【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路性能评估，具体涉及一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法。
技术介绍
1、模拟ic自动生成是指根据设计指标自动生成满足要求且优化好元器件参数值的电路，是模拟ic实现设计自动化的关键。
2、目前模拟ic需要工程师根据设计要求手工选择合适的基础元器件，形成一定的组合，设计出符合要求的电路结构，并确定电路元器件的参数。工程师需要利用spice等仿真工具对电路进行仿真，根据仿真结果对电路拓扑结构或器件参数不断调整，直到满足设计指标。这种手工设计模拟ic的方式十分依赖设计人员的专业知识和经验，然而，即使是经验丰富的高级工程师，手工设计也是一项十分耗时的任务。更为严峻的是，随着工艺尺寸的不断缩小、设计周期的不断缩短和对高性能低功耗电路需求的不断上升，手工设计模拟ic正变得愈发困难。为适应模拟ic向高频、高精度、低失真和低功耗等方向发展的需求，急需发展模拟ic自动生成技术，以具备自动产生更多新型模拟电路的能力。
3、现有的模拟ic自动生成主要是通过基于优化的方案来实现的，将其配置成有约束条件的...
【技术保护点】
1.一种适用于模拟IC自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种适用于模拟IC自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤S1中，采用小信号模型参数值可能范围的中心值作为符号分析算法的输入。
3.根据权利要求2所述的一种适用于模拟IC自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤S1中，采用的小信号模型，包含金属氧化物半导体场效应晶体管的参数：本征跨导gm、漏源电导gds、栅源本征电容Cgs和栅漏本征电容Cgd。
4.根据权利要求1所述的一种适用于模拟IC自动生成的电路...
【技术特征摘要】
1.一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s1中，采用小信号模型参数值可能范围的中心值作为符号分析算法的输入。
3.根据权利要求2所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s1中，采用的小信号模型，包含金属氧化物半导体场效应晶体管的参数：本征跨导gm、漏源电导gds、栅源本征电容cgs和栅漏本征电容cgd。
4.根据权利要求1所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s2包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s2.3中，通过广义边界曲线算法计算得到电路参数的修正值x，其最小化目标函数如下：
6.根据权利要求4所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s2.5中，线性化是否有效的检查采用如下公式：
7.根据权利要求4所述的一种适用于模拟ic自动生成的电路原理图性能评估方法，其特征在于：所述步骤s2.6中，检查终止条件为：
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