基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，包括底座（1）和连杆（3），底座（1）与连杆（3）通过可调球形接头（2）连接，连杆（3）为至少两个，相邻两个连杆（3）通过可调球形接头（2）连接，连杆（3）的另一端连接探测器装夹爪（4），还包括光子计数型像素探测器（6），光子计数型像素探测器（6）通过探测器装夹爪（4）固定；还包括工作平台（7），所述光子计数型像素探测器（6）位于工作平台（7）上方

【技术实现步骤摘要】
基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置


[0001]本技术涉及一种，尤其涉及一种基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置
。

技术介绍

[0002]随着
X
射线技术的广泛应用，
X
射线光源和
X
射线系统的供应商及科研工作者都不断增加
。
对
X
射线源供应商来说，进行电离辐射泄漏测试是
X
射线源出厂前质量安全检测的重要一环
。
对各种
X
射线分析测量系统（
XRD、
共聚焦
XRF、XAS
等）的集成研发工作者来说，常常需要在光源加载高压时，在快门屏蔽射线的状态下进行长时间的系统调试，调试前进行
X
射线的辐射泄漏测试是安全操作的前提
。
[0003]目前
X
射线光源供应商大多采用盖革计数器或闪烁体半导体探测器进行出厂前辐射泄漏剂量的质量检测，相关领域的科研工作者也大多用盖革计数器作为漏辐射报警监测设备
。
但是这些辐射监测设备普遍存在以下问题：
[0004]1.
大多数市售剂量计不能很好地实时响应低能辐射（＜
20keV
）：
[0005]包括盖革计数器在内的主动型
x/
γ
射线探测器可测量辐射的能量下限基本
≥20keV
，塑料闪烁体半导体探测器对
15keV
以下的射线探测灵敏度大大降低，无法准确响应
。
辐射剂量计的封装材料也会显著衰减＜
10keV
的低能光子；
[0006]一些被动型个人剂量计，比如某些热释光剂量计，对低至
6keV
的辐射剂量有线性响应，但无法实时读数，需要复杂的，可能影响结果准确性的后处理过程来获得一段时间的累积剂量
。
这对于必须实时读取结果，即时判断，并在不同空间位置多次反复测量的辐射泄漏检测来说，也是不适用的；
[0007]而另一方面，低能
X
射线光源在放射诊断和放射治疗技术中都很有用
。
在放射治疗中，能量在5‑
20keV
的
x
射线用于治疗某些皮肤疾病，能量在
10keV
以上的
X
射线常用于诊断医学，例如
17.5keV
的
Mo
靶
X
射线光源用于乳房
X
光检查
。
这些低能辐射剂量在治疗区域的空间分布确认和实时监测是很重要的，对研发此类低能光源和系统的工作者的保护也需要能正确响应低能辐射的探测仪器，进行辐射剂量监测
。
[0008]2.
对于
X
射线源或射线系统的生产商和研发者，不仅需要对宽波长范围的泄漏辐射进行剂量监测，还需要对超剂量的辐射泄漏进行泄漏点的搜寻定位，查找原因，屏蔽修复：
[0009]1)
对于定位要求来说，目前市售的剂量仪大多为体积过大的面探测器，难以深入装置的各角落，贴近装置各表面进行精准的定位测试，影响对泄漏点的判断；
[0010]2)
市售辐射仪基本只能给出辐射剂量值，而没有位置分辨能力和成像功能，不利于泄漏点的判断锁定；
[0011]3)
在检漏测试中需要反复改变探测位置和姿态，如何固定剂量仪也成了亟需解决的问题
。

技术实现思路

[0012]本技术的目的就在于提供一种基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，以解决上述问题
。
[0013]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是这样的：一种基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，包括底座和连杆，所述底座与连杆通过可调球形接头连接，所述连杆为至少两个，相邻两个连杆通过可调球形接头连接，所述连杆的另一端连接探测器装夹爪，还包括光子计数型像素探测器，所述光子计数型像素探测器通过探测器装夹爪固定；还包括工作平台，所述光子计数型像素探测器位于工作平台上方
。
[0014]本技术所述的光子计数型像素探测器，是由捷克技术大学实验与应用物理研究所
、
芬兰
VTT
技术研究中心的技术衍生公司
Advacam、
欧洲核子中心（
CERN
）合作开发，本技术采用光子计数型像素探测器进行辐射泄露检测，能够很好地实时响应低能辐射；并且采用本技术的结构进行连接，能够方便地反复改变探测位置和姿态，实现无死角检测
。
[0015]更具体的，光子计数型像素探测器具有如下优点：
[0016]（1）位置分辨能力：能进行成像是光子计数型探测器本身就具有
。
但是对于
x
射线光源或集成系统的辐射测漏场景中，光子计数型探测器的位置分辨能力对泄露源的判断有重要的优势；
[0017]（2）低能探测：如上所述是光子计数探测器的优点，也是本技术的检测装置采用它的主要原因
。
[0018]另外，本技术的检测装置所用的探测器体积很小，只有
88.9 x 21 x 10 mm
，能深入系统各角落
。
[0019]虽然光子计数型像素探测器具有上述优势，但是，目前暂未见将其用于辐射泄漏的报道，究其原因，可能包括：价格原因
、
行业原因（目前行业标准对
x
射线源和系统生产商的产品要求只有一定距离单位时间的辐射总剂量要求
。
这导致
X
射线产品生产商缺少全面细致地逐点测漏过程，一般仅用盖革等剂量仪在定点测量总剂量
。
所以也缺乏可以逐点排查的测漏工具
。
但是射线发射是有方向性的，定点的结果无法说明整个装置的辐射安全情况）
、
认识原因（即使只谈总剂量，盖革计数器测不到的小于
20keV
的低能辐射虽然对剂量贡献小，但长时间累积剂量不可忽视的
。
并且，低能辐射和物质的作用机制目前都还在研究阶段），以及应用实现难度（如何使单一的光子计数型像素探测器方便操作
、
实现全方位全角度探测）
。
而本技术一方面将光子计数型像素探测器应用于辐射检测，另一方面通过一系列辅助结构，使其检测操作的便利性
、
高效性
、
准确性等都得到保证
。
[0020]作为优选的技术方案：所述底座上设置有用于安装可调球形接头的底座螺纹孔，在所述底座内部设置有磁铁，在所述底座下端的四周设置有用于安装的底座通孔
。
[0021]作为优选的技术方案：所述可调球形接头由依次连接的支承螺杆座
、
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，其特征在于：包括底座（1）和连杆（3），所述底座（1）与连杆（3）通过可调球形接头（2）连接，所述连杆（3）为至少两个，相邻两个连杆（3）通过可调球形接头（2）连接，所述连杆（3）的另一端连接探测器装夹爪（4），还包括光子计数型像素探测器（6），所述光子计数型像素探测器（6）通过探测器装夹爪（4）固定；还包括工作平台（7），所述光子计数型像素探测器（6）位于工作平台（7）上方
。2.
根据权利要求1所述的基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，其特征在于：所述底座（1）上设置有用于安装可调球形接头（2）的底座螺纹孔（
13
），在所述底座（1）内部设置有磁铁，在所述底座（1）下端的四周设置有用于安装的底座通孔（
14
）
。3.
根据权利要求1所述的基于光子计数型像素探测器的辐射泄漏检测装置，其特征在于：所述可调球形接头...

【专利技术属性】
技术研发人员：张玉琪，彭涛，李朝洋，李智伟，
申请(专利权)人：艾格斯瑞成都仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：