System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路制造技术_技高网
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一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路制造技术

技术编号:40083100 阅读:8 留言:0更新日期:2024-01-23 15:02
本发明专利技术公开了一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,包括AQC、时间窗生成电路、自恢复电路、子TDC、母TDC、相关探测电路、并转串电路。每个宏像素读出电路连接2x2SPAD,每个SPAD连接1个AQC,AQC淬灭被光子触发的SPAD后输出高电平,高电平经时间窗生成电路产生1个固定脉宽的脉冲,脉冲触发子TDC并启动相关探测来判断此次光子信息是否保留,如果保留则启动母TDC,否则复位子TDC并启动自恢复电路复位SPAD。该宏像素读出电路中子TDC测量不同SPAD探测到光子TOF的差模,母TDC测量TOF共模,在功耗和面积受限的情况下弥补传统相关探测导致的横向分辨率降低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电探测,尤其涉及一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路。


技术介绍

1、单光子雪崩二极管(single photon avalanche diode,简称spad),当前spad阵列读出电路向着低噪声方向发展,常见的低噪声技术有多回波探测技术、像素内直方图、相关探测技术。多回波探测技术需要在每个读出电路像素中放置多个存储器,所需面积大,且该方法数据量大,限制了在spad面阵中的应用。像素内直方图技术在片上实现数据预处理,由于片上数据处理资源有限,难以实现大面阵数据的实时处理,且不适用环境复杂的远距离探测。相关探测技术根据激光回波具有时空相关性,激光回波光子会在短时间内触发面阵上相邻的spad,而环境光噪声和暗计数是随机的,短时间内触发面阵上相邻spad的概率低。可以利用两者相关性的不同来滤除噪声。该技术基于包含多个spad的宏像素,通过判断宏像素在短时间内是否有多个spad被触发来判断探测到的光子是否是激光回波,该技术面积需求较小,且能够直接滤除无效噪声数据,减少了数据传输量,适用于面阵,但该技术以整个宏像素为单元来获取光子飞行时间(time of flight,tof),所得tof对应整个宏像素,不能分辨光子是由宏像素内哪个spad探测得到,因此损失了spad面阵的横向分辨率。


技术实现思路

1、专利技术目的:针对基于宏像素的相关探测技术降低spad面阵横向分辨率的问题,本专利技术提供了一种相关探测结合子母时间数字转换器(time-to-digital converter,tdc)的spad阵列宏像素读出电路,相比于传统的基于宏像素相关探测技术,在功耗和面积受限的前提下,分别获取宏像素内不同spad探测到光子的飞行时间,避免了spad面阵横向分辨率的损失。

2、技术方案:本专利技术的一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路,所述宏像素读出电路包括主动淬灭电路aqc、时间窗生成电路、自恢复电路、子时间数字转换器tdc、母时间数字转换器tdc、相关探测电路和并转串电路;

3、所述宏像素读出电路的输入端为主动淬灭电路aqc连接2x2单光子雪崩二极管spad的输出端,主动淬灭电路aqc的输出端连接时间窗生成电路和自恢复电路,时间窗生成电路的输出端连接子时间数字转换器tdc和相关探测电路,相关探测电路的输出端连接母时间数字转换器tdc和自恢复电路,自恢复电路的输出端连接主动淬灭电路aqc,子时间数字转换器tdc和母时间数字转换器tdc的输出端连接并转串电路,并转串电路作为所述宏像素读出电路的输出端将子时间数字转换器tdc和母时间数字转换器tdc的数据向外输出。

4、本专利技术的一种相关探测结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路的工作逻辑为:所述的像素读出电路在外部输入的门控曝光信号en为高时,进入曝光阶段,当spad检测到光子,spad被对应的aqc淬灭,aqc输出高电平给时间窗生成电路和自恢复电路,自恢复电路开始计时,时间窗生成电路产生固定脉宽的脉冲来触发子tdc进行计时,同时将脉冲输出到相关探测电路,再由相关探测电路判断是否有超过阈值数量的spad触发,如果有,则判断当前探测到的光子事件有效,子tdc立即停止计时,同时母tdc开始计时直至en变低电平,且自恢复电路停止计时;否则,子tdc立即停止计时并立刻复位该子tdc,并且自恢复电路保持计时,经过hold-off时间后将对应spad复位至盖革区。当en变为低电平时,将子母tdc模块内的光子飞行时间数据通过并转串电路传输到宏像素外。

