【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及脉冲测量，具体涉及一种固定脉冲重复间隔测量方法、设备和介质。
技术介绍
1、脉冲重复间隔（pri）是雷达波形中一个非常重要的参数，高精度的pri参数测量可以应用到特定辐射源识别系统中。pri测量一般都是利用分选后同一部雷达相邻脉冲到达时间（toa）之差来实现的。目前精确测量pri的方法主要有电子计数法、内插法、时间幅度转换法等。这几种方法都是首先高精度测量每一个脉冲的toa，获取相邻脉冲toa的差值，然后得到同一部雷达相邻脉冲的pri，最后通过统计分析获得最终的pri值。以上方法在脉冲串全部为同一部雷达发射，并且无脉冲丢失的情况下有比较好的测量结果，但是不能适应脉冲丢失、混叠情况下的pri测量。随着雷达技术的快速发展，电子侦察系统面临的电磁环境越来越密集复杂，雷达脉冲序列在时域上高度混叠、频域上参数接近、能量域上功率管控，导致电子侦察接收机实际截获过程中极易出现脉冲丢失和混叠现象，即使通过脉冲分离后在一个脉冲串中依然不能完全剔除其它辐射源混叠的脉冲。因此，如何在高脉冲丢失率和少量其它辐射源脉冲混叠情况下精确测量雷达信号pri是亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是在辐射源脉冲存在丢失并且还混叠有其它不感兴趣辐射源脉冲的情况下，辐射源固定脉冲重复间隔测量精确度低，目的在于提供一种固定脉冲重复间隔测量方法、设备和介质，首先利用聚合聚类法剔除大部分混叠的其它辐射源脉冲，然后再利用回归分析多次迭代解算pri，可以提高对混叠脉冲的抑制能力以及本辐射源
2、本专利技术通过下述技术方案实现：
3、本专利技术第一方面提供一种固定脉冲重复间隔测量方法，包括以下具体步骤：
4、获取待测脉冲数据，解算脉冲到达时间差dt；
5、采用聚合聚类法对dt进行聚类；
6、对聚类后的脉冲进行脉冲序号提取，确定待测辐射源的脉冲串；
7、获取待测辐射源的脉冲串对应的参考dt中心值，对脉冲串之间的脉冲相对序号进行估计；
8、根据脉冲相对序号估计值进行直线拟合，得到待测脉冲串的脉冲重复间隔值pri。
9、本专利技术通过不同辐射源在同一时间段为了避免串扰而存在一定的频率差异的特点来解算脉冲的dt值，利用dt值可以实现不同辐射源脉冲的分离，从而可以将感兴趣的待测脉冲串从混叠的脉冲串中提取出来，解决了辐射源之间的脉冲混叠问题，通过第一个脉冲为参考脉冲，基于dt聚类过程中获取的初始pri值来推断脉冲串脉冲之间的相对序号，进而形成一个采用脉冲相对序号和到达时间表示的脉冲串，相对序号反映了辐射源漏脉冲情况；同时，采用一元线性回归的直线拟合方法对脉冲序号和到达时间进行直线拟合，拟合后的直线斜率即为待测量的固定pri值，克服了漏脉冲对pri测量的影响，提高了对混叠脉冲的抑制能力以及本辐射源脉冲重复间隔的测量精度。
10、进一步的，所述解算脉冲到达时间差dt具体包括：
11、获取待测脉冲数据，测量每一个脉冲的到达时间和频率值；
12、根据脉冲频率参数解算脉冲到达时间差dt。
13、进一步的，所述采用聚合聚类法对dt进行聚类具体包括：
14、获取样本集合，通过聚合聚类法对样本进行分类；
15、获取类中心欧式距离，将类中心欧式距离小于设定门限的对应类进行两两合并；
16、重复将类中心欧式距离小于设定门限的对应类进行两两合并，直到任意两类中心欧氏距离都不小于设定的门限，完成聚类。
17、进一步的，所述确定待测辐射源的脉冲串具体包括：
18、获取符合门限条件的类对应的脉冲个数，对符合门限条件的类对应的脉冲个数求和得到s：
19、如果s大于总脉冲数的一半，则根据对应的类脉冲序号提取脉冲；
20、如果s不大于总脉冲数的一半，则重新设定符合门限条件的类；
21、重复获取符合门限条件的类对应的脉冲个数，对符合门限条件的类对应的脉冲个数求和得到s的步骤，选择重复步骤中值最大的s作为选定s，获取选定s对应的类脉冲序号提取脉冲，得到待测辐射源的脉冲串。
22、进一步的，所述获取符合门限条件的类包括：
23、随机选取一个类作为参考类，计算参考类的中心值；
24、计算每一个类的中心值相对于参考类中心值的余数；
25、获取余数小于设定门限或中心值和余数的差小于设定门限的类，得到符合门限条件的类。
26、进一步的，所述对脉冲串之间的脉冲相对序号进行估计具体包括：
27、获取待测辐射源的脉冲串对应的参考dt中心值，作为待测辐射源的脉冲串的初始pri值；
28、根据初始pri值对脉冲串之间的脉冲相对序号进行估计，得到待测辐射源的脉冲串每一个脉冲的相对序号值。
29、进一步的，所述根据脉冲相对序号估计值进行直线拟合具体包括：
30、获取待测脉冲串的相对序号和到达时间；
