荧光相关光谱设备和方法技术

技术编号:4008304 阅读:165 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种荧光相关光谱设备和方法,对于检测样品中所包含的共存的各组分的存在比时通过FCS的测量,所述荧光相关光谱设备和方法能够尽可能减少对照样品的荧光测量次数。在本发明专利技术的用于通过FCS检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的各组分的存在比的设备和方法中,基于在不同测量条件等下各组分的平移扩散时间的比保持不变的知识,采用各组分的平移扩散时间的比的值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用荧光相关光谱法(FCS)的荧光分析设备和荧光分析方法,更 具体地,涉及一种通过FCS来进行例如蛋白质、肽、核酸、类脂、糖链、氨基酸和其它生物分 子等各种分子的相互作用、结合和/或离解状态的检测和分析的设备和方法。
技术介绍
根据近年来光学测量技术的发展,已可利用能够以分子水平测量和分析荧光的荧 光相关光谱法(FCS)(非专利文献1和2)。简言之,在FCS中,通过使用激光共聚焦显微镜 以及能够光子计数(单光子检测)的超高敏感光子检测装置的光学系统,测量来自通过溶 液样品中的微区域(称为“共聚焦体积”,显微镜的激光光束会聚的聚焦区域)的例如荧光 分子、荧光标记分子等荧光粒子的荧光强度,然后,计算所得到的荧光强度的自相关函数。 可以将自相关函数认为是来自荧光粒子的荧光强度涨落的指数,并且荧光强度的涨落对应 于微区域中荧光粒子数量的涨落,因此,在自相关函数的值中,反映了微区域中荧光粒子的 平均停留时间(平移扩散时间)和荧光粒子的平均停留数量(粒子平均数量)。结果,自 相关函数的值提供了关于荧光分子的运动速度、尺寸和浓度等的信息,并且基于该信息,可 以检测例如分子的结构本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种荧光相关光谱设备,其能够检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比,所述设备包括:数据存储区,其存储所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值;以及检测部,其使用所存储的所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值,由用所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:山口光城
申请(专利权)人:奥林巴斯株式会社
类型:发明
国别省市:JP

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