一种集成电路测试装置制造方法及图纸

技术编号:40043094 阅读:10 留言:0更新日期:2024-01-16 20:02
本技术公开了一种集成电路测试装置,涉及集成电路检测技术领域,包括底座;所述底座的左、右两侧外壁上均固定有连接耳一,所述连接耳一顶部安装有龙门架,所述龙门架内顶部安装有测试仪,所述测试仪通过弹性线连接有测试笔;所述底座顶部开设有滑槽,所述滑槽内对称滑动连接有两个滑块,两个滑块顶部均固定有连接板,所述连接板顶部固定有L型板,所述L型板顶部开设有穿孔,所述穿孔内活动穿设有连接杆,所述连接杆一端固定有拉条,所述连接杆另一端固定有固定板,本技术通过改变对集成电路板的固定方式,使得在对集成电路板进行固定时更加的简单方便,并且本技术所采取的固定方式整体的磨损程度较小,使用寿命较长。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及集成电路检测,特别涉及一种集成电路测试装置


技术介绍

1、集成电路板是载装集成电路的一个载体。目前集成电路板在出厂前都需要进检测,来验证是否合格。

2、经过检索,中国专利网公开了一种集成电路测试装置,公开号为cn210639244u,虽然能够对不同规格的集成电路板检测,但是该对比文件在对集成电路板进行固定时比较的繁琐,并且通过设置定位机构、固定槽、固定块和第二螺杆在对集成电路板进行固定,螺纹配合在长期使用时易发生磨损,其使用寿命较短。


技术实现思路

1、本技术要解决的技术问题是提供一种集成电路测试装置,以解决
技术介绍
中所提出的该对比文件在对集成电路板进行固定时比较的繁琐,并且通过设置定位机构、固定槽、固定块和第二螺杆在对集成电路板进行固定,螺纹配合在长期使用时易发生磨损,其使用寿命较短。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:

3、一种集成电路测试装置,包括:

4、底座;

5、所述底座的左、右两侧外壁上均固定有连接耳一,所述连接耳一顶部安装有龙门架,所述龙门架内顶部安装有测试仪,所述测试仪通过弹性线连接有测试笔;

6、所述底座顶部开设有滑槽,所述滑槽内对称滑动连接有两个滑块,两个滑块顶部均固定有连接板,所述连接板顶部固定有l型板,所述l型板顶部开设有穿孔,所述穿孔内活动穿设有连接杆,所述连接杆一端固定有拉条,所述连接杆另一端固定有固定板。

7、作为本技术的进一步方案,所述连接杆外壁设有压缩弹簧,所述压缩弹簧一端与固定板固定,所述压缩弹簧另一端与l型板固定。

8、作为本技术的进一步方案,所述固定板底部安装有软垫一。

9、作为本技术的进一步方案,所述底座顶部安装有软垫二。

10、作为本技术的进一步方案,还包括清灰机构,所述清灰机构包括开设于底座顶部的安装槽,所述安装槽内设有粘胶板。

11、作为本技术的进一步方案,所述粘胶板左、右两侧外壁上均固定有连接耳二,所述连接耳二顶部开设有螺纹孔一,所述底座顶部开设有与螺纹孔一相配合的螺纹孔二。

12、作为本技术的进一步方案,所述螺纹孔一、螺纹孔二内螺纹连接有固定螺栓。

13、与现有技术相比,本技术的有益效果是:

14、本技术在压缩弹簧的弹力作用下会驱使连接杆在l型板上的穿孔内进行下降运动,待连接杆一端的固定板与集成电路板抵接后,即可对集成电路板进行固定,相比较现有的,本技术通过改变对集成电路板的固定方式,使得在对集成电路板进行固定时更加的简单方便,并且本技术所采取的固定方式整体的磨损程度较小,使用寿命较长。

15、本技术通过在底座顶部开设有安装槽,并且在安装槽内设有粘胶板,在对集成电路板进行检测之前,可以将集成电路板贴合在粘胶板表面,在粘胶板的作用下会对集成电路板上的灰尘进行清理,从而避免了灰尘影响到集成电路板的检测精度或检测效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述连接杆(113)外壁设有压缩弹簧(117),所述压缩弹簧(117)一端与固定板(115)固定,所述压缩弹簧(117)另一端与L型板(111)固定。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述固定板(115)底部安装有软垫一(116)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述底座(101)顶部安装有软垫二(107)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,还包括清灰机构(200),所述清灰机构(200)包括开设于底座(101)顶部的安装槽(202),所述安装槽(202)内设有粘胶板(203)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述粘胶板(203)左、右两侧外壁上均固定有连接耳二(204),所述连接耳二(204)顶部开设有螺纹孔一(205),所述底座(101)顶部开设有与螺纹孔一(205)相配合的螺纹孔二(206)。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述螺纹孔一(205)、螺纹孔二(206)内螺纹连接有固定螺栓(201)。

...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述连接杆(113)外壁设有压缩弹簧(117),所述压缩弹簧(117)一端与固定板(115)固定,所述压缩弹簧(117)另一端与l型板(111)固定。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述固定板(115)底部安装有软垫一(116)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述底座(101)顶部安装有软垫二(107)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,...

【专利技术属性】
技术研发人员:马航郭秋贺
申请(专利权)人:深圳市上一品科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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