一种内存条拔插寿命测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及内存条测试技术领域，具体公开了一种内存条拔插寿命测试装置，包括内存条存储箱

【技术实现步骤摘要】
一种内存条拔插寿命测试装置


[0001]本技术涉及内存条测试
，具体是一种内存条拔插寿命测试装置
。

技术介绍

[0002]随着计算机技术的迅速发展和普及，内存条的使用频率逐渐的上升
。
内存条是
CPU
可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件
。
内存条在个人电脑历史上曾经是主内存的扩展
。
随着电脑软
、
硬件技术不断更新的要求，内存条已成为读写内存的整体
。
[0003]内存条在研发完成后，需要对其进行测试，内存条拔插寿命的测试是需要测试的一种，内存条拔插寿命的测试需要内存条的多次插拔工作，现有技术中的测试机不便于调节控制不同内存条插入至测试插座的内存槽的深度，在插拔的过程中，容易造成内存槽或内存条损坏，影响测试结果
。
[0004]在现有技术中，公开号为
CN112326230A
的专利技术专利公开了一种内存条拔插寿命测试机，包括动力机构
、
推架机构
、
缓冲架机构
、
内存条夹具机构
、
测试插座机构和基座，所述动力机构固定连接在所述基座上，所述动力机构传动连接所述推架机构，所述推架机构配合连接在所述基座上；所述缓冲架机构的外端与所述推架机构配合连接，所述缓冲架机构的内端固定连接所述内存条夹具机构；所述内存条夹具机构与所述测试插座机构相对设置；所述测试插座机构配合连接在所述基座上
。
该专利技术专利虽然通过内部内存条夹具机构带动夹持在其内侧的内存条运动的距离进行调节，带动内存条精准的插接在测试插座本体的内存槽内，降低插拔过程中对内存槽或内存条造成的损伤，但仍然存在无法根据内存条的型号精准调节内存条插入内存槽的深度，导致仍然需要手动控制插入深度的技术问题，并且在内存条拔插寿命测试后难以对内存条进行快速回收，影响内存条测试效率
。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种内存条拔插寿命测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0007]一种内存条拔插寿命测试装置，包括内存条存储箱
、
内存条移动机构
、
拔插接头以及带动所述内存条移动机构朝向拔插接头移动的驱动机构；所述内存条存储箱包括壳体和推动内存条移动的推料机构，所述内存条移动机构包括移动座和设置于所述移动座上用于固定内存条的固定机构，所述推料机构将壳体内部的内存条推入移动座，使内存条驱动固定机构动作，以对内存条进行固定，驱动机构控制内存条移动机构朝向拔插接头移动过程中，内存条跟随内存条移动机构朝向拔插接头移动，直至内存条插入拔插接头中，完成一次拔插寿命测试
。
[0008]作为本技术进一步的方案：所述推料机构包括滑动安装在所述壳体内部的推料板
、
转动安装在所述壳体内部的推料螺杆，所述推料板上固定安装有推料螺套，所述推料螺杆与所述推料螺套螺纹连接；所述推料机构还包括固定安装在所述壳体上的旋转电机，
所述旋转电机的输出端通过锥齿轮组与所述推料螺杆传动连接，用于驱动推料螺杆顺时针旋转
。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述壳体上开设有供内存条放入的进料口，壳体内部可一次性放入多根内存条，所述壳体内部设有至少一根与内存条上缺口适配的导向杆
。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述固定机构包括设置于所述移动座上的挤压板和两块对称设置于所述挤压板左右两侧的卡板，所述挤压板通过升降座滑动安装在所述移动座上，升降座的底部开设有滑槽，所述移动座内部开设有安装槽，安装槽内部竖直安装有顶杆，所述顶杆与所述滑槽之间设有复位弹簧，所述安装槽底部位于升降座的正下方还设置有常闭按钮
。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述移动座位于卡板的底部开设有驱动槽，所述卡板的底部滑动安装在所述驱动槽内部，且卡板的底部安装有至少一块铁块，所述驱动槽内部位于铁块相对的一侧固定安装有电磁铁，电磁铁与铁块之间设有至少一根连接弹簧，所述常闭按钮
、
电磁铁以及电磁铁电源串联
。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述驱动机构包括支架
