用于使用单层测量来选择波束对的技术制造技术

技术编号:39848723 阅读:25 留言:0更新日期:2023-12-29 16:48
本公开内容的各个方面总体上涉及无线通信

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于使用单层测量来选择波束对的技术
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本专利申请要求享受于
2021
年5月
14
日递交的名称为“TECHNIQUES FOR SELECTING ABEAM PAIR USING SINGLE LAYER MEASUREMENTS”的美国非临时专利申请
No.17/320,641
的优先权,据此通过引用方式将上述申请明确地并入本文中



[0003]本公开内容的各方面总体上涉及无线通信,以及更具体地,涉及用于使用单层测量选择波束对的技术和装置


技术介绍

[0004]无线通信系统被广泛部署以提供各种电信服务,例如电话

视频

数据

消息传送和广播

典型的无线通信系统可以利用能够通过共享可用的系统资源
(
例如,带宽

发射功率等
)
来支持与多个用户的通信的多址技术
>。
这种多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种由用户设备
(UE)
执行的无线通信的方法,包括:从基站接收单层参考信号;执行针对多个
UE
波束对的与所述单层参考信号相关联的单层测量;至少部分地基于针对所述多个
UE
波束对的所述单层测量来确定与所述多个
UE
波束对中的一个或多个
UE
波束对相关联的多层测量;以及至少部分地基于与所述一个或多个
UE
波束对相关联的所述多层测量来从所述一个或多个
UE
波束对中选择
UE
波束对
。2.
根据权利要求1所述的方法,还包括:至少部分地基于所述
UE
波束对向所述基站执行多层传输
。3.
根据权利要求1所述的方法,其中,所述单层测量为秩
‑1测量,以及所述多层测量为秩
‑2测量
。4.
根据权利要求1所述的方法,其中,所述单层参考信号是同步信号块
。5.
根据权利要求1所述的方法,其中,与所述单层参考信号相关联的所述单层测量包括以下各项中的一项或多项:单层参考信号接收功率测量

单层频谱效率测量或单层信道频率响应测量
。6.
根据权利要求1所述的方法,其中,所述多层测量是频谱效率测量
。7.
根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多层测量的所述确定包括:至少部分地基于码本信息或
UE
移动性测量中的一者或多者来组合所述单层测量
。8.
根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多层测量的所述确定包括:使用线性模型来组合所述单层测量
。9.
根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多层测量的所述确定包括:使用非线性模型来组合所述单层测量,其中,所述非线性模型是使用与以下各项中的一项或多项相关联的一个或多个数据集训练和验证的:信道模型
、UE
旋转
、UE
模拟波束成形码本

具有不同信号干扰加噪声比
(SINR)
的白噪声或具有不同
SINR
的非白噪声
。10.
根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多层测量的所述确定:使用线性模型来组合所述单层测量,以获得第一多层测量;至少部分地基于所述第一多层测量来选择第一
UE
波束对;使用非线性模型来组合所述单层测量,以获得第二多层测量;至少部分地基于所述第二多层测量来选择第二
UE
波束对;以及至少部分地基于所述第一
UE
波束对的性能相对于所述第二
UE
波束对的性能来选择所述第一
UE
波束对或所述第二
UE
波束对中的一项
。11.
根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多层测量的所述确定包括:组合所述单层测量以获得与所述一个或多个
UE
波束对相关联的单层测量和与所述一个或多个
UE
波束对相关联的所述多层测量
。12.
一种由基站执行的无线通信的方法,包括:向用户设备
(UE)
发送单层参考信号;以及至少部分地基于
UE
波束对来从所述
UE
接收多层传输,其中,所述
UE
波束对是至少部分地基于所述单层参考信号的
。13.
根据权利要求
12
所述的方法,其中,所述单层参考信号是同步信号块

14.
根据权利要求
12
所述的方法,其中,所述
UE
波束对是至少部分地基于与多个
UE
波束对中的一个或多个
UE
波束对相关联的多层测量的,并且其中,所述多层测量是至少部分地基于与所述单层参考信号相关联的单层测量的组合的
。15.
根据权利要求
14
所述的方法,其中:所述单层测量包括以下各项中的一项或多项:单层参考信号接收功率测量

单层频谱效率测量或单层信道频率响应测量;以及所述多层测量是多层频谱效率测量
。16.
一种用于无线通信的用户设备
(UE)
,包括:存储器;以及耦合到所述存储器的一个或多个处理器,其被配置为:从基站接收单层参考信号;执行针对多个
UE
波束对的与所述单层参考信号相关联的单层测量;至少部分地基于针对所述多个
UE
波束对的所述单层测量来确定与所述多个
UE
波束对中的一个或多个
UE

【专利技术属性】
技术研发人员:Y
申请(专利权)人:高通股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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