【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及x射线吸收谱，更具体地涉及一种用于硬x射线波段实验室谱仪的光学标定测量方法。
技术介绍
1、x射线吸收谱是随着同步辐射装置的发展而成熟起来的实验技术，是研究物质结构重要的方法之一，能够在固态、液态等多种条件下研究原子近邻局域结构，被广泛地应用于材料、生物、化学、环境和地质学等诸多领域。
2、专利技术人所在课题组于2022年12月30日提出了一项中国专利申请，其申请号为zl202211733446.6，其中公开了一种实验室谱仪，将x射线源固定在基座上，通过运动组件使球面弯晶、样品和探测器运动，从而使x射线源、球面弯晶和样品始终在罗兰圆上，由于x射线源无需移动，因此光路稳定。
3、但是，由于测量硬件在加工和设备组装过程中必然会产生一定的误差和不确定度，罗兰圆构型因为此类误差也会进而出现变形或扭曲等问题，从而导致该实验室谱仪的采谱准确性必然在一定程度上受到影响。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种用于硬x射线波段实验室谱仪的光学标定测量方法，从而解...
【技术保护点】
1.一种用于硬X射线波段实验室谱仪的光学标定测量方法，所述实验室谱仪包括：X射线装置(100)、探测器(200)、第一位移台(300)、第二位移台(400)、球面弯晶(500)、样品组件(600)以及基座(700)，其特征在于，所述光学标定测量方法依次包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光学标定测量方法，其特征在于，步骤S1包括：利用光学测量臂在所述X射线装置(100)的侧面构建拟合出第一平面，沿第一方向向X射线装置(100)内部位移一定距离到达光源点，构建出第二平面；利用光学测量臂在X射线装置(100)的背面构建拟合出第三平面，沿第二方向向X射线装置...
【技术特征摘要】
1.一种用于硬x射线波段实验室谱仪的光学标定测量方法，所述实验室谱仪包括：x射线装置(100)、探测器(200)、第一位移台(300)、第二位移台(400)、球面弯晶(500)、样品组件(600)以及基座(700)，其特征在于，所述光学标定测量方法依次包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光学标定测量方法，其特征在于，步骤s1包括：利用光学测量臂在所述x射线装置(100)的侧面构建拟合出第一平面，沿第一方向向x射线装置(100)内部位移一定距离到达光源点，构建出第二平面；利用光学测量臂在x射线装置(100)的背面构建拟合出第三平面，沿第二方向向x射线装置(100)内部位移一定距离，到达光源点，构建出第四平面；利用光学测量臂在x射线装置(100)的顶面构建拟合出第五平面，底面构建拟合出第六平面，沿第三方向向x射线装置(100)内部位移一定距离，在第五平面与第六平面之间构建出第七平面；最后将所构建的第二平面、第四平面和第七平面相交于一点得到第一点，即为该x射线装置(100)的x射线光源点。
3.根据权利要求2所述的光学标定测量方法，其特征在于，步骤s2包括：以第一位移台(300)的背板(320)为第八平面，标定x射线装置(100)的第三平面与该第八平面之间存在的夹角，是否与x射线装置(100)所射出的x射线与x射线装置(100)的第一平面的夹角所相等，实现对所述x射线装置(100)安装角度的标定；
4.根据权利要求3所述的光学标定测量方法，其特征在于，步骤s3包括：通过第一位移台(300)沿导轨方向的不断移动，通过拟合的方式，确定第五方向，再通过第一位移台(300)两侧导轨(321)、导轨(322)内侧的第十平面和第十一平面，沿第四方向取第十平面与第十一平面的中心面为第十二平面，将第十二平面在第五方向上的位置定义为第一位移台(300)所在的轴线(301)；
5.根据权利要求4所述的光学标定测量方法，其特征在于，步骤s4包括：对球面弯晶(500)的晶体安装座(510)内沿圆柱面多次取点，拟合出晶体安装座(510)内沿第一圆柱面，并依靠第一圆柱面拟合其中心轴线(501)；晶体安装座(510)的前端面第十六平面，沿第九方向向球面弯晶500内部位移一定距离，该距离值与球面弯晶和晶体安装座构造有关，获得第十七平...
【专利技术属性】
技术研发人员：张林娟，王建强，于海生，郭耀天，钱晓旭，李松，王潇然，朱健秋，吴佳兴，
申请(专利权)人：中国科学院上海应用物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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