、
转动安装在所述支架上的升降螺杆
、
滑动安装在支架上的连接螺套，连接螺套与升降螺杆螺纹连接，且连接螺套与移动座固定连接；所述支架上还安装有驱动所述升降螺杆旋转的驱动电机
。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述支架上还转动安装有转动杆，所述转动杆的一段通过齿轮箱与升降螺杆传动连接，且转动杆上安装有旋转套，旋转套通过连接臂连接安装有内存条回收箱，所述内存条回收箱设置于内存条移动机构和拔插接头之间，且内存条回收箱上开设有回收口
。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术通过设置内存条存储箱
、
内存条移动机构
、
拔插接头以及带动内存条移动机构朝向拔插接头移动的驱动机构，该内存条存储箱包括壳体和推动内存条移动的推料机构，内存条移动机构包括移动座和设置于所述移动座上用于固定内存条的固定机构，推料机构将壳体内部的内存条推入移动座，使内存条驱动固定机构动作，以对内存条进行固定，驱动机构控制内存条移动机构朝向拔插接头移动过程中，内存条跟随内存条移动机构朝向拔插接头移动，直至内存条插入拔插接头中，完成一次拔插寿命测试，提高内存条拔插寿命测试的效率
。
附图说明
[0015]图1为内存条拔插寿命测试装置的结构示意图
。
[0016]图2为内存条拔插寿命测试装置中内存条存储箱的结构示意图
。
[0017]图3为内存条拔插寿命测试装置中内存条存储箱的正视图
。
[0018]图4为内存条拔插寿命测试装置中内存条存储箱的局部示意图
。
[0019]图5为内存条拔插寿命测试装置中内存条移动机构的侧视图
。
[0020]图6为内存条拔插寿命测试装置中内存条移动机构的俯视图
。
[0021]图中：
10
‑
机架
、20
‑
内存条存储箱
、21
‑
壳体
、22
‑
导向杆
、23
‑
旋转电机
、24
‑
进料口
、25
‑
推料板
、26
‑
推料螺套
、27
‑
推料螺杆
、30
‑
内存条移动机构
、31
‑
移动座
、32
‑
挤压板
、33...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种内存条拔插寿命测试装置，其特征在于，包括内存条存储箱
(20)、
内存条移动机构
(30)、
拔插接头
(50)
以及带动所述内存条移动机构
(30)
朝向拔插接头
(50)
移动的驱动机构
(40)
；所述内存条存储箱
(20)
包括壳体
(21)
和推动内存条
(60)
移动的推料机构，所述内存条移动机构
(30)
包括移动座
(31)
和设置于所述移动座
(31)
上用于固定内存条
(60)
的固定机构，所述推料机构将壳体
(21)
内部的内存条推入移动座
(31)
，使内存条驱动固定机构动作，以对内存条
(60)
进行固定，驱动机构
(40)
控制内存条移动机构
(30)
朝向拔插接头
(50)
移动过程中，内存条
(60)
跟随内存条移动机构
(30)
朝向拔插接头
(50)
移动，直至内存条
(60)
插入拔插接头
(50)
，完成一次拔插寿命测试
。2.
根据权利要求1所述的内存条拔插寿命测试装置，其特征在于，所述推料机构包括滑动安装在所述壳体
(21)
内部的推料板
(25)、
转动安装在所述壳体
(21)
内部的推料螺杆
(27)
，所述推料板
(25)
上固定安装有推料螺套
(26)
，所述推料螺杆
(27)
与所述推料螺套
(26)
螺纹连接；所述推料机构还包括固定安装在所述壳体
(21)
上的旋转电机
(23)
，所述旋转电机
(23)
的输出端通过锥齿轮组与所述推料螺杆
(27)
传动连接，用于驱动推料螺杆
(27)
顺时针旋转
。3.
根据权利要求2所述的内存条拔插寿命测试装置，其特征在于，所述壳体
(21)
上开设有供内存条
(60)
放入的进料口
(24)
，壳体
(21)
内部可一次性放入多根内存条
(60)
，所述壳体
(21)
内部设有至少一根与内存条
(60)
上缺口适配的导向杆
(22)。4.
根据权利要求3所述的内存条拔插寿命测试装置，其特征在于，所述固定机构包括设置于所述移动座
(31)
上的挤压板
(32)
和两块对称设置于所述挤压板

【专利技术属性】
技术研发人员：詹利森，
申请(专利权)人：固存芯控半导体科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：