一种用于成像系统的探测器技术方案

技术编号:39944648 阅读:22 留言:0更新日期:2024-01-08 22:49
本说明书实施例提供一种用于成像系统的探测器,包括:参考探测器模组,用于确定信号探测器的数据处理参数,所述信号探测器的数据处理参数通过获取所述参考探测器模组输出的参考数据,并分析所述参考数据而确定。其中,所述参考探测器模组包括至少一个前置滤过器,所述滤过器包括两种或以上滤过材料,用于与所述参考探测器模组中的至少一个参考探测器配合,修正所述信号探测器在预设入射光子条件下的非线性响应。

【技术实现步骤摘要】

本说明书涉及医疗器械领域,特别涉及一种用于成像系统的探测器


技术介绍

1、ct(computed tomography,计算机断层扫描)成像设备,是用x射线束对人体某部一定厚度的层面进行扫描,由ct探测器接收透过该层面的x射线,转变为可见光后,由光电转换变为电信号,再经模拟/数字转换器转为数字,输入计算机处理并最终形成图像信息,从而为医生判断患者体内组织是否发生病变提供科学依据。优质的ct图像,不仅取决于扫描参数集的设定,还取决于重建、矫正、后处理等过程中的数据处理参数的选择。

2、因此,希望提出一种用于成像系统的探测器,能够为信号探测器提供参考标准的同时,帮助确定更合理准确的数据处理参数。


技术实现思路

1、本说明书一个方面提供一种用于成像系统的探测器。该探测器包括:参考探测器模组,用于确定信号探测器的数据处理参数;所述信号探测器的数据处理参数通过获取所述参考探测器模组输出的参考数据,并分析所述参考数据而确定;其中,所述参考探测器模组包括至少一个前置滤过器,所述滤过器包括两种或以上滤过材料,用本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于成像系统的探测器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探测器,其特征在于,所述参考探测器模组包括至少两个参考探测器,所述至少两个参考探测器中的其中一个参考探测器用于修正所述信号探测器在预设入射条件下的非线性响应。

3.根据权利要求1所述的探测器,其特征在于,所述参考探测器模组包括至少一个光子计数型参考探测器。

4.根据权利要求3所述的探测器,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的探测器,其特征在于,所述滤过器的当前滤过材料根据扫描协议确定,和/或,所述滤过器的滤过厚度根据所述被检体的信息确定。

6.根据权利要...

【技术特征摘要】

1.一种用于成像系统的探测器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探测器,其特征在于,所述参考探测器模组包括至少两个参考探测器,所述至少两个参考探测器中的其中一个参考探测器用于修正所述信号探测器在预设入射条件下的非线性响应。

3.根据权利要求1所述的探测器,其特征在于,所述参考探测器模组包括至少一个光子计数型参考探测器。

4.根据权利要求3所述的探测器,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的探测器,其特征在于,所述滤过器的当前滤过材料根据扫描协议确定,和/或,所述滤过器的滤过厚度根据所述被检体的信息确定。

6.根据权利要求3所述的探测器,其特征在于,所述光子计数型参考探测器的能量探测范围与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘阳依唐靖
申请(专利权)人:上海联影医疗科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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