自动分析装置以及检体分析方法制造方法及图纸

以往，在光散射检测法中偏离定量范围的高浓度检体需要再检，需要长的测量时间

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动分析装置以及检体分析方法


[0001]本专利技术涉及临床检查用的自动分析装置以及检体分析方法
。

技术介绍

[0002]在临床检查用的自动分析装置中，基于光学测定来检测血液
、
尿等生物体试样
(
以下，称为检体
)
所包含的测定对象成分的浓度
。
具体而言，首先测量对混合了检体和与检查项目对应的试剂的反应液照射光时产生的浊度变化
。
接着，提取测量出的浊度变化中的固定时间内的测量值或测量值的变化量，与针对每个检查项目预先准备的校准曲线进行比较，对检体中的测定对象成分的浓度进行定量
。
此时，偏离了能够测量和定量的范围
(
以下，有时记载为“定量范围”)
的检体变更检体量而进行再检查
(
以下，有时记载为“再检”、“再测量”)。
例如，在低于定量范围的情况下实施增加了检体量的增量再检，在超过了定量范围的情况下实施减少了检体量的减量再检
。
[0003]作为测定对象成分的测定方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种自动分析装置，其特征在于，具有：反应盘，其在圆周上配置有收容检体与试剂的反应液的单元；检体分注机构，其向所述反应盘上的单元分注检体；试剂分注机构，其向所述反应盘上的单元分注试剂；吸光光度计，其对从第1光源照射，并从收容在所述反应盘上的单元中的反应液透射的光进行测光；散射光度计，其对从第2光源照射，并被收容在所述反应盘上的单元中的反应液散射的光进行测光；控制电路，其驱动所述反应盘
、
所述检体分注机构和所述试剂分注机构；以及数据处理部，其执行检体测量程序，并按照所述检体测量程序来控制所述控制电路，针对由所述检体分注机构分注的检体与由所述试剂分注机构分注的试剂的反应液，所述数据处理部从所述吸光光度计取得第1光量值，从所述散射光度计取得第2光量值，并基于预先决定的第1测光点处的所述第2光量值，判定能否进行基于所述第2光量值的定量分析，在判定为不能进行基于所述第2光量值的定量分析的情况下，通过所述试剂分注机构向所述反应液追加分注所述试剂，并进行基于追加分注后的测光点处的所述第1光量值的定量分析
。2.
根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，所述数据处理部在判定为能够进行基于所述第2光量值的定量分析的情况下，进行基于所述第1测光点前后的测光点处的所述第2光量值的定量分析
。3.
根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，所述数据处理部保持有用于基于所述第1光量值的定量分析的第1校准曲线和用于基于所述第2光量值的定量分析的第2校准曲线，所述第1校准曲线是根据针对浓度不同的标准液按照判断为不能进行所述检体测量程序中的基于所述第2光量值的定量分析时的测量条件而取得的所述第1光量值生成的校准曲线，所述第2校准曲线是根据针对浓度不同的标准液按照判断为能够进行所述检体测量程序中的基于所述第2光量值的定量分析时的测量条件而取得的所述第2光量值生成的校准曲线
。4.
根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，在所述第1测光点处的所述第2光量值超过了预先设定的阈值光量的情况下，所述数据处理部判定为不能进行基于所述第2光量值的定量分析
。5.
根据权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，所述数据处理部根据按照针对标准液判断为能够进行所述检体测量程序中的基于所述第2光量值的定量分析时的测量条件而取得的所述第2光量值设定所述阈值光量
。6.
根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，在所述吸光光度计中，所述第1光源和透射光受光器以隔着所述反应盘上的单元的方式配置，在所述散射光度计中，所述第2光源和散射光受光器以隔着所述反应盘上的单元的方式配置，
所述吸光光度计对从所述反应液透射的光进行测光的测光点间的时间间隔
、
或者所述散射光度计对被所述反应液散射的光进行测光的测光点间的时间间隔是被旋转驱动的所述反应盘旋转一周的时间
。7.
根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，所述自动分析装置具有：显示部，其显示用于设定所述检体测量程序中的测定条件的参数设定画面，所述参数设定画面具有：选择部，其选择是否对所述反应液进行所述试剂的追加分注
。8.
一种使用自动分析装置的检体分析方法，所述自动分析装置具有：反应盘，其在圆周上配置有收容检体与试剂的反应液的单元；检体分注机构，其向所述反应盘上的单元分注检体；试剂分注机构，其向所述反应盘上的单元分注试剂；吸光光度计，其对从第1光源照射，并从收容在所述反应盘上的单元中的反应液透射的光进行测光；散射光度计，其对从第2光源照射，并被收容在所述反应盘上的单元中的反应液散射的光进行测光；控制电路，其驱动所述反应盘
、
所述检体分注机构和所述试剂分注机构；以及数据处理部，其执行检体测量程序，并按照所述检体测量程序来控制所述控制电路，其特征在于，在所述检体分析方法中，所述检体分注机构向所述反应盘上的单元分注检体；所述试剂分注机构向所述单元分注试剂；针对所述检体和所述试剂的反应液，所述数据处理部至少从所述散射...

【专利技术属性】
技术研发人员：山本兴子，薮谷千枝，足立作一郎，饭岛昌彦，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：