【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种探测器的位置检测工装，同时也涉及利用该位置检测工装的位置检测方法，还涉及包括该位置检测工装的ct系统，属于医疗器械。
技术介绍
1、ct(计算机断层扫描)技术发展至今，从起初的单排、双排等已发展到目前主流的32排、64排、128排等。目前，已有厂商推出了256排的ct系统。ct排数也就是其探测器的排数，探测器排数的提升是通过探测器z向物理像素的数量增加来实现。由于探测器排数的增加，探测器在z向的像素已经不能在一个探测器模块来是实现，往往需要多个探测器模块来拼接。另外，探测器在x向也是由多个探测器模块阵列排布组成，因此探测器的排列组装的安装位置精度就要求很高，如果探测器位置安装偏差加大，就会对重建后的图像质量有严重影响。
2、提高位置精度固然是必须要保证的，但是安装精度要求越高就会带来更多大的制造成本及时间成本。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的首要技术问题在于提供一种探测器的位置检测工装。
2、本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种探测器的位置检测方法。
3、本专利技术所要解决的又一技术问题在于提供一种ct系统。
4、为实现上述技术目的，本专利技术采用以下技术方案：
5、根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种探测器的位置检测工装，包括：
6、固定架，用于固定在ct扫描架的一侧；
7、定位部，设置于所述固定架的一侧，并呈预设形状；其中，所述预设形状与安装在ct扫描架上的
8、检测部，设置于所述定位部的外侧，并且所述检测部上均匀分布有多个检测位；其中，所述检测部用于与所述探测器模组相对应，以使每一个所述探测器模块均对应预设数量的检测位。
9、其中较优地，所述预设形状呈弧形或环形，并且所述定位部具有预设密度和预设强度，以使探测射线能够穿过所述定位部。
10、其中较优地，所述检测部为不透明钢带，所述多个检测位为均匀开设在所述不透明钢带上的多个预设大小的检测孔。
11、其中较优地，所述检测部为透明亚力克板，所述多个检测位为均匀设置在所述透明亚力克板上的多个预设大小的不透明钢珠。
12、其中较优地，所述检测部具有预设厚度，从而能够以弯曲的方式粘贴于所述定位部的外侧，并与所述探测器模组同心。
13、根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种利用上述位置检测工装检测探测器位置的方法，包括如下步骤：
14、利用射线源发射探测射线，以使探测射线经过所述位置检测工装并照射在探测器模组上；
15、获取所述探测器模组上形成的投影图像；
16、在所述投影图像中，对每一个探测器模块所对应的检测位进行中心点坐标提取；
17、基于预设的算法模型，对每一个探测器模块所对应的检测位进行中心点坐标的偏差计算；
18、基于每一个所述探测器模块所对应的偏差计算结果，计算出每一个所述探测器模块的实际位置与理想位置的偏移距离。
19、其中较优地，所述中心点坐标提取具体包括如下子步骤：
20、在预设坐标系内，针对每一个探测器模块所对应的检测位，获取所述检测位的中心点所在的x坐标和z坐标；
21、其中，所述预设坐标系以ct扫描架的旋转中心为圆心，以ct扫描架的旋转轴线为z轴，以垂直于所述z轴的水平方向作为x轴，以垂直于所述z轴的竖直方向作为y轴构建而成。
22、其中较优地，所述中心点坐标的偏差计算具体包括如下子步骤：
23、将射线源所在位置与探测器模组的理想中心相连形成第一连线，其中，所述第一连线与所述射线源的边缘射线共同确定所述第一夹角α；
24、将所述射线源的边缘射线照射在所述探测器模组的交点与所述探测器模组的理想中心相连形成第二连线；其中，所述射线源的边缘射线与所述第二连线共同确定第二夹角β；
25、将所述第一连线延长，以通过所述第一连线的延长线与所述第二连线共同确定第三夹角γ；
26、根据几何关系，通过下式计算中心点坐标的偏差；
27、
28、
29、β＝γ-α
30、所述中心点坐标的偏差offx≈(rd-rf)sinβ；其中，u表示探测器模块的弧长；rd表示探测器模组的半径；rf表示检测部的半径；sod表示射线源到坐标原点的距离。
31、其中较优地，所述方法还包括如下步骤：
32、基于每一个所述探测器模块的偏移距离，通过平移的方式对所述探测器模块进行位置校正。
33、根据本专利技术实施例的第三方面，提供一种ct系统，包括：
34、ct扫描架，所述ct扫描架包括定子部和转子部，所述转子部可转动地安装于所述定子部上，并且所述转子部上具有中心孔；
35、探测器模组，设置于所述转子部的中心孔内；
36、射线源，设置于所述转子部上，并朝向所述探测器模组，以用于发射探测射线；
37、上述位置检测工装，设置于所述转子部的一侧，以用于检测所述探测器模组的安装位置。
38、与现有技术相比较，本专利技术具有以下的技术效果：
39、1.位置检测工装结构简单、组装便利、加工成本较低，并且能够利用检测部上的多个检测位对探测器模块的位置进行精准检测，从而有利于优化患者图像的质量。
40、2.位置检测工装可拆卸地安装于ct扫描架上，以使得位置检测工装可重复利用，并且当探测器位置校正完毕后需拆卸掉工装，以免影响整机外罩的安装和整机的正常使用。
41、3.利用该位置检测工装对探测器模组进行位置调整的步骤简单，模型计算量较少，从而校正耗费时间较短，能够提高对探测器模组的位置调整效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种探测器的位置检测工装，其特征在于包括：
2.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
3.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
4.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
5.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
6.一种利用权利要求1～5中任意一项所述的位置检测工装检测探测器位置的方法，其特征在于包括如下步骤：
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于所述中心点坐标提取具体包括如下子步骤：
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于所述中心点坐标的偏差计算具体包括如下子步骤：
9.如权利要求6所述的方法，其特征在于还包括：
10.一种CT系统，其特征在于包括：
【技术特征摘要】
1.一种探测器的位置检测工装，其特征在于包括：
2.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
3.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
4.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
5.如权利要求1所述的位置检测工装，其特征在于：
6.一种利用权利要求1～5中任意一项所述的位...
【专利技术属性】
技术研发人员：王兴国，黄斯伟，崔志立，
申请(专利权)人：北京纳米维景科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。