5、进一步的,所述主动淬灭电路aqc包括反馈电路和电平转换电路,当外部输入的rec信号为高时,淬灭电路aqc将单光子雪崩二极管spad的阳极下拉至低电位,使单光子雪崩二极管spad复位至盖革区,当单光子雪崩二极管spad被光子触发时,spad产生雪崩电流,雪崩电流给spad阳极节点寄生电容充电,使spad阳极电位开始抬升,淬灭电路aqc的正反馈回路加速了spad阳极电位的抬升,将单光子雪崩二极管spad的阳极上拉至高电平,使单光子雪崩二极管spad淬灭,并将高电压的模拟高电平转换为低电压的数字高电平。

6、进一步的,所述时间窗生成电路为压控单稳态电路,压控单稳态电路连接延迟锁相环dll,当所述主动淬灭电路aqc输出高电平时,对应连接的时间窗生成电路产生一个脉宽可调的高电平脉冲,脉冲宽度由外部输入的模拟电压vwin控制,模拟电压vwin由像素阵列外围的延迟锁相环dll产生,生成的脉冲输出到子时间数字转换器tdc和相关探测电路。

7、进一步的,所述相关探测电路为组合逻辑电路,输入为时间窗生成电路的输出,输出是相关探测判断信号valid;从外部输入的控制信号set0、set1控制相关探测的判断阈值数,判断阈值数设置为1~4,当有满足阈值数量的脉冲在时间上交叠,相关探测电路的输出valid跳变为高电平,如果没有满足阈值数量,则相关探测电路的输出valid保持低电平。

8、进一步的,所述子时间数字转换器tdc包括4位的相位内插型tdc和3位的计数型tdc,时间窗生成电路输出的脉冲触发子时间数字转换器tdc进行时间间隔量化,若在脉冲结束前相关探测电路输出valid跳变为高电平,则子时间数字转换器tdc停止时间间隔量化并保持数据;若在脉冲结束时相关探测电路输出valid保持为低电平,则子时间数字转换器tdc停止时间间隔量化并立即复位。相位内插型tdc在时间窗生成电路输出脉冲的时刻采样外部输入的多相时钟的相位。计数型tdc在时间窗生成电路输出脉冲的时刻开启,在脉冲结束前相关探测电路输出valid跳变为高电平或在脉冲结束时相关探测电路输出valid保持为低电平,则计数型tdc关闭,这个时间间隔内计数型tdc计数外部输入时钟的周期数。

9、进一步的,所述母时间数字转换器tdc为高段10位计数型tdc,若相关探测电路输出valid跳变为高电平,则母时间数字转换器tdc进行时间间隔量化至外部输入的曝光窗信号en跳低;若相关探测电路输出valid保持为低电平,母时间数字转换器tdc不进行时间间隔量化。

10、进一步的,所述自恢复电路包括cmos传输门a、cmos传输门b、计数器、单稳态电路和电平转换电路;所述cmos传输门a连接cmos传输门b,cmos传输门b连接计数器,计数器连接单稳态电路,单稳态电路连接电平转换电路;所述自恢复电路的输出与所述主动淬灭电路aqc相连,控制spad的自恢复,外部输入的时钟clk_dead连接到所述自恢复电路的cmos传输门a,当外部输入的曝光窗信号en跳变为高电平时,cmos传输门a导通,当spad被触发时,cmos传输门b被导通,外部输入的时钟clk_dead传输到计数器,计数器开始计数,若相关探测电路输出vaild跳变为高电平,则总cmos传输门关闭,计数器停止计数,若相关探测电路输出valid保持低电平,则计数器会计数至预设值并输出高电平,进而触发单稳态电路生成1个脉宽可调的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述宏像素读出电路包括主动淬灭电路AQC、时间窗生成电路、自恢复电路、子时间数字转换器TDC、母时间数字转换器TDC、相关探测电路和并转串电路;

2.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述主动淬灭电路AQC包括反馈电路和电平转换电路;当外部输入的REC信号为高时,主动淬灭电路AQC将单光子雪崩二极管SPAD的阳极下拉至低电位,使单光子雪崩二极管SPAD复位至盖革区,当单光子雪崩二极管SPAD被光子触发时,SPAD产生雪崩电流,雪崩电流给SPAD阳极节点寄生电容充电,使SPAD阳极电位开始抬升,主动淬灭电路AQC的正反馈回路加速SPAD阳极电位的抬升,将单光子雪崩二极管SPAD的阳极上拉至高电平,使单光子雪崩二极管SPAD淬灭,并将高电压的模拟高电平转换为低电压的数字高电平。

