参数搜索方法、装置及故障注入系统、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种故障注入的参数搜索方法、装置及故障注入系统、设备和存储介质，涉及芯片技术领域。一种故障注入的参数搜索方法，包括：获取故障注入成功的数据量，确定所述数据量是否达到预设阈值；若是，获取故障注入成功的数据对应的至少一个参数；根据所述至少一个参数和芯片能量变化曲线，生成第二参数；若否，获取芯片预期响应值和芯片实际响应值的差值；根据所述差值和预设参数范围内的第一参数，生成第三参数；将所述第二参数或所述第三参数作为参数搜索结果。根据本申请的实施例，引入机器学习模型，可优化参数搜索效率，节约时间，并使得故障注入的测试范围更全面。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片，具体而言，涉及一种故障注入的参数搜索方法、装置及故障注入系统、设备和存储介质。

技术介绍

1、芯片在运行的过程中如受到外部能量的干扰，则会导致出现运行错误的情况，其中包括跳过一条或多条指令、篡改寄存器的值、篡改存储器中存储的值及运算出错等。而芯片的运行错误在实际应用中可能演变为跳过密码输入验证、在芯片上运行恶意程序、提取密码算法的密钥等严重问题。因此，在对芯片的安全分析中增加故障注入测试指标，是保证芯片运行安全的必不可少的措施。

2、在所有的故障注入方式中，激光故障注入有最高的精度和最好的攻击效果，可以对ram或者flash的局部进行攻击，效果好且难以防护。但是激光故障注入的缺点是有大量的参数需要调节。对于一块芯片，如果想要通过激光故障注入攻击使得芯片产生测试所需的错误，需要对激光强度、激光注入的位置(纳米级别的精确度)、激光注入的时间点(至少微秒级别的精确度)、激光脉冲注入的数量和激光脉冲的时长(纳秒级别的精确度)等参数进行调整。

3、本申请的专利技术人发现，如果想要通过故障注入使得芯片产生不同的错误，就需要完全相本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种故障注入的参数搜索方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取故障注入成功的数据量，确定所述数据量是否达到预设阈值之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取故障注入成功的数据量，确定所述数据量是否达到预设阈值之前，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个参数和所述芯片能量变化曲线，生成所述第二参数，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片预期响应值和所述芯片...

【技术特征摘要】

1.一种故障注入的参数搜索方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取故障注入成功的数据量，确定所述数据量是否达到预设阈值之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取故障注入成功的数据量，确定所述数据量是否达到预设阈值之前，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个参数和所述芯片能量变化曲线，生成所述第二参数，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片预...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾津，杨威，邹铛铛，
申请(专利权)人：国民技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：