System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种光学薄膜耐久度检测设备制造技术_技高网

一种光学薄膜耐久度检测设备制造技术

技术编号:40047334 阅读:4 留言:0更新日期:2024-01-16 20:39
本发明专利技术公开了一种光学薄膜耐久度检测设备,其包括第一检测底座、第二检测底座、第三检测底座及加压件,第一检测底座远离待测工位的一侧转动连接有转动盘,第一检测底座朝向待测工位的一侧设置有摩擦组件;第一检测底座及第二检测底座之间设置有第一传动组件与第一弹簧;第一检测底座与第三检测底座之间设置有第二传动组件;第二检测底座与第三检测底座之间设置有第二弹簧。在加压件动作的过程中,先通过第一传动组件带动转动盘转动,以间接带动摩擦组件转动,再通过第二传动组件带动摩擦组件中的两个摩擦件相背运动,仅通过加压件的设置能够满足光学薄膜在多个方向上的耐磨测试,动力源单一,能够以较低的成本提高耐磨测试的丰富性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学薄膜的耐磨检测结构,尤其涉及一种光学薄膜耐久度检测设备


技术介绍

1、光学薄膜指的是附著在光学器件表面的厚度薄而均匀的介质膜层,在光的传播路径过程中,可以通过多层介质膜层的反射、透(折)射和偏振等特性,能够实现使某一或多个波段范围内的光全部透过、使光全部反射、使光偏振分离等功能。

2、其中,光学薄膜的耐磨性能是人们重点关注的性能,是判断光学器件好坏的重要因素;现有技术中,主要通过细砂、金刚砂等材料制成的磨块对光学器件上的光学薄膜进行摩擦,再通过人工或视觉检测等手段对光学薄膜进行观察,以验证其耐磨性能。

3、当前,耐磨性能检测装置主要包括直线驱动组件、安装治具和磨块,安装治具上通常安装有贴附有光学薄膜的光学器件,通过直线驱动组件带动安装治具相对于磨块移动,使得光学薄膜相对于磨块移动,进行耐磨测试。上述方案中,如果需要磨块与光学薄膜之间产生其他形式的相对运动,如旋转等,则往往需要增加其他动力源,例如增加旋转电机带动安装治具转动,导致整体的成本较高。因此,如何以较低的成本提高光学薄膜耐磨检测的丰富性是本领域技术人员需要解决的技术问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种光学薄膜耐久度检测设备,解决当前提高光学薄膜测试丰富性时所需成本较高的问题。

2、为达此目的,本专利技术采用以下技术方案:

3、一种光学薄膜耐久度检测设备,包括待测工位,检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座、第二检测底座、第三检测底座及加压件,所述待测工位用于放置配置有多个检测槽的待测治具;

4、所述第一检测底座朝向所述待测工位的一侧设置有摩擦组件,所述第一检测底座转动连接有转动盘;所述摩擦组件包括第一摩擦件与第二摩擦件;所述第一摩擦件与所述第二摩擦件沿第一方向分别与所述转动盘滑动连接;

5、所述第一检测底座及所述第二检测底座之间设置有第一传动组件与第一弹簧;所述第一检测底座与所述第三检测底座之间设置有第二传动组件;所述第二检测底座与所述第三检测底座之间设置有第二弹簧;

6、当所述加压件的加压端与所述第三检测底座抵接,并移动至第一位置时,所述第二检测底座承载于所述第一检测底座上,以通过所述第一传动组件使所述转动盘旋转第一角度,所述第一角度大于等于180°;

7、当所述加压件的加压端从第一位置移动至第二位置时,所述第三检测底座与所述第二检测底座的间距减少,以通过所述第二传动组件使所述第一摩擦件及所述第二摩擦件相背运动。

8、可选地,所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘上的齿圈件,所述齿圈件的外圈配置有外齿;

9、所述第一检测底座于所述齿圈件的外侧设置有传动杆;所述传动杆的一端可自转地插设于所述第一检测底座上;所述传动杆上固定连接有驱动齿轮,所述驱动齿轮与所述齿圈件啮合;所述传动杆的另一端上形成有外螺纹;

10、所述第二检测底座对应所述传动杆的位置设置有内螺纹,所述内螺纹与所述外螺纹连接。

11、可选地,所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件上的第一楔块和连接于所述第二摩擦件上的第二楔块;

12、所述第二传动组件还包括设置于所述第三检测底座朝向所述第二检测底座一侧的第三楔块与第四楔块;所述第三楔块包括沿远离所述第四楔块的方向设置的第一端部与第二端部;所述第四楔块包括沿远离所述第三楔块的方向设置的第三端部与第四端部;

13、所述第一端部较所述第二端部靠近所述第一检测底座,以形成第一斜面;所述第三端部较所述第四端部靠近所述第一检测底座,以形成第二斜面;

14、当所述加压端位于所述第一位置时,所述第一楔块与所述第一端部抵接,所述第二楔块与所述第三端部抵接;当所述加压端位于所述第二位置时,所述第一楔块沿所述第一斜面滑动,并与所述第二端部抵接,所述第二楔块沿所述第二斜面滑动,并与所述第四端部抵接。

15、可选地,所述转动盘沿所述第一方向开设有滑槽;所述滑槽的一侧安装有第一滑轨,所述第一滑轨上滑动连接有第一滑块与第二滑块;

16、所述第一摩擦件与所述第一楔块之间连接有第一过渡组件,所述第一过渡组件穿过所述滑槽并与所述第一滑块固定连接;所述第二摩擦件与所述第二楔块之间连接有第二过渡组件,所述第二过渡组件穿过所述滑槽并与所述第二滑块固定连接。

