【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种去除微纳结构中溶剂的方法,其特征在于步骤如下:(1)在基片上制作微纳结构,利用旋涂工艺在基片上旋涂光刻胶,然后采用光刻工艺在基片材料上得到所需高度的光刻胶结构,也可利用刻蚀工艺将光刻胶结构再转移到基片上,获得所需高度的基片材料微纳结构;(2)将完成漂洗的样品从溶剂中取出,样品上有微纳结构的面朝上,然后将基片放在样品上,使得基片材料上的微纳结构盖住样品上的微纳结构;或相反将基片有微纳结构的面朝上,然后将样品放在基片,使得基片材料上的微纳结构盖住样品上的微纳结构;(3)待溶剂挥发完后,将基片移开,完成辅助去除溶剂工艺,获得所需的微纳结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘刚,熊瑛,周杰,田扬超,
申请(专利权)人:中国科学技术大学,
类型:发明
国别省市:34[中国|安徽]
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