一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置制造方法及图纸

技术编号:40017911 阅读:5 留言:0更新日期:2024-01-16 16:17
本技术公开了一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,涉及厚度检测装置技术领域,本技术包括基架,基架的前后端顶部中心处均固定连接有固定板,基架的两端设置有收放组件,两个固定板与基架的内侧壁之间通移动组件连接有光谱共焦测量仪,收放组件包括辊支架、驱动电机、收卷辊和放卷辊,移动组件包括横固板、丝杆、滑动架、螺纹块和安装板。本技术为一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,通过设置的收放组件和移动组件,该厚度检测装置,结构简单便于操作,通过光谱共焦测量方式进行薄膜厚度的测量,提高了测量厚度的精度,保证薄膜的厚度测量效果,保证薄膜的厚度合格率,提高了装置的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及厚度检测装置,特别涉及一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置


技术介绍

1、当固体或液体的一维线性尺度远远小于其他二维时,我们将这样的固体或液体称为膜。通常,膜可分为两类,一类是厚度大于1微米的膜,称为厚膜;另一类则是厚度小于1微米的膜,称为薄膜。塑料包装及塑料包装产品在市场上所占的份额越来越大,特别是复合塑料软包装,已经广泛地应用于食品、医药、化工等领域,其中又以食品包装所占比例最大,比如饮料包装、速冻食品包装、蒸煮食品包装、快餐食品包装等,这些产品都给人们生活带来了极大的便利。

2、薄膜生产加工过程中,为了保证厚度的合格,需要测量薄膜的厚度,度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段,因此需要用到厚度检测装置。

3、目前市场上,现有的薄膜厚度检测装置,对薄膜的厚度检测操作比较复杂,厚度测量不精准,不能保证薄膜厚度的合格率,因此,有必要提供一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置。


技术实现思路

1、本技术的主要目的在于提供一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,可以有效解决
技术介绍
中现有的薄膜厚度检测装置,对薄膜的厚度检测操作比较复杂,厚度测量不精准,不能保证薄膜厚度的合格率的问题。

2、为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,包括基架,所述基架的前后端顶部中心处均固定连接有固定板,所述基架的两端设置有收放组件,两个所述固定板与基架的内侧壁之间通移动组件连接有光谱共焦测量仪;

3、所述收放组件包括辊支架、驱动电机、收卷辊和放卷辊,所述基架的两端均固定连接有辊支架,两个所述辊支架的前端面均固定连接有驱动电机,一侧所述辊支架之间通过驱动电机连接有收卷辊,另一侧所述辊支架之间通过驱动电机连接有放卷辊;

4、所述移动组件包括横固板、丝杆、滑动架、螺纹块和安装板,两个所述固定板与基架的内侧壁之间均固定连接有横固板,所述横固板的内部活动设置有丝杆,所述横固板的外表面活动设置有滑动架,所述丝杆的外周面套设有螺纹块,所述滑动架的底部与安装板的顶部固定连接,所述光谱共焦测量仪固定连接于安装板的底部。

5、优选地,所述收卷辊与放卷辊处于同一水平面上,所述收卷辊与放卷辊的外表面缠绕连接有薄膜卷。

6、优选地,所述基架的底部与两个辊支架的底部处于同一水平面上,两个所述辊支架的顶部高于基架的顶部,所述薄膜卷位于两个横固板之间的中心处。

7、优选地,所述横固板的顶部横向中心处贯穿开设有通槽,所述丝杆活动设置于通槽的内部,所述螺纹块与丝杆螺纹连接,所述螺纹块的横截面大小与通槽的内部尺寸相适配。

8、优选地,所述移动组件还包括伺服电机、带轮和传动带,所述基架的后端面固定连接有伺服电机,两个所述丝杆的一端均固定连接有带轮,两个所述带轮之间连接有传动带。

9、优选地,所述伺服电机的驱动端与一个丝杆的一端固定连接,所述薄膜卷的上下表面至两个横固板的表面距离相等。

10、优选地,所述滑动架的内侧顶板的底部与螺纹块的顶部固定连接,所述滑动架包覆于横固板的外表面,两个所述滑动架的大小一致,且处于同一竖直面上,两个所述滑动架以薄膜卷对称设置。

