基于sketch数据结构的长流测量方法技术

技术编号:40085518 阅读:24 留言:0更新日期:2024-01-23 15:23
本发明专利技术提供一种基于sketch数据结构的长流测量方法,包括:根据筛选计数器构造sketch数据结构;接收报文,根据报文更新sketch数据结构;根据更新后的sketch数据结构和预设长流阈值,筛选出长流,通过长流阈值筛选出长流,能够有效减小短流干扰的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及网络测量,具体而言,尤其涉及一种基于sketch数据结构的长流测量方法


技术介绍

1、网络测量在拥塞控制、ddos攻击、数据中心和骨干网中的异常检测等方面起到了必不可少的作用。长流是指在测量周期内所含报文数大于阈值的流。在网络流量中,包含少数报文的短流的数目非常庞大,而极少数的长流却包含了大量的报文。在进行网络测量时,需要重点关注长流,它可能是一系列问题的罪魁祸首。目前在网络测量中最普遍的检测方法是基于sketch的解决方案。sketch作为一种概率性的数据结构,相比较于传统的基于采样的解决方案,基于sketch的解决方案具有极其优秀的内存效率和较小的估计误差,同时具有更高效的速度和更准确的精度。这使得sketch被广泛应用于网络测量中。

2、在网络测量中,需要重点观察的往往只是数据流中的长流这一部分,因此当前大部分现有技术提出的测量方案中都选择了忽略短流而仅仅记录长流,这不可避免的带来了一个问题,那就是短流的存在往往会对长流的统计造成很大的干扰。

3、有鉴于此,本专利技术提出了一种基于sketch数据结构的长流测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,设计所述筛选计数器,包括:

3.根据权利要求2所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,根据所述筛选计数器构造所述sketch数据结构,包括:

4.根据权利要求3所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,根据所述报文更新所述sketch数据结构,包括:

5.根据权利要求4所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,若不存在所述第d单元数组存储有所述报文的...

【技术特征摘要】

1.一种基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,设计所述筛选计数器,包括:

3.根据权利要求2所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,根据所述筛选计数器构造所述sketch数据结构,包括:

4.根据权利要求3所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,根据所述报文更新所述sketch数据结构,包括:

5.根据权利要求4所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,若不存在所述第d单元数组存储有所述报文的流标识,采用第二哈希函数计算所述报文得到哈希值;

6.根据权利要求5所述的基于sketch数据结构的长流测量方法,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘卫江韩旭贾天宇
申请(专利权)人:大连海事大学
类型:发明
国别省市:

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