系统板、老化测试系统以及老化测试设备技术方案

本申请公开了系统板、老化测试系统以及老化测试设备，系统板包括基板以及设置在基板上的控制单元、电源组件、激励产生组件以及检测组件，控制单元、电源组件、激励产生组件以及检测组件通过多个接口进行电连接；控制单元用于根据接收到的测试指令生成电源信号与配置信号，并将电源信号与配置信号分别输出至电源组件与激励产生组件；电源组件用于根据电源信号为系统板、转接板以及老化板提供工作电源；激励产生组件用于根据配置信号生成激励信号，并将激励信号输出至待测芯片；检测组件用于将接收到的待测芯片的输出信号传输至外部设备。本申请不仅能够降低系统板的研发成本与维护成本，还能够提高系统板的工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试，特别是涉及系统板、老化测试系统以及老化测试设备。

技术介绍

1、为了确保芯片的可靠性，在芯片出厂前必须进行老化(burn in)测试。老化测试是通过老化测试设备对待测芯片提供必要的激励信号，模拟芯片的工作状态，在高温或其他情况下让芯片超负荷工作而使其缺陷加速暴露，从而剔除有缺陷的芯片。

2、现有技术中，老化测试系统板是老化测试设备的核心部件，其作用是根据被测芯片的测试条件，产生相应的激励信号输出至被测芯片，并持续地监测芯片的输出信号(测试结果)，以根据被测芯片的输出信号做出相应的工作状态调整。

3、然而，现有的老化测试系统板通常为整体结构，没有模块化设计，集成度极高，导致系统板结构复杂，不易查错也不易维护，使得研发成本以及维护成本较高；同时由于修改一个功能单元往往涉及到整体的修改，因而兼容性也较差，无法灵活适应不同的测试环境，工作效率也较低。

技术实现思路

1、本申请主要解决的技术问题是提供系统板、老化测试系统以及老化测试设备，能够解决现有的老化测试系统板使用成本高本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种系统板，所述系统板通过转接板与放置在老化板上的待测芯片电性连接，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的系统板，其特征在于，

4.根据权利要求1～3任一项所述的系统板，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

8.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

9.一种老化测试系统，其特征在于，包括老化板、转接板以及如权利要求1～8中任一项...

【技术特征摘要】

1.一种系统板，所述系统板通过转接板与放置在老化板上的待测芯片电性连接，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的系统板，其特征在于，

4.根据权利要求1～3任一项所述的系统板，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的系统板，其特征在于，

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【专利技术属性】
技术研发人员：曾泉，何海平，苏鹏，
申请(专利权)人：天芯互联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：