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延迟自适应校准方法及装置、校准电路制造方法及图纸

技术编号:40058363 阅读:30 留言:0更新日期:2024-01-16 22:17
延迟自适应校准方法及装置、校准电路,涉及集成电路技术领域。为解决现有技术中存在的,现有延时校准技术校准算法复杂,资源开销较大,只适用于单个异步ADC的延时校准的技术问题,本发明专利技术提供的技木方案为:延迟自适应校准方法,方法包括:对采集到的采样时钟信号进行分频,生成分频信号;并生成多相时钟;将每个多相时钟与对应的原始采样时钟信号进行与操作,得到输出信号,作为粗校准使能和细校准使能;在检测到粗校准使能或细校准使能时,通过开关控制逐渐减小信号的延时;当待检测信号的电压达到预设高电平阈值时,对当前开关控制信号进行锁存;完成其他时钟信号的校准的步骤六。应用于列级异步ADC延迟自适应校准工作中。

【技术实现步骤摘要】

涉及集成电路,具体涉及异步逻辑模数转换器。


技术介绍

1、目前,异步逻辑模数转换器在既能保持低功耗和较小面积的同时,可以达到较高的精度和速度。这些特点使得异步逻辑adc有着较为广泛的应用场景,在模数转换器领域中备受关注。

2、adc可以根据所使用的时钟分为同步逻辑adc和异步逻辑adc。异步逻辑adc使用内部生成的异步多相位时钟作为比较器和逻辑的时钟。该时钟受到内部比较速度的影响。然而,在中等速度下,异步adc需要插入额外的延迟模块来控制转换时间并降低参考缓冲器的建立要求。因此,异步adc对整个延迟模块的延迟时间存在一定的要求。

3、在异步adc中,每个比特的转换阶段的响应时间可能会因为pvt(工艺、电压和温度)变化而产生差异。具体而言,有几个方面需要考虑:首先是工艺方面的问题,工艺参数的变化会导致比较器的速度和延时单元的延时时间发生变化;其次,电源电压的波动会导致每个比特阶段的电流和电压不稳定,进而影响转换时间的波动;此外,在芯片工作时,环境温度的变化也会对性能产生影响,例如温度升高会导致比较器响应时间缩短以及延时模块延时减少。这本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.延迟自适应校准方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述采样时钟信号,经过N分频后,生成占空比为50%的分频信号。

3.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述方法的初始化信号通过全局复位信号RST_N控制复位。

4.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述多相时钟通过异或门生成。

5.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述相位改变步骤和锁存步骤具体为:每次粗校准或细校准使能到来时,开关控制信号改变,延时逐渐减小,待检测信号的相位改变,...

【技术特征摘要】

1.延迟自适应校准方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述采样时钟信号,经过n分频后,生成占空比为50%的分频信号。

3.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述方法的初始化信号通过全局复位信号rst_n控制复位。

4.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述多相时钟通过异或门生成。

5.根据权利要求1所述的延迟自适应校准方法,其特征在于,所述相位改变步骤和锁存步骤具体为:每次粗校准或细校准使能到来时,开关控制信号改变,延时逐渐减小,待检测信号的相位改变,当检测信号的电压达到预设高电平阈值时,开关...

【专利技术属性】
技术研发人员:虞致国张耀顾晓峰
申请(专利权)人:江南大学
类型:发明
国别省市:

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