【技术实现步骤摘要】
本申请涉及微波遥感，特别是涉及一种基于交互式的任意角度斜视sar点目标评估方法和装置。
技术介绍
1、sar是一种适用于全天时、全天候条件的高分辨率空对地遥感观测技术。为衡量合成孔径雷达系统的性能，常使用点目标的图像性能指标作为依据。通常的操作是，首先提取点目标的距离向和方位向剖面，接着对其进行插值处理以获取高精度的评估指标，继而计算其分辨率、峰值旁瓣比(integrated sidelobe ratio,islr)和积分旁瓣比(peaksidelobe ratio，pslr)等指标。
2、对于正侧视或是角度很小的斜视sar系统中，距离向和方位向剖面可以认为是垂直的。但是在大斜视sar系统中，距离向数据会发生倾斜，提取剖面数据和计算指标不同于正侧视。现有的斜视sar点目标评估方法有一定的角度限制，难以适用于大斜视sar成像。此外，不同斜视角的sar系统目标距离和方位剖面倾角不同，同一斜视sar数据通过不同的成像算法处理后目标距离和方位剖面倾角也可能不同。因此，需要一种能够广泛适用的点目标评估方法和装置。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够针对斜视的基于交互式的任意角度斜视sar点目标评估方法和装置。
2、一种基于交互式的任意角度斜视sar点目标评估方法，所述方法包括：
3、获取包含待评估目标点的二维复数据，所述二维复数据由sar雷达对待评估目标点进行任意角度探测得到的目标回波数据进行成像后得到；
4、对所述
5、通过交互式截取方式，在进行预处理后的二维复数据上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域；
6、提取两个所述局部区域中最强值点分别作为方位向控制点以及距离向控制点，根据所述全局峰值点位置坐标分别与所述方位向控制点坐标、距离向控制点坐标进行计算得到对应的切片斜率；
7、通过对所述切片斜率进行判断，分别采用相应的方式在所述二维复数据上提取方位向剖面数据以及距离向剖面数据；
8、分别根据所述方位向剖面数据以及距离向剖面数据计算分辨率、积分旁瓣比以及峰值旁瓣比，以实现对任意角度斜视sar点目标进行评估。
9、在其中一实施例中，对所述二维复数据进行预处理包括：
10、以所述待评估目标点为中心，按照预设尺寸大小对所述二维复数据进行截取，得到截取后二维复数据；
11、对所述截取后二维复数据进行升采样操作，得到复数据方阵，在所述复数据方阵中提取所述全局峰值位置坐标。
12、在其中一实施例中，在通过交互式截取方式，在所述复数据方阵上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域之前：
13、还根据所述复数据方阵生成对应的目标区域图像；
14、并在所述目标区域图像上以所述全局峰值点位置坐标为原点建立平面直角坐标系。
15、在其中一实施例中，所述两个局部区域为在所述目标区域图像中的方位向上和距离向上任意截取的两个尺寸相同的局部区域。
16、在其中一实施例中，所述根据所述全局峰值点位置坐标分别与所述方位向控制点坐标、距离向控制点坐标进行计算得到对应的切片斜率，采用以下公式：
17、ka＝(ymax-ya)/(xmax-xa)
18、在上式中，(xmax，ymax)表示所述全局峰值点位置坐标，(xa，ya)表示所述方位向控制点坐标或距离向控制点坐标。
19、在其中一实施例中，通过对所述切片斜率进行判断，分别采用相应的方式在所述二维复数据上提取方位向剖面数据以及距离向剖面数据包括：
20、当所述切片斜率满足第一预设范围时，则在所述二维复数据上逐行提取所述方位向剖面数据以及距离向剖面数据；
21、当所述切片斜率满足第二预设范围时，则在所述二维复数据上逐行提取所述方位向剖面数据以及距离向剖面数据。
22、在其中一实施例中，所述第一预设范围为：所述切片斜率的绝对值大于等于-1；
23、所述第二预设范围为：所述切片斜率的绝对值大于等于0，且小于1。
24、在其中一实施例中，分别根据所述方位剖面数据以及距离向剖面数据计算分辨率,采用以下公式：
25、
26、在上式中，b表示方位向或距离向的3db带宽，δa和δr分别表示方位向和距离向的采样间隔，k表示所述切片斜率。
27、本申请还提供了一种基于交互式的任意角度斜视sar点目标评估装置，所述装置包括：
28、待评估数据得到模块，用于获取包含待评估目标点的二维复数据，所述二维复数据由sar雷达对待评估目标点进行任意角度探测得到的目标回波数据进行成像后得到；
29、峰值点位置坐标提取模块，用于对所述二维复数据进行预处理后，提取其中的全局峰值点位置坐标
30、局部区域得到模块，用于通过交互式截取方式，在进行预处理后的二维复数据上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域；
