【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数据处理的，具体涉及一种led的寿命预测方法、装置及电子设备。
技术介绍
1、现如今，发光二极管(light emitting diode，led)因其高效、耐用和环保的特点而得到了广泛的应用。然而，led的寿命受到多种因素的影响，其中包括驱动电流、结温、环境温度等等。
2、目前，在对led进行出厂测试时，通常会对led进行频繁的开关。然而，频繁的开关将对led的寿命产生影响。因为，led在频繁的开关、亮灭过程中会产生热循环，可能导致led内部受到额外的热应力和热冲击，从而加速led的劣化，进而缩短led的使用寿命。
3、因此，急需一种led的寿命预测方法、装置及电子设备对led的寿命进行预测。
技术实现思路
1、本申请提供了一种led的寿命预测方法、装置及电子设备，便于对led的寿命进行预测。
2、在本申请的第一方面提供了一种led的寿命预测方法，所述方法包括：获取多次历史测试中led的测试寿命值；基于多个所述测试寿命值，确定所述led的平均寿命值；获取针对所述led的多次电流冲击测试中的冲击电流值；基于所述冲击电流值，计算得到所述led的寿命衰减值；根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述led的使用寿命范围。
3、通过采用上述技术方案，通过获取多次历史测试中led的测试寿命值，得到led的平均寿命值。接下来，通过获取led的多次电流冲击测试中的冲击电流值，计算得到led的寿命衰减值。最后，根据平均寿命值和寿命衰减值
4、可选地，所述基于所述冲击电流值，计算得到所述led的寿命衰减值，通过如下公式计算所述led的寿命衰减值：
5、；
6、其中，ta为所述led的寿命衰减值，ii为多次电流冲击测试中第i次的冲击电流值，ic为所述led的寿命开始明显下降时的临界电流值，βj为多次历史测试中第j次测试对应的影响系数，tj为多次历史测试中第j次测试对应的所述led的测试寿命值，a为拟合参数，m为多次电流冲击测试的总次数，n为多次历史测试的总次数。
7、通过采用上述技术方案，通过测量led在多次电流冲击测试和历史测试中的性能来预测led的寿命衰减值，能够实现根据具体led的性能和历史测试数据进行定制，从而提高寿命预测的准确性。通过考虑多次电流冲击测试和历史测试的数据，综合了led在不同条件下的性能表现，从而更全面地评估了led的寿命衰减情况。通过上述公式，可以得到一个数值化的led寿命衰减值，这使得led的寿命情况可以更容易地与其他led或其他设备进行比较和评估。
8、可选地，所述根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述led的使用寿命范围，具体包括：基于所述平均寿命值和所述寿命衰减值，计算得到所述led的第一寿命极值；基于所述平均寿命值和所述寿命衰减值，计算得到所述led的第二寿命极值；根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述led的使用寿命范围。
9、通过采用上述技术方案，通过计算第一寿命极值和第二寿命极值，可以得出一个具体的led使用寿命范围，为使用者提供更准确的预测和规划。对于生产者来说，了解led的第一寿命极值和第二寿命极值，可以更好地评估产品质量，优化产品设计，改进生产流程，提高生产效率。通过了解led的第一寿命极值和第二寿命极值，可以更好地预测产品在未来的性能表现，增强产品的可靠性和稳定性。
10、可选地，所述计算得到所述led的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：
11、；
12、其中，tmin为所述led的第一寿命极值，imax为多次电流冲击测试中的最大冲击电流值。
13、通过采用上述技术方案，通过计算led的第一寿命极值，能够便于后续对led的使用寿命范围的预测。通过使用历史测试数据中的影响系数和测试寿命值，实现综合led在不同条件下的性能表现，使得计算更准确。通过使用多次电流冲击测试中的最大冲击电流值，它考虑了led在最大应力条件下的性能，从而更准确地估计了第一寿命极值。通过上述公式，可以得到一个数值化的第一寿命极值，这使得led的性能和寿命可以量化，从而更容易与其他led产品进行比较和评估，有助于制造商确定产品的性能、质量和寿命特性，以及在实际应用中更好地预测led的寿命。
14、可选地，所述计算得到所述led的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：
15、；
16、其中，tmax为所述led的第二寿命极值，imin为多次电流冲击测试中的最小冲击电流值。
17、通过采用上述技术方案，通过使用历史测试数据中的影响系数和测试寿命值，以及使用多次电流冲击测试中的最小冲击电流值，有助于计算更准确的第二寿命极值。通过上述公式，可以得到一个数值化的第二寿命极值，这使得led的性能和寿命可以量化，从而更容易与其他led产品进行比较和评估。有助于生产者确定产品的性能特性，以及在实际应用中更好地了解led的可维护性，从而提高产品的可靠性和性能管理。
