一种去金属离子膜完整性检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种去金属离子膜完整性检测装置及检测方法，检测装置分气体管路和液体管路两大路径。膜池组件经气体管路分别连接空压机和检测系统；检测装置的储水罐连接压力泵，再通过液体管路连接膜池组件，膜池组件经液体管路连接真空泵，最终连接至检测系统。在膜池组件通气管路和通液管路的出口处分别装有气体和液体流量计。本发明专利技术可分别采用正压气检‑负压水检‑正压水检三种方式验证去金属离子膜的完整性。本发明专利技术的检测方法为测量或观察在一种气体或液体压力梯度下，从膜的一侧透过到另一侧的气体或液体体积来判断去金属离子膜的完整性，具有操作简单、灵敏度高，安全环保等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及膜检测，特别涉及一种去金属离子膜完整性检测装置及检测方法。

技术介绍

1、完整性检测是指对膜片的物理完整性进行测试和验证的过程，以确认其有效阻隔液体和气体的能力。去金属离子膜表面是没有孔径结构的致密层结构，在湿电子化学品分离提纯领域具有重要的应用价值。去金属离子膜片需要定期进行完整性测试，一旦膜片在制作或使用过程中出现缺陷或破损，其对金属离子的去除率则无法达到预期效果。

2、由于去金属离子膜表面没有孔径结构，因此传统的孔径测试方法(如通过气泡点测试或水浸入检测等)通常不适用于去金属离子膜的检测。另一种常见的完整性检测方法是色谱法。该方法利用气体或液体渗透膜片时分子尺寸和分子量的差异，通过将具有已知分子尺寸和分子量的标准物质添加到渗透流体中，然后使用色谱仪检测渗透流体中的物质组分，可以确定膜片的完整性，但该方法也存在操作过程复杂、检测效率低、测试准确度差等问题。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种去金属离子膜完整性检测装置及检测方法，检测装置及检测方法的操作过程本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述去金属离子膜完整性检测装置还包括气体流量调节器(11)，所述气体流量调节器(11)设置在所述进气管路(20)上且位于所述空压机(2)和气体阀门(3)之间。

3.根据权利要求1所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述去金属离子膜完整性检测装置还包括液体流量调节器(12)，所述液体流量调节器(12)设置在所述进液管路(50)上且位于所述压力泵(6)和液体阀门(7)之间。

4.根据权利要求3所述的去金属离子膜完整性检测装置，其...

【技术特征摘要】

1.一种去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述去金属离子膜完整性检测装置还包括气体流量调节器(11)，所述气体流量调节器(11)设置在所述进气管路(20)上且位于所述空压机(2)和气体阀门(3)之间。

3.根据权利要求1所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述去金属离子膜完整性检测装置还包括液体流量调节器(12)，所述液体流量调节器(12)设置在所述进液管路(50)上且位于所述压力泵(6)和液体阀门(7)之间。

4.根据权利要求3所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述去金属离子膜完整性检测装置还包括换热器(13)，所述换热器(13)设置在所述进液管路(50)上且位于所述压力泵(6)和液体流量调节器(12)之间。

5.根据权利要求1所述的去金属离子膜完整性检测装置，其特征在于，所述膜池组件(1)包括膜池上盖(14)和膜池下盖(15)，所述膜池上盖(14)和膜池下盖(15)之间形成有用于收纳...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁晓斌，相里粉娟，李旭洋，刘公平，朱海鹏，
申请(专利权)人：山东产研久膜科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：