一种制造技术

本实用新型专利技术公开了一种

【技术实现步骤摘要】
一种TVS二极管测试仪


[0001]本技术涉及一种电测试仪器，特别是一种
TVS
二极管测试仪
。

技术介绍

[0002]TVS
二极管，又称瞬态抑制二极管，常用于在电路中保护其他元件免受电压过高的损害，并且具有极快的响应时间和相当高的浪涌吸收能力
。
生产过程中，需要对
TVS
二极管进行检测，现有技术中有专用的测试设备，但是这种设备的成本较高；而常见的检测方式采用变压器
、
示波器和电流探棒等设备，这种方式需要人工将测试笔与
TVS
二极管引脚接触，还需要手动进行正反向测试，这样不仅有触电危险，工作效率低
。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本技术提供一种
TVS
二极管测试仪
。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]一种
TVS
二极管测试仪，包括主控芯片
CPU1
，所述主控芯片
CPU1
的输出端连接
USB
通讯模块
、TTL
通讯模块和
LED
显示模块，所述主控芯片
CPU1
的输入端连接恒流恒压测试模块和复位调试模块，所述恒流恒压测试模块连接测试接口
DUT1
，在所述恒流恒压测试模块和测试接口
DUT1
之间设置有正反向切换电路，所述主控芯片
CPU1
连接所述正反向切换电路
。
[0006]所述主控芯片
CPU1
的型号为
STM32F103RET6。
[0007]所述主控芯片
CPU1
的第
13
引脚通过电阻
R4
连接线性稳压器
LD1
的第2引脚，所述第
13
引脚通过电容
C1
接地，电容
C2
与所述电容
C1
并联，所述线性稳压器
LD1
的第3引脚连接供电端子
P2
的第1引脚，所述供电端子
P2
的第2引脚接地，所述线性稳压器
LD1
的第1引脚接地，在所述线性稳压器
LD1
的第2引脚通过电解电容
C13
连接地，电容
C16
与所述电解电容
C13
并联，所述供电端子
P2
的第2引脚接地，在所述供电端子
P2
的第1引脚和第2引脚之间并联有电容
C12
和电解电容
C11。
[0008]所述恒流恒压测试模块包括恒流测试模块和恒压测试模块，所述主控芯片
CPU1
的第
20
引脚和第
24
引脚连接所述恒流测试模块，所述主控芯片
CPU1
的第
21
引脚和第
25
引脚连接所述恒压测试模块，所述第
20
引脚通过电阻
R25
连接运算放大器
LF1
的第3引脚，所述运算放大器
LF1
的第2引脚通过电阻
R29
连接运算放大器
LF3
的第6引脚，所述运算放大器
LF1
的第6引脚通过电阻
R40
与所述运算放大器
LF3
的第3引脚连接，所述运算放大器
LF1
的第6引脚通过电阻
DIR1
分别连接继电器
K1
和电阻
R45
，所述电阻
R45
连接运算放大器
LF6
的第3引脚，所述运算放大器
LF6
通过电阻
R36
与所述运算放大器
LF3
的第2引脚连接，所述运算放大器
LF6
的第6引脚通过电阻
R37
和电阻
R26
连接所述主控芯片
CPU1
的第
24
引脚；所述主控芯片
CPU1
的第
21
引脚通过电阻
R28
连接运算放大器
LF2
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第2引脚通过电阻
R30
连接运算放大器
LF5
的第6引脚，所述运算放大器
LF5
的第6引脚通过电阻
R39
与运算放大器
LF4
的第2引脚连接，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
R41
连接所述运算放
大器
LF4
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
DIR2
和电阻
R44
连接所述运算放大器
LF5
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
DIR2
连接继电器
K2
的第1引脚，所述运算放大器
LF4
的第6引脚通过电阻
R31
与所述主控芯片
CPU1
的第
25
引脚连接
。
[0009]所述正反向切换电路包括继电器
K1、
继电器
K2
和继电器
K3
，所述主控芯片
CPU1
的第
16
引脚通过电阻
R46
连接三极管
Q1
的基极，所述三极管
Q1
的集电极连接所述继电器
K1
，当所述三极管
Q1
的集电极和发射极导通，所述继电器
K1
的第1引脚和第3引脚导通，所述主控芯片