17、可选地,所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架和连接架;所述安装架用于安装所述摩擦组件;

18、所述连接架开设有第一安装槽,所述第一安装槽对应地套设在所述第一滑块或所述第二滑块外;所述第一安装槽的槽底开设有卡槽;所述安装架包括穿过所述滑槽的延伸部,所述延伸部的端部插入所述卡槽中;

19、所述连接架还开设有第二安装槽,所述第二安装槽对应地套设在所述第一楔块外或所述第二楔块外;

20、所述连接架穿设有固定销;所述固定销穿过所述第一安装槽的槽壁、所述第二安装槽的槽壁、所述延伸部及所述第一楔块,或者,所述固定销穿过所述第一安装槽的槽壁、所述第二安装槽的槽壁、所述延伸部及所述第二楔块。

21、可选地,所述转动盘沿所述第一方向开设有弹簧槽,所述弹簧槽内的一端安装有第三弹簧,所述弹簧槽内的另一端安装有第四弹簧;所述第三弹簧用于推动所述第一楔块朝靠近所述第二楔块的方向移动,所述第四弹簧用于推动所述第二楔块朝靠近所述第一楔块的方向移动。

22、可选地,所述第一角度为180°的整数倍。

23、可选地,所述待测治具上由内至外地设置有多个环形区域,所述环形区域中设置有呈圆周分布的多个所述检测槽。

24、可选地,还包括支撑架,所述支撑架上安装有第二滑轨,所述第一检测底座通过第三滑块与所述第二滑轨滑动连接,所述第三检测底座通过第四滑块与第二滑轨滑动连接;

25、所述支撑架包括于所述第二滑轨的下方设置的支脚部,所述支脚部用于放置在与所述待测治具共面的平面上。

26、可选地,所述待测治具朝向所述第一检测底座的一侧还凸设有定位柱,所述第一检测底座对应所述定位柱的位置开设有定位槽;当所述加压件的加压端与所述第三检测底座抵接时,所述定位槽套设于所述定位柱外。

27、与现有技术相比,本专利技术具有以下有益效果:

28、本专利技术提供的光学薄膜耐久度检测设备,其对光学薄膜进行耐磨性能检测时,将光学薄膜放入检测槽中,并使待测治具位于待测工位上,接着启动加压件,加压件通过施加压力于第三检测底座,使得第一检测底座、第二检测底座及第三检测底座同步下降,直至第一检测底座承载于待测治具时,第一检测底座定位于待测治具上;随后,加压端移动至第一位置,此时第二检测底座及第三检测底座下降,直至第二检测底座与第一检测底座抵接,在第一传动组件的作用下,使转动盘转动,同时带动摩擦组件转动以扫过各检测槽,对各检测槽中的光学薄膜进行弧线方向上的耐磨测试;接着,加压端移动至第二位置,此时第三检测底座下降,第三检测底座下降的过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,包括待测工位,检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座(100)、第二检测底座(200)、第三检测底座(300)及加压件(500),所述待测工位用于放置配置有多个检测槽(401)的待测治具(400);

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘(110)上的齿圈件(130),所述齿圈件(130)的外圈配置有外齿(131);

3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件(121)上的第一楔块(311)和连接于所述第二摩擦件(122)上的第二楔块(312);

4.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述转动盘(110)沿所述第一方向开设有滑槽(111);所述滑槽(111)的一侧安装有第一滑轨(160),所述第一滑轨(160)上滑动连接有第一滑块(161)与第二滑块(162);

5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架(170)和连接架(180);所述安装架(170)用于安装所述摩擦组件(120);

6.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述转动盘(110)沿所述第一方向开设有弹簧槽(112),所述弹簧槽(112)内的一端安装有第三弹簧,所述弹簧槽(112)内的另一端安装有第四弹簧;所述第三弹簧用于推动所述第一楔块(311)朝靠近所述第二楔块(312)的方向移动,所述第四弹簧用于推动所述第二楔块(312)朝靠近所述第一楔块(311)的方向移动。

7.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第一角度为180°的整数倍。

8.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述待测治具(400)上由内至外地设置有多个环形区域,所述环形区域中设置有呈圆周分布的多个所述检测槽(401)。

9.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,还包括支撑架(700),所述支撑架(700)上安装有第二滑轨(710),所述第一检测底座(100)通过第三滑块(720)与所述第二滑轨(710)滑动连接,所述第三检测底座(300)通过第四滑块(730)与第二滑轨(710)滑动连接;

10.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述待测治具(400)朝向所述第一检测底座(100)的一侧还凸设有定位柱(402),所述第一检测底座(100)对应所述定位柱(402)的位置开设有定位槽;当所述加压件(500)的加压端与所述第三检测底座(300)抵接时,所述定位槽套设于所述定位柱(402)外。

...

【技术特征摘要】

1.一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,包括待测工位,检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座(100)、第二检测底座(200)、第三检测底座(300)及加压件(500),所述待测工位用于放置配置有多个检测槽(401)的待测治具(400);

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘(110)上的齿圈件(130),所述齿圈件(130)的外圈配置有外齿(131);

3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件(121)上的第一楔块(311)和连接于所述第二摩擦件(122)上的第二楔块(312);

4.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述转动盘(110)沿所述第一方向开设有滑槽(111);所述滑槽(111)的一侧安装有第一滑轨(160),所述第一滑轨(160)上滑动连接有第一滑块(161)与第二滑块(162);

5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架(170)和连接架(180);所述安装架(170)用于安装所述摩擦组件(120);

6.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备,其特征在于,所述转动盘(110)沿所述第一方向开...

【专利技术属性】
技术研发人员:付志峰
申请(专利权)人:深圳菲尔泰光电有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1