一种光源发光特性测量系统技术方案

技术编号:40078386 阅读:29 留言:0更新日期:2024-01-17 01:59
本发明专利技术涉及一种光源发光特性测量系统,应用于气体放电灯技术领域,包括:通过设置光源以及流体换热管,将待测量的光源设置在流体换热管内,同时在流体换热管的内壁上设置表面温度探头,测量流体换热管的壁面温度T1,将温度可控的循环流体进入到流体换热管内部进行循环流动,为所述流体换热管内的光源提供外界环境温度,改变所述流体换热管的壁面温度T1,通过光强检测装置获取不同壁面温度T1、不同功率所对应的光强Q,绘制温度‑功率‑光强曲线,根据所述温度‑功率‑光强曲线得到光源适宜的工作范围,通过精巧的装置设计即可实现改变壁面温度,通过电控改变光源功率,从而模拟光源工作的不同环境,获取到该光源温度‑功率‑光强特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及气体放电灯,具体涉及一种光源发光特性测量系统


技术介绍

1、气体放电灯是重要的一类人工光源,一般其工作时受到环境条件的明显影响,特别如温度,影响到其内部的工作气压,进而影响其工作效率。具体如低压汞灯,工作温度范围较窄,单纯依赖风冷散热往往难以工作在最佳状态,也缺乏宽的动态测试范围;大功率光源的汞蒸气压与壁面温度密切相关,而壁面温度受制于光源的散热方式,需要有效控制以便进行更精准的发光特性测量。也便于明晰光源的工作要求,提高其发光效率和总辐射通量。目前有些厂家将光源置于冷风气流中,或者接外套管置于水流中进行测试,都与真实的壁面温度有较大差距,难以明确其实际工作条件,环境条件发生变化后,会严重影响其光效;

2、《cn202680017545.7直接冷却低压汞齐灯中的汞齐沉积物》,提供了一种直接冷却汞齐点的低压汞齐灯带光源的结构。该方法一定程度上提高了汞齐灯的功率密度,但是对外部环境要求苛刻(水温不宜超过20℃),如果外部水温较高,汞齐点的温度仍然很高,无法处于合理工作温度下工作。

3、《cn201780066299-具有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光源发光特性测量系统,其特征在于,所述系统包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,

6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种光源发光特性测量系统,其特征在于,所述系统包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘欢王诗义
申请(专利权)人:北京泊菲莱科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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