UFS性能测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:40108727 阅读:21 留言:0更新日期:2024-01-23 18:50
本发明专利技术提供了一种UFS性能测试方法、装置及电子设备,包括:通过IO测试模型对待测试UFS设备进行顺序写测试,得到测试结果;根据测试结果,确定待测试UFS设备的增强器区域和待测试UFS设备的回收机制对应的回收时间;根据回收时间、增强器区域以及IO测试模型对应的IO大小以及队列深度,对待测试UFS设备进行性能测试,得到性能测试结果;根据性能测试结果,调整IO测试模型的IO大小以及队列深度得到更新后的IO大小以及更新后的队列深度;根据回收时间、增强器区域以及更新后的IO大小以及更新后的队列深度,对待测试UFS设备进行性能测试,得到更新后的性能测试结果。该方法可以提升UFS性能测试的精确度和测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储器测试,尤其是涉及一种ufs性能测试方法、装置及电子设备。


技术介绍

1、目前,对于ufs进行测试的方法主要包括以下两种方式:其一,基于使用ufs设备的移动平台,直接使用测试app对上述ufs设备进行跑分测试。其二,基于ufs设备的开发平台,接入ufs设备后将其作为裸盘进行读写性能测试。

2、现有技术存在下述缺点:使用移动平台的app直接进行跑分会严重受限于app本身的性能,io模型较为固定且测试项目较为单一,难以进行全面的深度测试。进一步的,现有的测试方法极度依赖测试人员的经验去调整性能测试的io模型,导致测试效率低。

3、整体而言,现有ufs性能测试方法存在测试结果的精确度较低且效率低的问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种ufs性能测试方法、装置及电子设备,以缓解现有技术的测试项目的单一性导致的测试结果不准确的现状以及依赖测试人员的经验去调整性能测试的io模型导致的效率低的现状,提升ufs性能测试的精确度的同时提升了测试效率。

2、第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种UFS性能测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的UFS性能测试方法,其特征在于,通过IO测试工具中预设的IO测试模型对待测试UFS设备进行顺序写测试的步骤之前,所述方法包括:

3.根据权利要求1所述的UFS性能测试方法,其特征在于,根据所述回收时间、所述增强器区域以及所述IO测试模型对应的IO大小以及队列深度,对所述待测试UFS设备进行性能测试,得到性能测试结果的步骤,包括:

4.根据权利要求3所述的UFS性能测试方法,其特征在于,根据所述性能测试结果,调整所述IO测试模型对应的IO大小以及队列深度,得到更新后的IO大小以及更新...

【技术特征摘要】

1.一种ufs性能测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的ufs性能测试方法,其特征在于,通过io测试工具中预设的io测试模型对待测试ufs设备进行顺序写测试的步骤之前,所述方法包括:

3.根据权利要求1所述的ufs性能测试方法,其特征在于,根据所述回收时间、所述增强器区域以及所述io测试模型对应的io大小以及队列深度,对所述待测试ufs设备进行性能测试,得到性能测试结果的步骤,包括:

4.根据权利要求3所述的ufs性能测试方法,其特征在于,根据所述性能测试结果,调整所述io测试模型对应的io大小以及队列深度,得到更新后的io大小以及更新后的队列深度的步骤之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的ufs性能测试方法,其特征在于,根据所述性能测试结果,调整所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗尚宏
申请(专利权)人:深圳市德明利技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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