一种射频前端设备高效测试系统及其高效测试方法技术方案

本发明专利技术提供了一种射频前端设备高效测试系统，包括上行射频前端设备高效测试系统以及下行射频前端设备高效测试系统，上行射频前端设备高效测试系统用于对上行射频前端设备通道性能进行测试，下行射频前端设备高效测试系统用于对下行射频前端设备通道性能进行测试

【技术实现步骤摘要】
一种射频前端设备高效测试系统及其高效测试方法


[0001]本专利技术涉及电子测试测量
，具体是涉及一种射频前端设备高效测试系统及其高效测试方法
。

技术介绍

[0002]高通量卫星搭载多波束载荷，转发器测试端口数量远超常规广播通信卫星，在进行转发器射频性能测试时通常设计研制射频前端设备高效测试系统完成上下行测试端口匹配，以减少卫星测试星地长电缆数量，方便常温常压及热试验测试实施
。
采用射频前端设备的卫星转发器测试系统组成示意图如图
1。
[0003]射频前端设备分为上行前端设备
、
下行前端设备以及配套的射频测试前端控制器
。
上下行前端设备一般采用功分
/
合成器
+
射频开关的组合设计，图2给出了8通道上下行前端设备示意
。
上行前端设备用于完成公共端上行信号功分及单路选通，支持各个输出通道独立选通
。
下行前端设备用于完成下行多路信号合成，支持多个输入通道独立选通
。<br/>由于该设备需本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种射频前端设备高效测试系统，其特征在于：包括：上行射频前端设备高效测试系统以及下行射频前端设备高效测试系统，其中：所述上行射频前端设备高效测试系统用于对上行前端设备的通道性能进行测试；所述下行射频前端设备高效测试系统用于对下行前端设备的通道性能进行测试
。2.
根据权利要求1所述的射频前端设备高效测试系统，其特征在于：所述上行射频前端设备高效测试系统包括一上行矢量网络分析仪
、
一
M
通道测试分路器
、
一
M
通道测试合路器以及
M
个
X
通道测试合路器，所述
M
通道测试分路器的输入端连接在所述上行矢量网络分析仪端口
Port A
上，且所述
M
通道测试分路器的输出端分别与
M
个上行前端的公共端相连接，所述
M
通道测试合路器的输出端连接在所述上行矢量网络分析仪端口
Port B
上，一个所述
X
通道测试合路器的输入端对应与一个所述上行前端的星端相连接，
M
个所述
X
通道测试合路器的输出端分别对应所述
M
通道测试合路器的输入端连接
。3.
根据权利要求2所述的射频前端设备高效测试系统，其特征在于：所述
M
以及所述
X
均为大于0的整数，所述
M
通道测试分路器的输出端通道数量与所述上行前端的数量相等，所述
X
通道测试合路器的数量与所述上行前端的数量相等，且每个所述
X
通道测试合路器的输入端通道数量与所述上行前端的星端数量相等，所述
M
通道测试合路器的输入端通道数量与所述
X
通道测试合路器的数量相等
。4.
根据权利要求3所述的射频前端设备高效测试系统，其特征在于：所述上行前端的星端通过第一短电缆与所述
X
通道测试合路器的输入端相连接，且所述上行前端的公共端通过第一测试电缆与所述
M
通道测试分路器的输出端相连接，所述
M
通道测试分路器的输入端与所述上行矢量网络分析仪端口
Port A
通过第一长电缆相连接，所述
M
通道测试合路器的输出端与所述上行矢量网络分析仪端口
Port B
通过第一长电缆相连接，且所述
M
通道测试合路器的输入端通过第一测试电缆与所述
X
通道测试合路器的输出端相连接
。5.
根据权利要求4所述的射频前端设备高效测试系统，其特征在于：所述下行射频前端设备高效测试系统包括一下行矢量网络分析仪
、
一
N
通道测试分路器
、N
个
Y
通道测试分路器以及一
N
通道测试合路器，所述
N
通道测试分路器输入端连接在所述下行矢量网络分析仪端口
Port A
上，且所述
N
通道测试分路器的输出端分别与
N
个所述
Y
通道测试分路器的输入端相连接，一个所述
Y
通道测试分路器的输出端对应一个下行前端的星端相连接，所述
N
通道测试合路器的输入端分别与
N
个下行前端的公共端相连接，且所述
N
通道测试合路器的输出端连接在所述下行矢量网络分析仪端口
Port B
上
。6.
根据权利要求5所述的射频前端设备高效测试系统，其特征在于：所述
N
以及所述
Y
均为大于0的整数，所述
N
通道测试分路器的输出端通道数量与所述
Y
通道测试分路器的数量相等，所述
Y
通道测试分路器的数量与所述下行前端的数量相等，且所述
Y
通道测试分路器的输出端通道数量与所述下行前端的星端数量相等，所述
N
通道测试合路...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴源，马骏骁，徐汝军，谢华，刘焕生，任立新，侯卫国，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：