一种反射率光谱检测设备制造技术

本发明专利技术实施例提供的一种反射率光谱检测设备，涉及光谱检测技术领域，通过偏振结构接收环境光照射到目标物体表面反射的反射光，并消除反射光中垂直于偏振方向的镜面反射光，得到平行于偏振方向的反射光；光谱传感器接收平行于偏振方向的反射光，并识别平行于偏振方向的反射光中多个预设波段的光谱强度；上光谱仪采集多角度的漫散射光，并识别多角度的漫散射光中多个预设波段的光谱强度；处理器根据平行于偏振方向的反射光中多个预设波段的光谱强度和多角度的漫散射光中多个预设波段的光谱强度，计算目标物体的成分信息。通过本申请的反射率光谱检测设备，可以避免镜面反射光的影响，从而提高反射率光谱的测量的准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱检测，特别是涉及一种反射率光谱检测设备。

技术介绍

1、目前，高光谱技术在物质分析领域发挥着越来越重要的作用，通过对物质的高光谱反射率的分析，可以获取物质的表面结构、组分、含量乃至温度等多种信息。

2、然而，对于表面较为光滑的水体，获取的反射光谱往往会包含着大量环境光的镜面反射光，这些镜面反射光不包含任何目标地物相关的信息，并且会导致实时监测中获取的反射率稳定性较差，难以进行后续的结构、组分分析。

技术实现思路

1、本专利技术实施例的目的在于提供一种反射率光谱检测设备，以提高反射率光谱的测量的准确率。具体技术方案如下：

2、本申请实施例的第一方面，首先提供了一种反射率光谱检测设备，包括：处理器、镜头、偏振结构、光谱传感器、匀光光路、上光谱仪；

3、所述镜头设置于所述偏振结构和所述光谱传感器之间，所述上光谱仪设置于所述匀光光路后端，所述处理器分别与所述光谱传感器和所述上光谱仪相连；

4、所述偏振结构，用于接收环境光照射到目标物体表面反射的反射光，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种反射率光谱检测设备，其特征在于，包括：处理器、镜头、偏振结构、光谱传感器、匀光光路、上光谱仪；

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括反射镜；

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括第一传导光纤；

6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述匀光光路为第二传导光纤；

7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述光谱传感器为成像光谱仪；

8.根据权利要求1所述的设备，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种反射率光谱检测设备，其特征在于，包括：处理器、镜头、偏振结构、光谱传感器、匀光光路、上光谱仪；

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括反射镜；

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括第一传导光纤；

6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：方晨，姚辛励，朱镇峰，蔡宏，毛慧，浦世亮，
申请(专利权)人：杭州海康威视数字技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：