一种中红外激光方位角和仰角的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及中红外探测领域，具体涉及一种可以对中红外激光的方位角和仰角进行精确测量的装置和方法。装置包括：激光器、原子气池、滤波片、位移台和光束质量分析仪；激光器产生的泵浦光沿光轴Z轴入射至原子气池发生自发频率转换过程，产生的参考光束通过滤波片进入光束质量分析仪；目标中红外激光与泵浦光束相交于原子气池，诱发第二频率转换过程，产生的待测光束经滤波片进入光束质量分析仪；所述光束质量分析仪设置在位移台上，用于在所述位移台的驱动下沿光轴Z轴移动，在不同位置处分别同时探测参考光束和待测光束的光斑图像。本发明专利技术具有成本较低，稳定，高灵敏度且高精度等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及中红外探测领域，具体涉及一种可以对中红外激光的方位角和仰角进行精确测量的装置和方法。

技术介绍

1、中红外探测广泛应用在材料加工、航空航天、激光遥感、光谱诊断、生物医学乃至国防军事等
，目前已经成为重要的战略支撑技术之一。其中，中红外激光的定位在大气遥感测量、机器人红外激光导航、激光三维全息投影技术和红外激光定向对抗中都有着极其重要的作用。因此，精确测量中红外激光的方位角和仰角具有重要的意义。

2、传统的中红外激光方位角和仰角的测量一般通过直接探测的方式获得，比如中红外激光探片，中红外探测器和中红外相机等。当中红外辐射照射到探片表面时，探片的敏感层吸收红外光子，导致感光材料内部的电子激发用于后续成像；红外探测器或相机的原理与探片类似，即通过吸收中红外辐射并将其转化为电信号。然而上述方法在标定中红外激光的过程中都存在成本高昂，易受环境影响，探测灵敏度低和测量误差大的缺陷。

技术实现思路

1、本专利技术克服现有技术存在的不足，所要解决的技术问题为：提供一种基于频率上转换的中红外探测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，包括：激光器(1)、原子气池(5)、滤波片(6)、位移台(7)和光束质量分析仪(8)；

2.根据权利要求1所述的一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，还包括计算单元(9)，所述计算单元(9)用于根据光轴不同位置处的光斑图像中待测光束相对于参考光束的在X方向和Y方向的位移，计算得到目标中红外激光(4)的方位角和仰角。

3.根据权利要求2所述的一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，还包括显示屏(12)，用于显示测量得到的光斑图像和计算得到的中红外激光方位角和仰角信息。p>

4.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，包括：激光器(1)、原子气池(5)、滤波片(6)、位移台(7)和光束质量分析仪(8)；

2.根据权利要求1所述的一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，还包括计算单元(9)，所述计算单元(9)用于根据光轴不同位置处的光斑图像中待测光束相对于参考光束的在x方向和y方向的位移，计算得到目标中红外激光(4)的方位角和仰角。

3.根据权利要求2所述的一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，还包括显示屏(12)，用于显示测量得到的光斑图像和计算得到的中红外激光方位角和仰角信息。

4.根据权利要求1所述的一种中红外激光方位角和仰角的测量装置，其特征在于，目标中红外激光(4)的方位角和仰角的计算公式为：

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【专利技术属性】
技术研发人员：元晋鹏，汪丽蓉，刘宁，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：