【技术实现步骤摘要】
本公开属于无线通信，具体涉及一种液晶相控阵天线的校准测试方法及校准测试设备。
技术介绍
1、随着无线通信技术的发展，天线的种类也越来越多。液晶相控阵天线以其较为灵活的扫描方式等优势，已经成为无线通信领域的重要研发方向之一。液晶相控阵天线利用液晶层中液晶的介电各向异性，通过传输线给液晶层提供偏转电压，控制液晶偏转方向来改变移相器的移相大小，从而调节相控阵天线的对准方向的天线。
2、目前的液晶相控阵天线通过偏转电压控制移相器的相位变化，如果测试探头的尺寸太小，会使得波导截止频率增加，有肯使得截止频带落在天线工作频带范围，影响测试结果准确性。在对液晶相控阵天线进行测试校准时，测试探头每次会罩住多个天线单元，这样不能提取出单个天线单元的幅相特性，影响液晶相控阵天线的校准测试精度。
技术实现思路
1、本公开旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种液晶相控阵天线的校准测试方法及校准测试设备。
2、第一方面，本公开实施例提供了一种液晶相控阵天线的校准测试方法，所述液晶相控阵天线包括：阵列排布的n个天线单元，n为正整数，所述液晶相控阵天线的校准测试方法包括：
3、将所述液晶相控阵天线放置于放置平台上；
4、将测试探头对准待测天线单元及其周围的多个天线单元；
5、向所述待测天线单元下发m次驱动电压，并控制所述待测天线单元周围的多个天线单元的驱动电压不变，其中，每次下发的所述驱动电压不同；m为正整数；
6、读取所述待测天
7、对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位。
8、可选地，所述对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，包括：
9、对m个反射系数的幅度和相位进行计算，获得m组第一数值和第二数值；
10、将m组第一数值和第二数值为坐标绘制在二维坐标系中，形成m个坐标点；
11、对所述m个坐标点进行拟合形成拟合圆，并获取所述拟合圆的中心坐标；
12、根据m组第一数值和第二数值及所述拟合圆的中心坐标，获得m组第三数值和第四数值；
13、根据m组第三数值和第四数值，计算所述待测天线单元的绝对相位。
14、可选地，对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，之后还包括：
15、将所述测试探头逐个对准其他待测天线单元及其周围的多个天线单元；
16、根据其他待测天线单元的m个反射系数的幅度和相位，获取其他待测天线单元的绝对相位。
17、可选地，将所述测试探头逐个对准其他待测天线单元及其周围的多个天线单元，包括：
18、控制所述测试探头按照预设规则进行移动。
19、可选地，将所述液晶相控阵天线放置于放置平台上，之前还包括：
20、将金属板放置于放置平台上所述液晶相控阵天线所放置位置；
21、将所述自动化扫描架所在的平面进行校平；
22、读取所述金属板的反射系数的幅度和相位；
23、根据所述金属板的反射系数的幅度和相位，对所述测试探头的损耗和相位进行校准。
24、第二方面本公开实施例提供了一种液晶相控阵天线的校准测试设备，所述液晶相控阵天线的校准测试设备包括：放置平台、测试探头、电压下发控制板、矢量网络分析仪和数据处理仪；
25、所述放置平台被配置为放置所述液晶相控阵天线；
26、所述测试探头被配置为对阵待测天线及其周围的多个天线单元；
27、所述电压下发控制板被配置为向所述待测天线单元下发m次驱动电压，并控制所述待测天线单元周围的多个天线单元的驱动电压不变，其中，每次下发的所述驱动电压不同；m为正整数；
28、所述矢量网络分析仪与所述测试探头连接，被配置为读取所述待测天线单元及所述待测天线单元周围的多个天线单元对应的m个反射系数的幅度和相位；
29、所述数据处理仪与所述矢量网络分析仪连接，被配置为对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位。
30、可选地，所述液晶相控阵天线的校准测试设备还包括：自动化扫描架；
31、所述自动化扫描架与所述测试探头连接，被配置为控制所述测试探头按照预设规则进行移动。
32、可选地，所述自动化扫描架包括：控制模块及机械臂；
33、所述控制模块与所述机械臂连接，所述机械臂与所述测试探头连接。
34、可选地，所述测试探头的尺寸大于所述待测天线单元的尺寸。
35、可选地，所述测试探头与所述待测天线单元之间的距离小于或等于波长的十分之一。
36、可选地，所述测试探头包括：脊波导喇叭天线。
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1.一种液晶相控阵天线的校准测试方法，所述液晶相控阵天线包括：阵列排布的N个天线单元，N为正整数，其特征在于，所述液晶相控阵天线的校准测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，所述对M个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，包括：
3.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，对M个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，之后还包括：
4.根据权利要求3所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，将所述测试探头逐个对准其他待测天线单元及其周围的多个天线单元，包括：
5.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，将所述液晶相控阵天线放置于放置平台上，之前还包括：
6.一种液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在于，所述液晶相控阵天线的校准测试设备包括：放置平台、测试探头、电压下发控制板、矢量网络分析仪和数据处理仪；
7.根据权利要求6所述的液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在
8.根据权利要求7所述的液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在于，所述自动化扫描架包括：控制模块及机械臂；
9.根据权利要求6所述的液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在于，所述测试探头的尺寸大于所述待测天线单元的尺寸。
10.根据权利要求6所述的液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在于，所述测试探头与所述待测天线单元之间的距离小于或等于波长的十分之一。
11.根据权利要求6所述的液晶相控阵天线的校准测试设备，其特征在于，所述测试探头包括：脊波导喇叭天线。
...【技术特征摘要】
1.一种液晶相控阵天线的校准测试方法，所述液晶相控阵天线包括：阵列排布的n个天线单元，n为正整数，其特征在于，所述液晶相控阵天线的校准测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，所述对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，包括：
3.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，对m个反射系数的幅度和相位进行数据处理，获取所述待测天线单元的绝对相位，之后还包括：
4.根据权利要求3所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，将所述测试探头逐个对准其他待测天线单元及其周围的多个天线单元，包括：
5.根据权利要求1所述的液晶相控阵天线的校准测试方法，其特征在于，将所述液晶相控阵天线放置于放置平台上，之前还包括：
6.一种液晶相控...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨芫茏，方家，车春城，庞净，曲峰，卫盟，陈胜，苏雪嫣，葛良荣，赵云璋，李远付，张志锋，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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