【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学薄膜的耐磨检测结构，尤其涉及一种光学薄膜耐久度检测设备。
技术介绍
1、光学薄膜指的是附著在光学器件表面的厚度薄而均匀的介质膜层，在光的传播路径过程中，可以通过多层介质膜层的反射、透（折）射和偏振等特性，能够实现使某一或多个波段范围内的光全部透过、使光全部反射、使光偏振分离等功能。
2、其中，光学薄膜的耐磨性能是人们重点关注的性能，是判断光学器件好坏的重要因素；现有技术中，主要通过细砂、金刚砂等材料制成的磨块对光学器件上的光学薄膜进行摩擦，再通过人工或视觉检测等手段对光学薄膜进行观察，以验证其耐磨性能。
3、当前，耐磨性能检测装置主要包括直线驱动组件、安装治具和磨块，安装治具上通常安装有贴附有光学薄膜的光学器件，通过直线驱动组件带动安装治具相对于磨块移动，使得光学薄膜相对于磨块移动，进行耐磨测试。上述方案中，如果需要磨块与光学薄膜之间产生其他形式的相对运动，如旋转等，则往往需要增加其他动力源，例如增加旋转电机带动安装治具转动，导致整体的成本较高。因此，如何以较低的成本提高光学薄膜耐磨检测的丰富性...
【技术保护点】
1.一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，包括待测工位，检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座（100）、第二检测底座（200）、第三检测底座（300）及加压件（500），所述待测工位用于放置配置有多个检测槽（401）的待测治具（400）；
2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘（110）上的齿圈件（130），所述齿圈件（130）的外圈配置有外齿（131）；
3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件（121）上...
【技术特征摘要】
1.一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，包括待测工位，检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座（100）、第二检测底座（200）、第三检测底座（300）及加压件（500），所述待测工位用于放置配置有多个检测槽（401）的待测治具（400）；
2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘（110）上的齿圈件（130），所述齿圈件（130）的外圈配置有外齿（131）；
3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件（121）上的第一楔块（311）和连接于所述第二摩擦件（122）上的第二楔块（312）；
4.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述转动盘（110）沿所述第一方向开设有滑槽（111）；所述滑槽（111）的一侧安装有第一滑轨（160），所述第一滑轨（160）上滑动连接有第一滑块（161）与第二滑块（162）；
5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架（170）和连接架（180）；所述安装架（170）用于安装所述摩擦组件（120）；
6.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述转动盘（110）沿所述第一方向开...
【专利技术属性】
技术研发人员：付志峰，
申请(专利权)人：深圳菲尔泰光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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