31、将待测脉冲串的相对序号作为自变量，将到达时间作为因变量进行直线拟合，得到斜率作为待测脉冲串的pri值。
32、进一步的，所述待测脉冲串的pri的计算步骤包括：
33、根据直线拟合得到的斜率，计算斜率对应的均方差σ；
34、基于均方差判断落在设定范围外的离群脉冲是否小于设定阈值；
35、若否，则剔除离群脉冲，重新对脉冲串之间的脉冲相对序号进行估计；
36、若是，则输出当前斜率。
37、本专利技术第二方面提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现一种固定脉冲重复间隔测量方法。
38、本专利技术第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现一种固定脉冲重复间隔测量方法。
39、本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
40、本专利技术针对脉冲混叠问题，基于不同辐射源在同一时间段为了避免串扰而存在一定的频率差异的特点来解算脉冲的dt值，该dt值反映了同一个辐射源不同脉冲之间的脉冲间；利用dt值可以实现不同辐射源脉冲的分离，从而可以将感兴趣的待测脉冲串从混叠的脉冲串中提取出来，解决了辐射源之间的脉冲混叠问题；针对脉冲丢失问题，通过第一个脉冲为参考脉冲，基于dt聚类过程中获取的初始pri值来推断脉冲串脉冲之间的相对序号，进而形成一个采用脉冲相对序号和到达时间表示的脉冲串，相对序号反映了辐射源漏脉冲情况；同时，采用一元线性回归的直线拟合方法对脉冲序号和到达时间进行直线拟合，拟合后的直线斜率即为待测量的固定pri值，不但克服了漏脉冲对pri测量的影响，而且通过多脉冲积累的方式提升了pri测量精度，相对于单脉冲到达时间精度可以提升3个数量级以上；提高了对混叠脉冲的抑制能力以及本辐射源脉冲重复间隔的测量精度；
41、本专利技术提出的测量方法本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，包括以下具体步骤：
2.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述解算脉冲到达时间差DT具体包括：
3.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述采用聚合聚类法对DT进行聚类具体包括：
4.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述确定待测辐射源的脉冲串具体包括：
5.根据权利要求4所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述获取符合门限条件的类包括：
6.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述对脉冲串之间的脉冲相对序号进行估计具体包括：
7.根据权利要求6所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述根据脉冲相对序号估计值进行直线拟合具体包括：
8.根据权利要求7所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述待测脉冲串的PRI的计算步骤包括：
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的固定脉冲重复间隔测量方法。
...【技术特征摘要】
1.一种固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，包括以下具体步骤：
2.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述解算脉冲到达时间差dt具体包括：
3.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述采用聚合聚类法对dt进行聚类具体包括：
4.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述确定待测辐射源的脉冲串具体包括：
5.根据权利要求4所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述获取符合门限条件的类包括：
6.根据权利要求1所述的固定脉冲重复间隔测量方法，其特征在于，所述对脉冲串之间的脉冲相...
【专利技术属性】
技术研发人员：董昕，梁艳，王杰，陈松，李爽，
申请(专利权)人：成都工业学院，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。