【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及三维形貌测量,尤其涉及一种基于双目视觉和pmd表面测量方法、系统、设备及其介质。
技术介绍
1、镜面、类镜面等高反射曲面零件在航空航天、国防、生物医学、通信、微电子灯高科技领域中的应用越来越广泛,已成为光电以及通信行业的关键部件,准确测量和评价高反射曲面零件的表面形貌,对于研究表面几何特性与使用性能的关系,提高加工表面的质量和产品性能有着重要意义。
2、相位偏折测量术(pmd,phase measuring deflectometry ),其基本原理是利用屏幕将光栅条纹投影到待测高反射曲面零件表面,相机捕获被零件表面反射的条纹图像,由条纹信息解算出待零件表面的三维形貌信息。具体而言,一个高反射曲面零件每个反射点对投射光线偏折的作用不同,相机在拍摄完毕条纹图像后,基于相移算法解算出每个像素点处对应的相位,利用相位可以计算三维点云坐标,从而对高反射曲面零件的表面进行三维重建。
3、相位偏折测量术的测量精度和系统的标定精度以及三维重建算法精度有关。其中,三维重建算法的精度与相位立体匹配精度有关,现有的相位
...【技术保护点】
1.一种基于双目视觉和PMD表面测量方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的基于双目视觉和PMD表面测量方法,其特征在于,在所述步骤S4中,基于左右法相量匹配算法对所述左右视场反射图像进行立体匹配具体包括以下步骤:
3.如权利要求2所述的基于双目视觉和PMD表面测量方法,其特征在于,所述立体匹配算法为半全局立体匹配算法和全局立体匹配算法。
4.如权利要求3所述的基于双目视觉和PMD表面测量方法,其特征在于,所述步骤S5具体包括以下步骤:
5.如权利要求4所述的基于双目视觉和PMD表面测量方法,其特征在于,所述步骤
...【技术特征摘要】
1.一种基于双目视觉和pmd表面测量方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的基于双目视觉和pmd表面测量方法,其特征在于,在所述步骤s4中,基于左右法相量匹配算法对所述左右视场反射图像进行立体匹配具体包括以下步骤:
3.如权利要求2所述的基于双目视觉和pmd表面测量方法,其特征在于,所述立体匹配算法为半全局立体匹配算法和全局立体匹配算法。
4.如权利要求3所述的基于双目视觉和pmd表面测量方法,其特征在于,所述步骤s5具体包括以下步骤:
5.如权利要求4所述的基于双目视觉和pmd表面测量方法,其特征在于,所述步骤s6中,设置修正条件:
6.如权利要求2所述的基于...
【专利技术属性】
技术研发人员:李惠芬,潘正颐,侯大为,
申请(专利权)人:常州微亿智造科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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