一种在时间测量系统中降低死时间的装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种在时间测量系统中降低死时间的装置，涉及时间测量技术领域。所述装置包括有延时链、高速采样时钟模块、事件获取模块、多个事件记录模块、低速处理时钟模块和事件组合模块，其中，所述事件获取模块用于在高速采样工作频率下周期性地对所述延时链进行采样处理以得到数据流，所述多个事件记录模块用于分别轮流记录来自所述事件获取模块的所述数据流，所述事件组合模块用于在低速处理工作频率下周期性地同步读取在所述多个事件记录模块中记录的多个所述数据流，并根据这多个所述数据流组合得到最终时间信息，如此可在达成低死时间目的同时通过以处理资源换时间方式来降低在FPGA布局布线时存在时序不能满足要求的风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于时间测量，具体涉及一种在时间测量系统中降低死时间的装置。

技术介绍

1、高精度时间测量技术在现代科学技术的诸多领域都需要被应用，例如电信通讯、激光测距和卫星定位等，尤其在物理学各领域中的应用更为广泛，诸如原子核物理、高能物理和医学影像物理等领域都离不开高精度时间测量技术。时间测量一般包括时间甄别和时间数字转换(time-to-digital converter，tdc)两部分。

2、目前，在时间测量系统中，有一个最重要的参数，叫死时间，就是设备记录一个计数脉冲后到再能记录一个新脉冲所需的最短时间，死时间的存在会导致探测器的计数结果出现误差，影响实验结果的准确性。死时间越短，可以记录的信息越多，系统性能越好，实验结果越准确，因此时间测量设备在研发过程中会尽可能的降低死时间。

3、在使用延时链进行时间测量过程中，要降低死时间，最简单直接的办法就是用更高速的时钟对延时链进行采样，然后再对采样所得的bit流(即由一串二进制位组成的且用于反映边沿跳变事件位置的数据流)进行处理，处理过程采用流水线方式，每个时钟都在处理当前采样到的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，包括有延时链、高速采样时钟模块、事件获取模块、N个事件记录模块、低速处理时钟模块和事件组合模块，其中，N表示大于等于2的正整数；

2.如权利要求1所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，所述延时链包括有依次串联的多个第一延时单元，所述事件获取模块包括有多个第一D触发器，其中，所述多个第一D触发器与所述多个第一延时单元一一对应；

3.如权利要求2所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，所述第一延时单元采用与门电路，其中，所述与门电路的第一输入端用于接入被测信号，所述与门电路的第二输入端用于...

【技术特征摘要】

1.一种在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，包括有延时链、高速采样时钟模块、事件获取模块、n个事件记录模块、低速处理时钟模块和事件组合模块，其中，n表示大于等于2的正整数；

2.如权利要求1所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，所述延时链包括有依次串联的多个第一延时单元，所述事件获取模块包括有多个第一d触发器，其中，所述多个第一d触发器与所述多个第一延时单元一一对应；

3.如权利要求2所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，所述第一延时单元采用与门电路，其中，所述与门电路的第一输入端用于接入被测信号，所述与门电路的第二输入端用于接入表示二进制数“1”的高电平信号，所述与门电路的输入端用于输出已延时的所述被测信号。

4.如权利要求2所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，在所述n个事件记录模块中的第一个事件记录模块包括有与所述多个第一d触发器一一对应的多个第二d触发器，并针对在所述多个第二d触发器中的各个第二d触发器，对应的输入端连接对应触发器的输出端，对应的时钟信号输入端连接所述低速处理时钟模块的时钟信号输出端；

5.如权利要求4所述的在时间测量系统中降低死时间的装置，其特征在于，所述第二延时单元包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：张帅，陈杰，
申请(专利权)人：上海星秒光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：