【技术实现步骤摘要】
本专利技术及储层岩屑测量，具体涉及一种现场岩屑扫描代表性分析方法及装置。
技术介绍
1、随着目前油气勘探向深层发展，深层复杂储层已经越来越受重视，深部储层物性非常复杂，同时钻井难度很高，成本极高，取芯成本更高，大部分深层井位难以取到岩芯。例如在钻井过程中，岩芯容易发生破碎，或者在岩屑录井时，岩屑绝大多数是以细小的微粒形式返排到地面，最后获得岩石资料可能主要为岩屑。因此在深部储层研究中，如何有效测定岩屑物性，以最大限度发挥岩石资料作用，并最大限度明确深部储层物性，对于勘探准确性和经济性都至关重要。
2、目前测量例如孔隙度这一岩屑代表性参数的方法包括直接测量法和间接测量法，直接测量法对测试样品的大小要求高，只能用于测量岩芯的代表性参数，无法测量岩屑的岩屑代表性参数。间接测量法是通过中子测井、密度测井、声波测井等曲线建立其与岩屑代表性参数的数理关系以获得岩屑代表性参数，但由于测井响应值不仅仅受到岩屑代表性参数的影响，还受其他因素的干扰，并且其与岩屑代表性参数建立的数理关系准确性难以保证，因此并不十分准确。
3、因此，亟需提供一种现场岩屑扫描代表性分析方法及装置，用以解决现有技术中存在的无法准确获取待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，有必要提供一种现场岩屑扫描代表性分析方法及装置，用以解决现有技术中存在的无法准确获取待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数的技术问题。
2、一方面，本专利技术提供了一种现场岩屑扫描代表性分析方法，
3、确定待测定岩屑颗粒，并对所述待测定岩屑颗粒进行打磨，获取目标岩屑颗粒，所述目标岩屑颗粒为包括岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒；
4、获取所述岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像；
5、基于所述岩屑颗粒图像确定所述待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数。
6、在一些可能的实现方式中，所述确定待测定岩屑颗粒，包括：
7、获取多个初始岩屑颗粒；
8、获取所述多个初始岩屑颗粒所在地质的地质特征；
9、基于所述地质特征从所述多个初始岩屑颗粒中确定所述待测定岩屑颗粒。
10、在一些可能的实现方式中，在所述对所述待测定岩屑颗粒进行打磨，获取目标岩屑颗粒之前，还包括：
11、将所述待测定岩屑颗粒放入样品盒，向所述样品盒中注入可凝固的注入剂，并等待所述注入剂凝固。
12、在一些可能的实现方式中，所述岩屑颗粒图像为电镜扫描图像，则所述获取所述岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像，包括：
13、在所述目标岩屑颗粒的岩屑内部新鲜面的表面镀导电层，并基于扫描电镜获取所述岩屑颗粒图像。
14、在一些可能的实现方式中，所述岩屑颗粒包括注胶区和岩屑区，所述岩屑区包括岩屑本体区和岩屑孔隙区；所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数，包括：
15、基于所述岩屑颗粒图像确定所述注胶区的注胶区代表性参数和所述岩屑孔隙区的岩屑孔隙区代表性参数；
16、基于所述注胶区代表性参数和所述岩屑孔隙区代表性参数确定所述岩屑代表性参数。
17、在一些可能的实现方式中，所述岩屑代表性参数为：
18、
19、式中，β为岩屑代表性参数；α1为注胶区代表性参数；α2为岩屑孔隙区代表性参数。
20、在一些可能的实现方式中，在所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述注胶区的注胶区代表性参数和所述岩屑孔隙区的岩屑孔隙区代表性参数之前，还包括：
21、对所述岩屑颗粒图像进行二值化处理，获得第一二值化图像；
22、将所述岩屑颗粒图像和所述第一二值化图像相乘，获得平滑图像。
23、在一些可能的实现方式中，所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述注胶区的注胶区代表性参数和所述岩屑孔隙区的岩屑孔隙区代表性参数，包括：
24、将所述平滑图像和所述第一二值化图像相加，获得过渡图像；
25、对所述过渡图像进行二值化处理，获得第二二值化图像，并基于所述第二二值化图像确定所述注胶区的注胶区面积；
26、基于所述注胶区面积确定所述注胶区代表性参数；
27、对所述第二二值化图像进行二值化处理，获得第三二值化图像，并基于所述第三二值化图像确定所述岩屑孔隙区代表性参数。
28、在一些可能的实现方式中，所述注胶区代表性参数为：
29、
30、式中，α1为所述注胶区代表性参数；ωpart为所述注胶区面积；ωtotal为所述岩屑颗粒图像的图像面积。
31、另一方面，本专利技术还提供了一种现场岩屑扫描代表性分析装置，包括：
32、目标岩屑颗粒获取单元，用于确定待测定岩屑颗粒，并对所述待测定岩屑颗粒进行打磨，获取目标岩屑颗粒，所述目标岩屑颗粒为包括岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒；
33、岩屑颗粒图像获取单元，用于获取所述岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像；
34、现场岩屑扫描代表性分析单元，用于基于所述岩屑颗粒图像确定所述待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数。
35、采用上述实施例的有益效果是：本专利技术提供的现场岩屑扫描代表性分析方法，通过对待测定岩屑颗粒进行打磨，获得包括岩屑内部新鲜面的目标岩屑颗粒，并获取岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像，基于岩屑颗粒图像确定待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数，由于岩屑内部新鲜面可代表待测定岩屑内的真实情况，因此，获得的岩屑颗粒图像为代表待测定岩屑内的真实情况的图像，从而可提高基于岩屑颗粒图像确定出的待测定岩屑颗粒的代表性参数的准确性。
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1.一种现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述确定待测定岩屑颗粒，包括：
3.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，在所述对所述待测定岩屑颗粒进行打磨，获取目标岩屑颗粒之前，还包括：
4.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述岩屑颗粒图像为电镜扫描图像，则所述获取所述岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像，包括：
5.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述岩屑颗粒包括注胶区和岩屑区，所述岩屑区包括岩屑本体区和岩屑孔隙区；所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述待测定岩屑颗粒的岩屑代表性参数，包括：
6.根据权利要求5所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述岩屑代表性参数为：
7.根据权利要求5所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，在所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述注胶区的注胶区代表性参数和所述岩屑孔隙区的岩屑孔隙区代表性参数之前，还包括：
8.根据
9.根据权利要求8所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述注胶区代表性参数为：
10.一种现场岩屑扫描代表性分析装置，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述确定待测定岩屑颗粒，包括：
3.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，在所述对所述待测定岩屑颗粒进行打磨，获取目标岩屑颗粒之前，还包括：
4.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述岩屑颗粒图像为电镜扫描图像，则所述获取所述岩屑内部新鲜面的岩屑颗粒图像，包括：
5.根据权利要求1所述的现场岩屑扫描代表性分析方法，其特征在于，所述岩屑颗粒包括注胶区和岩屑区，所述岩屑区包括岩屑本体区和岩屑孔隙区；所述基于所述岩屑颗粒图像确定所述待测定岩屑颗粒的...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵天鹏，冷振鹏，
申请(专利权)人：欧勒姆能源科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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