接触针及检查用插座制造技术

本发明专利技术提供一种能够提高电性能和热性能的接触针及检查用插座。所述接触针包括：电接触部(110)，其具有导电性，在基端与顶端之间形成有从基端朝向顶端延伸并且在延伸方向上能够弹性地进行伸缩的弹性变形部(112)；热接触部(120)，其具有导电性，在基端与顶端之间形成有从基端朝向顶端延伸并且在延伸方向上能够弹性地进行伸缩的弹性变形部(122)；以及壳体(140)，其具有导电性，将以彼此相邻的方式层叠的电接触部(110)和热接触部(120)集束，壳体(140)以构成绕过弹性变形部(112、122)的路径的方式与电接触部(110)和热接触部(120)接触。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种接触针及一种检查用插座。

技术介绍

1、在qfp(quad flat package，方形扁平封装)或qfn(quad flat non-leadedpackage，方形扁平无引脚封装)等周边型ic封装体的背面中央部设置有被称为e-pad(exposed pad，裸焊盘)的接地用焊盘，有时通过使接触针与该e-pad电接触来实现接地、和/或通过使接触针与该e-pad热接触来进行散热。

2、由于不仅要求良好的散热性能和导电性能，而且对用于安装的空间也存在限制，所以该接触针以往采用探针式接触针(例如专利文献1)。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：日本特开2021-42974号公报

技术实现思路

1、但是，探针式接触针例如采用柱塞、筒及螺旋弹簧等3个以上的部件构成，由于采用内部接触点方式(柱塞的外周面与筒的内周面接触的方式)，所以需要提高电性能和/或热性能。

2、因此，本专利技术的目的在于提供一种接触针及检查用插座，能够提高本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种接触针，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的接触针，其特征在于：

3.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的接触针，其特征在于：

5.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

6.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

7.根据权利要求6所述的接触针，其特征在于：

8.根据权利要求7所述的接触针，其特征在于：

9.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

10.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

1...

【技术特征摘要】

1.一种接触针，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的接触针，其特征在于：

3.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的接触针，其特征在于：

5.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

6.根据权利要求1或2所述的接触针，其特征在于：

7.根据权利要求6所述的接触针，其特征在于：

8.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫明润一，
申请(专利权)人：山一电机株式会社，
类型：发明
国别省市：