【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及位移测量，具体地，涉及一种微波超分辨全场位移测量系统和方法。
技术介绍
1、非接触式位移测量是力学测试与工程感知的重要手段，是科研与工程人员关注和研究的重点。现有的非接触式测量技术包括视觉、激光和微波测量等。微波位移测量法具有更大的穿透力和更慢的衰减，在模糊和长距离场景中具有优势，因此是一种有极大潜力的非接触式位移测量技术。微波雷达首先采用分布式天线发射和接收线性调频连续波(lfmcw)区分不同距离和方位的点。随后，可以使用干涉测量法获取不同时刻目标的位置并获取相邻时刻之间的位移。然而微波感知的方位分辨率差，限制了它们的工程应用。当分辨率不足时，相邻目标无法区分，测量得到的位移是多个目标位移的强耦合值，全场位移测量失效。因此，如何实现高精度和高可靠性的微波超分辨全场位移测量具有迫切的需求和意义。
技术实现思路
1、针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种微波超分辨全场位移测量系统和方法。
2、根据本专利技术提供的微波超分辨全场位移测量系统，包括：
<...【技术保护点】
1.一种微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述微波多通道收发雷达包括线性调频连续波微波信号源、功率分配器、混频器、放大器、发射天线阵列、接收天线阵列；
3.根据权利要求2所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述发射天线阵列和接收天线阵列至少有一种具有多个通道形成阵列。
4.根据权利要求1所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述超分辨位移测量控制与处理器包括控制单元、信号采集单元与处理单元，控制单元用于控制雷达发射信号包括带宽、扫频频率与...
【技术特征摘要】
1.一种微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述微波多通道收发雷达包括线性调频连续波微波信号源、功率分配器、混频器、放大器、发射天线阵列、接收天线阵列；
3.根据权利要求2所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述发射天线阵列和接收天线阵列至少有一种具有多个通道形成阵列。
4.根据权利要求1所述的微波超分辨全场位移测量系统，其特征在于，所述超分辨位移测量控制与处理器包括控制单元、信号采集单元与处理单元，控制单元用于控制雷达发射信号包括带宽、扫频频率与时长在内的信息，信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊玉勇，刘昭宇，彭志科，孟光，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：
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