【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及机械加工领域，具体涉及一种锥面误差分析方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
1、零件加工误差通过装配过程中的结合面累积传递，最终形成装配体误差，因此，建立合适的公差模型，分析零件结合面的误差形成机理与传递形式是求解装配误差的前提。常见的零件结合面有平面、圆柱面和锥面，国内外许多学者对平面和圆柱面公差建模做了大量的研究。关于锥面，其具有配合自锁性好，方便拆卸，能传递较大扭矩的优点，且多次装拆对定位精度的影响较小，被广泛应用于机床主轴与刀盘的联接，但关于锥面误差分析的研究甚少。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种锥面误差分析方法、装置、存储介质及电子设备，其能够实现锥面误差的定量分析，方便快捷。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：
3、第一方面，本专利技术提供了一种锥面误差分析方法，其包括：
4、基于小位移旋量法和响应面法，拟合得到误差分量带宽dψ与圆锥体锥面锥度圆锥体半径尺寸公差带宽t之间的显式函数关系dψ＝f(t,n)；
5、获取目标圆锥体的锥面锥度n目标和半径尺寸公差带宽t目标，代入显式函数求得目标圆锥体的误差分量带宽d目标。
6、进一步，显式函数的得到具体包括如下步骤：
7、步骤一，基于小位移旋量法确定圆锥体误差分量参数ψ的变动不等式和约束不等式：
8、式中，r为圆锥体半径，tl为圆锥体半径的下偏差，tu为圆锥体半径的上偏差，h为圆锥体高度，为圆锥
9、步骤二，基于误差分量参数ψ的变动不等式对若干个圆锥体的误差分量参数进行服从正态分布的随机抽样实验，记录满足约束不等式的数据组，并选取若干个满足约束不等式的数据组形成建模样本；
10、步骤三，依据步骤二的建模样本基于响应面法拟合得到误差分量带宽dψ与圆锥体锥面锥度圆锥体半径尺寸公差带宽t的显式函数。
11、进一步，步骤一中所述圆锥体误差分量参数ψ包括三个转动矢量α、β、δ，以及三个平移矢量μ、ν、ω，式中，
12、转动矢量α表示圆锥体绕x轴的旋转微小变动量；
13、转动矢量β表示圆锥体绕y轴的旋转微小变动量；
14、转动矢量δ表示圆锥体绕z轴的旋转微小变动量；
15、平移矢量μ表示圆锥体绕x轴的平移微小变动量；
16、平移矢量ν表示圆锥体绕y轴的平移微小变动量；
17、平移矢量ω表示圆锥体绕z轴的平移微小变动量；
18、其中，α＝β，μ＝ν，δ＝ω＝0；
19、约束不等式中的式中，z为锥面素线上某一点的z轴坐标值。
20、进一步，步骤二中所述随机抽样实验的抽样次数不小于10000次。
21、进一步，步骤一中所述误差分量参数的变动不等式依据圆锥体高度、圆锥体锥面锥度以及圆锥体半径尺寸公差确定。
22、第二方面，本专利技术提供了一种锥面误差分析装置，其能够执行上述的锥面误差分析方法的步骤，包括：构建模块和结果输出模块；所述构建模块用于基于小位移旋量法和响应面法，拟合得到误差分量带宽dψ与圆锥体锥面锥度圆锥体半径尺寸公差带宽t之间的显式函数关系dψ＝f(t,n)；
23、所述结果输出模块用于获取目标圆锥体的锥面锥度n目标和半径尺寸公差带宽t目标，代入显式函数求得目标圆锥体的误差分量带宽d目标。
24、第三方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时，实现上述的锥面误差分析方法的步骤。
25、第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述存储器中存储的计算机程序，以实现上述的锥面误差分析方法的步骤。
26、本专利技术的有益效果：本专利技术基于小位移旋量法确定误差分量的约束条件，然后通过随机抽样实验确定满足约束条件的数据组，基于响应面法，拟合得到误差分量带宽dψ与圆锥体锥面锥度圆锥体半径尺寸公差带宽t之间的显式函数关系dψ＝f(t,n)，利用该显式函数关系快速确定得到目标圆锥体的误差分量带宽，实现了锥面误差的定量分析，方便快捷。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种锥面误差分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的锥面误差分析方法，其特征在于，显式函数的得到具体包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤一中所述圆锥体误差分量参数ψ包括三个转动矢量α、β、δ，以及三个平移矢量μ、ν、ω，式中，
4.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤二中所述随机抽样实验的抽样次数不小于10000次。
5.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤一中所述误差分量参数的变动不等式依据圆锥体高度、圆锥体锥面锥度以及圆锥体半径尺寸公差确定。
6.一种锥面误差分析装置，其特征在于，能够执行如权利要求1～5任一项所述的锥面误差分析方法的步骤，包括：
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时，实现如权利要求1～5任一项所述的锥面误差分析方法的步骤。
8.一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理
...【技术特征摘要】
1.一种锥面误差分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的锥面误差分析方法，其特征在于，显式函数的得到具体包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤一中所述圆锥体误差分量参数ψ包括三个转动矢量α、β、δ，以及三个平移矢量μ、ν、ω，式中，
4.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤二中所述随机抽样实验的抽样次数不小于10000次。
5.根据权利要求2所述的锥面误差分析方法，其特征在于，步骤一中所述误差分量参数的变动不等式依据圆锥体高...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗静，杜建超，徐袁宏，罗娟，赵宇，梁梦洋，熊云泽，
申请(专利权)人：重庆理工大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。