System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸_技高网

芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:40096376 阅读:6 留言:0更新日期:2024-01-23 17:00
本公开实施例公开了一种芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质,其中,方法包括:获取用户的调试信息;将调试信息发送至硬件模拟加速器中的调试控制器;向调试控制器发送调试控制命令,以使调试控制器执行调试控制命令,基于调试信息对硬件模拟加速器中的待测设计芯片进行调试。本公开实施例可以实现用户与待测设计芯片之间的数据交互,可以在不依赖模拟加速器的外部物理调试器和模拟加速器自带的波形查看工具的情况下,实现用户对待测设计芯片的调试,降低用户操作复杂度,提高用户调试的便捷性,从而提高调试效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及仿真技术,尤其是一种芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质


技术介绍

1、在基于硬件模拟加速器(emulator)平台对芯片进行仿真调试时,用户对芯片的寄存器传输级(register transfer level,简称:rtl)代码(可以称为待测设计芯片或dut)的调试,需要借助emulator外部的物理调试器或者emulator自带的波形查看工具,调试效率较低。


技术实现思路

1、为了解决上述调试效率较低等技术问题,本公开的实施例提供了一种芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质,以提高调试效率。

2、本公开的第一个方面,提供了一种芯片的调试方法,包括:获取用户的调试信息;将所述调试信息发送至硬件模拟加速器中的调试控制器;向所述调试控制器发送调试控制命令,以使所述调试控制器执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对所述硬件模拟加速器中的待测设计芯片进行调试。

3、本公开的第二个方面,提供了一种芯片的调试方法,包括:接收终端设备发送的调试信息;响应于获取到来自终端设备的调试控制命令,执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对待测设计芯片进行调试。

4、本公开的第三个方面,提供了一种芯片的调试装置,包括:获取模块,用于获取用户的调试信息;第一发送模块,用于将所述调试信息发送至硬件模拟加速器中的调试控制器;第二发送模块,用于向所述调试控制器发送调试控制命令,以使所述调试控制器执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对所述硬件模拟加速器中的待测设计芯片进行调试。

5、本公开的第四个方面,提供了一种芯片的调试装置,包括:接收模块,用于接收终端设备发送的调试信息;控制模块,用于响应于获取到来自终端设备的调试控制命令,执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对待测设计芯片进行调试。

6、本公开的第五个方面,提供一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行本公开上述第一个方面的实施例所述的芯片的调试方法。

7、本公开的第六个方面,提供一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;用于存储所述处理器可执行指令的存储器;所述处理器,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现本公开上述第一个方面的实施例所述的芯片的调试方法。

8、本公开的第七个方面,提供一种电子设备,所述电子设备包括:本公开上述第四个方面的实施例所述的芯片的调试装置。

9、本公开的第八个方面,提供了一种计算机程序产品,当所述计算机程序产品中的指令被处理器执行时,执行本公开上述第一个方面的实施例提供的芯片的调试方法。

10、基于本公开上述实施例提供的芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质,通过终端设备侧的软件控制程序与硬件模拟加速器侧的硬件调试控制器配合,可以实现为一个或多个用户提供芯片的在线实时调试功能,用户可以通过终端设备侧的软件控制程序将用户的调试信息和调试控制命令发送至硬件侧的调试控制器,从而通过调试控制器执行调试控制命令,控制对待测设计芯片的调试,既可以通过调试控制器向待测设计芯片写入调试需要的数据,又可以从待测设计芯片读取调试响应结果数据,实现用户与待测设计芯片之间的数据交互,可以在不借助模拟加速器的外部物理调试器和模拟加速器自带的波形查看工具的情况下,实现用户对待测设计芯片的调试,降低用户操作复杂度,提高用户调试的便捷性,从而提高调试效率。

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【技术保护点】

1.一种芯片的调试方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述向所述调试控制器发送调试控制命令,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述获取用户的调试信息,包括:

5.根据权利要求3所述的方法,其中,所述获取所述调试控制器读取到的所述待测设计芯片的状态信息,包括:

6.一种芯片的调试方法,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对待测设计芯片进行调试,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其中,在接收终端设备发送的调试信息之后,还包括:

9.根据权利要求7所述的方法,其中,所述执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对待测设计芯片进行调试,还包括:

10.根据权利要求7-9任一所述的方法,其中,所述确定所述调试控制命令的类型,包括:

11.一种芯片的调试装置,包括:

12.一种芯片的调试装置,包括:

13.根据权利要求12所述的装置,还包括:

14.根据权利要求12所述的装置,还包括:

15.根据权利要求12-14任一所述的装置,所述控制模块包括:

16.一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行上述权利要求1-5任一所述的芯片的调试方法。

17.一种电子设备,所述电子设备包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种芯片的调试方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述向所述调试控制器发送调试控制命令,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述获取用户的调试信息,包括:

5.根据权利要求3所述的方法,其中,所述获取所述调试控制器读取到的所述待测设计芯片的状态信息,包括:

6.一种芯片的调试方法,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述执行所述调试控制命令,基于所述调试信息对待测设计芯片进行调试,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其中,在接收终端设备发送的调试信息之后,还包括:

9.根据权利要求7所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张震
申请(专利权)人:地平线征程杭州人工智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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