【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及控制电路，具体涉及一种磁性与非磁性检测切换电路及检测探头。
技术介绍
1、在冲压自动线的机器人上料部分，由于钢板表面油膜的作用等原因，常会使钢板互相粘着在一起，因此流水线上通常会设置双张检测设备。
2、目前双张检测设备主要通过单探头进行单双张片料检测，通过单探头中的线圈产生的变化磁场进行检测，置于变化磁场中的金属导体会产生旋窝状感应电流。板材厚度变化会导致感应系数发生相应变化，通过这种变化，控制单元可以计算出板材的厚度。与预先学习的信号比较，相应的会给出零板材，单张板材，双张板材的输出信号。
3、针对磁性材料和非磁性材料需要用不同磁场强度的探头进行检测，因此在检测磁性或非磁性材料时，需要频繁更换检测探头，操作不便且步骤较为繁琐。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术提出磁性与非磁性检测切换电路及检测探头，能够确保检测探头的可靠性和准确性，提高检测效率。
2、本专利技术的技术方案是这样实现的：
3、一种磁性与非磁性检测切换电路，包括：
4、主控器mcu，其用于输出电平信号；
5、切换电路，其输入端与所述主控器mcu的信号输出口相连，所述切换电路用于根据高低电平信号输出5v或-12v电压；
6、磁性检测电路，所述磁性检测电路至少包括一个高压方波发送端p1，所述磁性选择电路与所述切换电路的输出端连接并在接收到5v电压时导通；
7、非磁性检测电路，所述非磁性检测电路至少
8、检测线圈l1，其两端分别与所述磁性检测电路以及非磁性检测电路的输出端连接；
9、所述主控器mcu发出高电平信号时，所述切换电路的输出端发出5v电压，所述磁性检测电路被控导通，所述非磁性检测电路截止，所述检测线圈l1上加有高压方波；
10、所述主控器mcu发出低电平信号时，所述切换电路的输出端发出-12v电压，所述非磁性检测电路被控导通，所述非磁性检测电路截止，所述检测线圈l1上加有正弦波。
11、进一步的，所述切换电路包括非门u1、非门u2、光耦合器u3以及光耦合器u4，所述主控器mcu的信号输出口经过所述非门u1连接所述非门u2的输入端和光耦合器u4的2引脚，所述非门u2的输出端连接所述光耦合器u3的2引脚；所述光耦合器u3和光耦合器u4的1引脚接有5v电压；
12、所述光耦合器u3次级的4引脚连接5v电压，3引脚连接所述磁性检测电路；所述光耦合器u4次级的3引脚连接-12v电压，4引脚连接所述非磁性检测电路。
13、进一步的，所述磁性检测电路还包括光耦合器k2、光耦合器k4，所述光耦合器k2、光耦合器k4初级2引脚接地，1引脚与所述切换电路的输出端连接；所述光耦合器k2、光耦合器k4次级连接所述高压方波发送端p1和检测线圈l1。
14、进一步的，所述非磁性检测电路还包括光耦合器k1、光耦合器k3，所述光耦合器k1、光耦合器k3初级的1引脚接地，2引脚与所述切换电路的输出端连接；所述光耦合器k2、光耦合器k4次级连接所述正弦波发送端p2和检测线圈l1。
15、进一步的，所述检测线圈与一电容c16并联。
16、进一步的，所述切换电路和所述磁性检测电路、非磁性检测电路之间还连接有肖特基二极管d1。
17、本专利技术实施方式第二方面提出了一种检测探头，包括如本实施方式第一方面公开的所述的磁性与非磁性检测切换电路。
18、与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：
19、本专利技术通过主控器mcu发出的高低电平指令，触发切换电路向磁性检测电路和非磁性检测电路发送5v或-12v电压，磁性检测电路只在5v电压时导通，其内部的高压方波发送端p1将高压方波加到检测线圈l1上，实现磁性材料的检测，在接收到-12v电压时，非磁性检测电路导通，磁性检测电路截止，正弦波发送端p2的正弦波加到检测线圈l1上，实现对非磁性材料的检测。本专利技术通过切换电路实现了两种不同功能探头的切换，简单便捷的实现了单一探头上高压方波和正弦波的叠加且互不干扰，免去了更换探头、调试设备的步骤，提高了工作效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述切换电路包括非门U1、非门U2、光耦合器U3以及光耦合器U4，所述主控器MCU的信号输出口经过所述非门U1连接所述非门U2的输入端和光耦合器U4的2引脚，所述非门U2的输出端连接所述光耦合器U3的2引脚；所述光耦合器U3和光耦合器U4的1引脚接有5V电压；
3.根据权利要求2所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述磁性检测电路还包括光耦合器K2、光耦合器K4，所述光耦合器K2、光耦合器K4初级2引脚接地，1引脚与所述切换电路的输出端连接；所述光耦合器K2、光耦合器K4次级连接所述高压方波发送端P1和检测线圈L1。
4.根据权利要求3所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述非磁性检测电路还包括光耦合器K1、光耦合器K3，所述光耦合器K1、光耦合器K3初级的1引脚接地，2引脚与所述切换电路的输出端连接；所述光耦合器K2、光耦合器K4次级连接所述正弦波发送端P2和检测线圈L1。
5.根据权利要求4所述的磁
6.根据权利要求5所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述切换电路和所述磁性检测电路、非磁性检测电路之间还连接有肖特基二极管D1。
7.一种检测探头，其特征在于，包括如权利要求1至6任一项所述的磁性与非磁性检测切换电路。
...【技术特征摘要】
1.一种磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述切换电路包括非门u1、非门u2、光耦合器u3以及光耦合器u4，所述主控器mcu的信号输出口经过所述非门u1连接所述非门u2的输入端和光耦合器u4的2引脚，所述非门u2的输出端连接所述光耦合器u3的2引脚；所述光耦合器u3和光耦合器u4的1引脚接有5v电压；
3.根据权利要求2所述的磁性与非磁性检测切换电路，其特征在于，所述磁性检测电路还包括光耦合器k2、光耦合器k4，所述光耦合器k2、光耦合器k4初级2引脚接地，1引脚与所述切换电路的输出端连接；所述光耦合器k2、光耦合器k4次级连接所述高压方波发送端p1和检...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹国华，张俊，潘崇杰，
申请(专利权)人：阿童木广州智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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