18、可选地，所述根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述led的使用寿命范围，具体包括：将所述第一寿命极值设定为所述led的使用寿命范围的下限；将所述第一寿命极值设定为所述led的使用寿命范围的上限。
19、通过采用上述技术方案，通过明确设定第一寿命极值为使用寿命范围的下限，第二寿命极值为使用寿命范围的上限，可以得出一个具体的、明确的led使用寿命范围，有助于各方更好地理解和把握led的使用寿命，从而为决策者提供了更为准确和可靠的依据，有助于做出更为准确和合理的决策。对于生产者来说，了解led的具体使用寿命范围，有助于增强产品质量控制，改进生产工艺，提高产品质量。对于使用者来说，明确的led使用寿命范围有助于更好地规划和使用产品，防止产品在预期的使用寿命之前过早失效，提高了产品的使用效率。
20、可选地，所述方法还包括：向用户设备发送所述led的使用寿命范围，以便于所述用户设备向用户展示所述led的使用寿命范围。
21、通过采用上述技术方案，通过向用户设备发送led的使用寿命范围，用户可以更直接地了解led的性能和使用寿命，提高了信息的透明度，使用户能够更好地评估和规划led的使用。用户可以在用户设备上直接查看led的使用寿命范围，使得用户更加参与到led的使用和决策过程中来，提高了用户的参与度和决策的准确性。通过了解led的使用寿命范围，用户可以更好地规划和安排led的使用，避免了led过早失效或者过度使用的情况，提高了设备的使用效率。通过向用户设备发送led的使用寿命范围，使用户能够更直观地理解和查看led的性能和使用寿命信息，增强了产品与用户之间的交互性，有助于提高用户体验和满意度。
22、在本申请的第二方面提供了一种led的寿命本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种LED的寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要1所述的寿命预测方法，其特征在于，所述基于所述冲击电流值，计算得到所述LED的寿命衰减值，通过如下公式计算所述LED的寿命衰减值：
3.根据权利要1所述的寿命预测方法，其特征在于，所述根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述LED的使用寿命范围，具体包括：
4.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述计算得到所述LED的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：
5.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述计算得到所述LED的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：
6.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述LED的使用寿命范围，具体包括：
7.根据权利要求1所述的寿命预测方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.一种LED的寿命预测装置，其特征在于，所述寿命预测装置包括获取模块(21)和处理模块(22)，其中，
9.一种电子设备，其特征在于，
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有指令，当所述指令被执行时，执行如权利要求1至7任意一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种led的寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要1所述的寿命预测方法，其特征在于，所述基于所述冲击电流值，计算得到所述led的寿命衰减值，通过如下公式计算所述led的寿命衰减值：
3.根据权利要1所述的寿命预测方法，其特征在于，所述根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述led的使用寿命范围，具体包括：
4.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述计算得到所述led的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：
5.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述计算得到所述led的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：
6.根据权利要求3所述的寿命预测方法，其特征在于，所述根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭大明，
申请(专利权)人：深圳市明上光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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