31、切片斜率得到模块，用于提取两个所述局部区域中最强值点分别作为方位向控制点以及距离向控制点，根据所述全局峰值点位置坐标分别与所述方位向控制点坐标、距离向控制点坐标进行计算得到对应的切片斜率；
32、剖面数据得到模块，用于通过对所述切片斜率进行判断，分别采用相应的方式在所述二维复数据上提取方位向剖面数据以及距离向剖面数据；
33、点目标评估模块，用于分别根据所述方位剖面数据以及距离向剖面数据计算分辨率、积分旁瓣比以及峰值旁瓣比，以实现对任意角度斜视sar点目标进行评估。
34、一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
35、获取包含待评估目标点的二维复数据，所述二维复数据由sar雷达对待评估目标点进行任意角度探测得到的目标回波数据进行成像后得到；
36、对所述二维复数据进行预处理后，提取其中的全局峰值点位置坐标：
37、通过交互式截取方式，在进行预处理后的二维复数据上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域；
38、提取两个所述局部区域中最强值点分别作为方位向控制点以及距离向控制点，根据所述全局峰值点位置坐标分别与所述方位向控制点坐标、距离向控制点坐标进行计算得到对应的切片斜率；
39、通过对所述切片斜率进行判断，分别采用相应的方式在所述二维复数据上提取方位向剖面数据以及距离向剖面数据；
40、分别根据所述方位向剖面数据以及距离向剖面数据计算分辨率、积分旁瓣比以及峰值旁瓣比，以实现对任意角度斜视sar点目标进行评估。
41、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
42、获取包含待评估目标点的二维复数据，所述二维复数据由sar雷达本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于交互式的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，对所述二维复数据进行预处理包括：
3.根据权利要求2所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，在通过交互式截取方式，在所述复数据方阵上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域之前：
4.根据权利要求3所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，所述两个局部区域为在所述目标区域图像中的方位向上和距离向上任意截取的两个尺寸相同的局部区域。
5.根据权利要求4所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，所述根据所述全局峰值点位置坐标分别与所述方位向控制点坐标、距离向控制点坐标进行计算得到对应的切片斜率，采用以下公式：
6.根据权利要求5所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，通过对所述切片斜率进行判断，分别采用相应的方式在所述二维复数据上提取方位向剖面数据以及距离向剖面数据包括：
7.根据权利要求6所述的任意角度斜视SAR点
8.根据权利要求7所述的任意角度斜视SAR点目标评估方法，其特征在于，分别根据所述方位剖面数据以及距离向剖面数据计算分辨率,采用以下公式：
9.一种基于交互式的任意角度斜视SAR点目标评估装置，其特征在于，所述装置包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于交互式的任意角度斜视sar点目标评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的任意角度斜视sar点目标评估方法，其特征在于，对所述二维复数据进行预处理包括：
3.根据权利要求2所述的任意角度斜视sar点目标评估方法，其特征在于，在通过交互式截取方式，在所述复数据方阵上分别得到方位向上和距离向上对应的两个局部区域之前：
4.根据权利要求3所述的任意角度斜视sar点目标评估方法，其特征在于，所述两个局部区域为在所述目标区域图像中的方位向上和距离向上任意截取的两个尺寸相同的局部区域。
5.根据权利要求4所述的任意角度斜视sar点目标评估方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈兴，董臻，何志华，章泽华，涂成毅，侯振宇，王先涛，张犇，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：
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