11、与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:

12、本技术中,通过设置的收放组件和移动组件,首先将待测厚度的薄膜形成薄膜卷,并缠绕于放卷辊上,将其一端缠绕于收卷辊表面,设置两个驱动电机同步频率,同时启动驱动电机,驱动电机带动收卷辊和放卷辊转动,使薄膜卷在放卷辊上放卷,并在收卷辊上收卷,此时薄膜卷在两个横固板之间均匀平行移动,然后启动伺服电机,伺服电机带动其中一个丝杆转动,其中一个丝杆的转动通过带轮和传动带的连接,带动另一个丝杆在两个固定板之间转动,丝杆的转动使螺纹块在通槽的内部横向移动,带动滑动架在横固板的外表面移动,并通过安装板带动光谱共焦测量仪进行移动,两个对称的光谱共焦测量仪对薄膜卷的厚度进行测量,且能够对薄膜卷不同位置的厚度进行移动测量,该厚度检测装置,结构简单便于操作,通过光谱共焦测量方式进行薄膜厚度的测量,提高了测量厚度的精度,保证薄膜的厚度测量效果,保证薄膜的厚度合格率,提高了装置的实用性。

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【技术保护点】

1.一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:包括基架(1),所述基架(1)的前后端顶部中心处均固定连接有固定板(2),所述基架(1)的两端设置有收放组件,两个所述固定板(2)与基架(1)的内侧壁之间通移动组件连接有光谱共焦测量仪(15);

2.根据权利要求1所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述收卷辊(5)与放卷辊(6)处于同一水平面上,所述收卷辊(5)与放卷辊(6)的外表面缠绕连接有薄膜卷(7)。

3.根据权利要求2所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述基架(1)的底部与两个辊支架(3)的底部处于同一水平面上,两个所述辊支架(3)的顶部高于基架(1)的顶部,所述薄膜卷(7)位于两个横固板(8)之间的中心处。

4.根据权利要求3所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述横固板(8)的顶部横向中心处贯穿开设有通槽(10),所述丝杆(11)活动设置于通槽(10)的内部,所述螺纹块(13)与丝杆(11)螺纹连接,所述螺纹块(13)的横截面大小与通槽(10)的内部尺寸相适配。

5.根据权利要求4所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述移动组件还包括伺服电机(9)、带轮(16)和传动带(17),所述基架(1)的后端面固定连接有伺服电机(9),两个所述丝杆(11)的一端均固定连接有带轮(16),两个所述带轮(16)之间连接有传动带(17)。

6.根据权利要求5所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述伺服电机(9)的驱动端与一个丝杆(11)的一端固定连接,所述薄膜卷(7)的上下表面至两个横固板(8)的表面距离相等。

7.根据权利要求6所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述滑动架(12)的内侧顶板的底部与螺纹块(13)的顶部固定连接,所述滑动架(12)包覆于横固板(8)的外表面,两个所述滑动架(12)的大小一致,且处于同一竖直面上,两个所述滑动架(12)以薄膜卷(7)对称设置。

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【技术特征摘要】

1.一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:包括基架(1),所述基架(1)的前后端顶部中心处均固定连接有固定板(2),所述基架(1)的两端设置有收放组件,两个所述固定板(2)与基架(1)的内侧壁之间通移动组件连接有光谱共焦测量仪(15);

2.根据权利要求1所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述收卷辊(5)与放卷辊(6)处于同一水平面上,所述收卷辊(5)与放卷辊(6)的外表面缠绕连接有薄膜卷(7)。

3.根据权利要求2所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述基架(1)的底部与两个辊支架(3)的底部处于同一水平面上,两个所述辊支架(3)的顶部高于基架(1)的顶部,所述薄膜卷(7)位于两个横固板(8)之间的中心处。

4.根据权利要求3所述的一种基于光谱共焦的薄膜厚度检测装置,其特征在于:所述横固板(8)的顶部横向中心处贯穿开设有通槽(10),所述丝杆(11)活动设置于通槽(10)的内部,所述螺纹块(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏昌波
申请(专利权)人:苏州中昌智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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