CPU1
的第
15
引脚通过电阻
R47
连接三极管
Q2
的基极，所述三极管
Q2
的集电极连接所述继电器
K2
，当所述三极管
Q2
的集电极和发射极导通，所述继电器
K2
的第1引脚和第3引脚导通；所述主控芯片
CPU1
的第
14
引脚通过电阻
R48
连接三极管
Q3
的基极，所述三极管
Q3
的集电极连接所述继电器
K3
，当所述三极管
Q3
的集电极和发射极导通，所述继电器
K3
的第1引脚和第4引脚导通，所述继电器
K3
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
TVS
二极管测试仪，包括主控芯片
CPU1
，其特征在于所述主控芯片
CPU1
的输出端连接
USB
通讯模块
、TTL
通讯模块和
LED
显示模块，所述主控芯片
CPU1
的输入端连接恒流恒压测试模块和复位调试模块，所述恒流恒压测试模块连接测试接口
DUT1
，在所述恒流恒压测试模块和测试接口
DUT1
之间设置有正反向切换电路，所述主控芯片
CPU1
连接所述正反向切换电路
。2.
根据权利要求1所述的
TVS
二极管测试仪，其特征在于所述主控芯片
CPU1
的型号为
STM32F103RET6。3.
根据权利要求2所述的
TVS
二极管测试仪，其特征在于所述主控芯片
CPU1
的第
13
引脚通过电阻
R4
连接线性稳压器
LD1
的第2引脚，所述第
13
引脚通过电容
C1
接地，电容
C2
与所述电容
C1
并联，所述线性稳压器
LD1
的第3引脚连接供电端子
P2
的第1引脚，所述供电端子
P2
的第2引脚接地，所述线性稳压器
LD1
的第1引脚接地，在所述线性稳压器
LD1
的第2引脚通过电解电容
C13
连接地，电容
C16
与所述电解电容
C13
并联，所述供电端子
P2
的第2引脚接地，在所述供电端子
P2
的第1引脚和第2引脚之间并联有电容
C12
和电解电容
C11。4.
根据权利要求2所述的
TVS
二极管测试仪，其特征在于所述恒流恒压测试模块包括恒流测试模块和恒压测试模块，所述主控芯片
CPU1
的第
20
引脚和第
24
引脚连接所述恒流测试模块，所述主控芯片
CPU1
的第
21
引脚和第
25
引脚连接所述恒压测试模块，所述第
20
引脚通过电阻
R25
连接运算放大器
LF1
的第3引脚，所述运算放大器
LF1
的第2引脚通过电阻
R29
连接运算放大器
LF3
的第6引脚，所述运算放大器
LF1
的第6引脚通过电阻
R40
与所述运算放大器
LF3
的第3引脚连接，所述运算放大器
LF1
的第6引脚通过电阻
DIR1
分别连接继电器
K1
和电阻
R45
，所述电阻
R45
连接运算放大器
LF6
的第3引脚，所述运算放大器
LF6
通过电阻
R36
与所述运算放大器
LF3
的第2引脚连接，所述运算放大器
LF6
的第6引脚通过电阻
R37
和电阻
R26
连接所述主控芯片
CPU1
的第
24
引脚；所述主控芯片
CPU1
的第
21
引脚通过电阻
R28
连接运算放大器
LF2
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第2引脚通过电阻
R30
连接运算放大器
LF5
的第6引脚，所述运算放大器
LF5
的第6引脚通过电阻
R39
与运算放大器
LF4
的第2引脚连接，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
R41
连接所述运算放大器
LF4
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
DIR2
和电阻
R44
连接所述运算放大器
LF5
的第3引脚，所述运算放大器
LF2
的第6引脚通过电阻
DIR2
连接继电器
K2
的第1引脚，所述运算放大器
LF4
的第6引脚通过电阻
R31
与所述主控芯片
CPU1
的第
25
引脚连接
。5.
根据权利要求2所述的
TVS
二极管测试仪，其特征在于所述正反向切换电路包括继电器
K1、
继电器
K2
和继电器
K3
，所述主控芯片
CPU1
的第
16
引脚通过电阻
R46
连接三极管
Q1
的基极，所述三极管
Q1
的集电极连接所述继电器
K1
，当所述三极管
Q1
的集电极和发射极导通，所述继电器
K1
的第1引...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏绩，方盼，苏安进，
申请(专利权)人：深圳市思恩技术有限公司，
类型：新型
国别省市：