【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理的，尤其涉及一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法及相关装置。
技术介绍
1、光学薄膜广泛应用于如光学镜头、显示屏等领域，其质量直接影响到最终产品的性能表现。由于光学薄膜的制测技术精密复杂，对其进行质量评估和质量控制的难度相当高。常见的方法是通过获取目标光学薄膜图像，再利用相关算法进行分析和评估。然而，现有的技术常常无法同时回应质量评估的准确性和效率需求。
2、现有的光学薄膜质量评估模型通常基于固定的模型参数进行计算，缺乏弹性，无法因应不同的质量糅合图像产生的状况变化。此外，由于所采用的质量评估模型通常在移除质量异常的薄膜图像前，未进行有效的质量异常检测，可能导致异常薄膜图像的特征被忽略，从而影响最终的质量评估结果的准确性。
3、此外，现有的评估模型并未能有效地对质量评定指数与预设质量标准值进行对比，并根据对比结果生成详细的质检结果和质检报告，这使得对光学薄膜进行准确和高效的质量评估和控制变得更加困难，从而影响了光学产品的质量和性能。
技术实现思路
...【技术保护点】
1.一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述获取目标糅合图像的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述第一光学薄膜质量评估模型的训练过程，包括：
4.根据权利要求2所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述根据所述多个薄膜分区特征分布点收集目标光学薄膜的多个分区图像，并对所述多个分区图像进行编码处理，生成多个分区图像的编码数据，包括：
5.根据权利要求4所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所...
【技术特征摘要】
1.一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述获取目标糅合图像的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述第一光学薄膜质量评估模型的训练过程，包括：
4.根据权利要求2所述的光学薄膜质量检测方法，其特征在于，所述根据所述多个薄膜分区特征分布点收集目标光学薄膜的多个分区图像，并对所述多个分区图像进行编码处理，生成多个分区图像的编码数据，包括：
5.根据权利要求4所述的光学薄膜质量检测方法，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：付志峰，
申请(专利权)人：深圳菲尔泰光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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