预设特征物信息包括所述预设特征物的数量、所述预设特征物的长度、所述预设特征物的空间坐标,所述将所述扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到当前扫描方向角的水平度校验结果,包括:

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述点云数据中提取多个特征物点集合,还包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述扫描特征物信息还包括所述扫描特征物的形状特征,所述根据所述多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息,包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述将所述扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到水平度校验结果包括:

11.一种终端,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至10任意一项所述的水平度校验方法。

12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行程序,所述计算机可执行程序用于使计算机执行如权利要求1至10任意一项所述的水平度校验方法。

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【技术特征摘要】

1.一种水平度校验方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述扫描特征物信息与预设特征物信息进行对比,得到当前扫描方向角的水平度校验结果之后,还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述点云数据中包括多个信号点以及每个所述信号点的空间坐标。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述扫描特征物信息包括所述扫描特征物的数量和所述扫描特征物的空间坐标,所述根据所述多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述点云数据还包括每个所述信号点的光强度,所述从所述点云数据中提取多个特征物点集合,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述扫描特征物信息还包括每个所述扫描特征物的长度,所述根据所述多个特征物点集合得到多个扫描特征物信息,还包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预设特征物信息包括所述预设特征物的数量、所述预设特...

【专利技术属性】
技术研发人员:董鹏飞
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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