3.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述时间窗生成电路为压控单稳态电路,压控单稳态电路连接延迟锁相环DLL,当所述主动淬灭电路AQC输出高电平时,对应连接的时间窗生成电路产生脉宽可调的高电平脉冲,脉冲宽度由外部输入的模拟电压VWIN控制,模拟电压VWIN由像素阵列外围的延迟锁相环DLL产生,生成的脉冲输出到子时间数字转换器TDC和相关探测电路。

4.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述相关探测电路为组合逻辑电路,输入为时间窗生成电路的输出,输出是相关探测判断信号VALID;从外部输入的控制信号SET0、SET1控制相关探测的判断阈值数,判断阈值数设置为1~4,当有满足阈值数量的脉冲在时间上交叠,相关探测电路的输出VALID跳变为高电平,如果没有满足阈值数量,则相关探测电路的输出VALID保持低电平。

5.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述子时间数字转换器TDC包括4位的相位内插型TDC和3位的计数型TDC,时间窗生成电路输出的脉冲触发子时间数字转换器TDC进行时间间隔量化,若在脉冲结束前相关探测电路输出VALID跳变为高电平,则子时间数字转换器TDC停止时间间隔量化并保持数据;若在脉冲结束时相关探测电路输出VALID保持为低电平,则子时间数字转换器TDC停止时间间隔量化并立即复位。

6.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述母时间数字转换器TDC为高段10位计数型TDC,若相关探测电路输出VALID跳变为高电平,则母时间数字转换器TDC进行时间间隔量化至外部输入的曝光窗信号EN的高电平结束;若相关探测电路输出VALID保持为低电平,母时间数字转换器TDC不进行时间间隔量化。

7.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母TDC的SPAD阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述自恢复电路包括CMOS传输门A、CMOS传输门B、计数器、单稳态电路和电平转换电路;所述CMOS传输门A连接CMOS传输门B,CMOS传输门B连接计数器,计数器连接单稳态电路,单稳态电路连接电平转换电路;所述自恢复电路的输出与所述主动淬灭电路AQC相连,控制SPAD的自恢复,外部输入的时钟CLK_DEAD连接到所述自恢复电路的CMOS传输门A,当外部输入的曝光窗信号EN跳变为高电平时,CMOS传输门A导通,当SPAD被触发时,CMOS传输门B被导通,外部输入的时钟CLK_DEAD传输到计数器,计数器开始计数,若相关探测电路输出VAILD跳变为高电平,则总CMOS传输门关闭,计数器停止计数,若相关探测电路输出VALID保持低电平,则计数器会计数至预设值并输出高电平,进而触发单稳态电路生成1个脉宽可调的高电平脉冲,该高电平脉冲输出到所述的主动淬灭电路AQC,使对应SPAD复位到盖革区。

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【技术特征摘要】

1.一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述宏像素读出电路包括主动淬灭电路aqc、时间窗生成电路、自恢复电路、子时间数字转换器tdc、母时间数字转换器tdc、相关探测电路和并转串电路;

2.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述主动淬灭电路aqc包括反馈电路和电平转换电路;当外部输入的rec信号为高时,主动淬灭电路aqc将单光子雪崩二极管spad的阳极下拉至低电位,使单光子雪崩二极管spad复位至盖革区,当单光子雪崩二极管spad被光子触发时,spad产生雪崩电流,雪崩电流给spad阳极节点寄生电容充电,使spad阳极电位开始抬升,主动淬灭电路aqc的正反馈回路加速spad阳极电位的抬升,将单光子雪崩二极管spad的阳极上拉至高电平,使单光子雪崩二极管spad淬灭,并将高电压的模拟高电平转换为低电压的数字高电平。

3.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述时间窗生成电路为压控单稳态电路,压控单稳态电路连接延迟锁相环dll,当所述主动淬灭电路aqc输出高电平时,对应连接的时间窗生成电路产生脉宽可调的高电平脉冲,脉冲宽度由外部输入的模拟电压vwin控制,模拟电压vwin由像素阵列外围的延迟锁相环dll产生,生成的脉冲输出到子时间数字转换器tdc和相关探测电路。

4.根据权利要求1所述的一种相关探测技术结合子母tdc的spad阵列宏像素读出电路,其特征在于,所述相关探测电路为组合逻辑电路,输入为时间窗生成电路的输出,输出是相关探测判断信号valid;从外部输入的控制信号set0、set1控制相关探测的判断阈值数,判断阈值数设置为1~4,当有满足阈值数量的脉冲在时间上交叠,相关探测电路的输出valid跳变为高电平,如果没有满足阈值数量,则相关探测电路的输出valid保持低电平。

5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:万成功吴金郑丽霞孙伟锋
申请(专利权)人:东南大学
类型:发明
国别省市:

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