面向制造技术

本发明专利技术公开了一种面向

【技术实现步骤摘要】
面向RISC
‑
V数据相关性的测试例生成方法及测试例验证系统


[0001]本专利技术涉及数据分析
，尤其涉及一种面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法及测试例验证系统
。

技术介绍

[0002]RISC
‑
V
是一种基于精简指令集原则的开源指令集架构，具有模块化
、
定制化等特点，已逐渐得到产业界的关注
。
为了保证基于
RISC
‑
V
指令集的处理器设计的正确性，通常要对设计的基于
RISC
‑
V
指令集的处理器进行验证，而在对基于
RISC
‑
V
指令集的处理器进行验证时，需要使用面向
RISC
‑
V
的测试例
。
[0003]现有的面向
RISC
‑
V
的测试工具能根据模板生成指令集测试例
、r/>压力测试例等，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，包括：根据待测处理器配置启动代码，所述启动代码用于使运行启动代码的处理器初始化为可运行功能测试代码的状态；根据
RISC
‑
V
指令集
、
数据相关性的写或读操作
、
指令对应的读写寄存器类型
、
以及指令类型，配置包含多个指令集的指令池；根据期望生成的测试例配置测试例相关参数；根据配置的测试例相关参数从指令池中选取指令，根据选取的指令及指令在指令池中的编写规范，生成指令汇编代码，根据指令汇编代码生成功能测试代码；根据待测处理器配置结束代码，所述结束代码用于使运行结束代码的处理器被配置为结束运行并输出运行结果信息；将所述启动代码
、
所述功能测试代码和所述结束代码依次连接，生成面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例
。2.
根据权利要求1所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，所述指令池包含写整型寄存器指令集
、
读整型寄存器指令集
、
写浮点寄存器指令集
、
读浮点寄存器指令集
、
写向量寄存器指令集和读向量寄存器指令集，每个指令集均包括整型指令
、
乘法指令
、
原子指令
、
单精度浮点指令
、
双精度浮点指令
、
压缩指令和向量指令7种指令类型的指令
。3.
根据权利要求2所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，所述测试例相关参数包括：测试例的数据相关性
、
前置指令类型信息
、
中间指令类型信息
、
后置指令类型信息
、
测试例相关距和测试例待测次数；所述测试例的数据相关性包括：读后写相关性
、
写后写相关性和写后读相关性
。4.
根据权利要求3所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，所述前置指令类型信息包括：前置指令对应的读写寄存器类型，或者前置指令对应的读写寄存器类型和前置指令的指令类型，或者一个指定指令
。5.
根据权利要求3所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，所述中间指令类型信息包括：中间指令的指令类型，或者指令选择方式，或者中间指令的指令类型和指令选择方式，或者一个指定指令
。6.
根据权利要求3所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，所述后置指令类型信息包括：后置指令对应的读写寄存器类型，或者后置指令对应的读写寄存器类型和后置指令的指令类型，或者一个指定指令
。7.
根据权利要求3所述的面向
RISC
‑
V
数据相关性的测试例生成方法，其特征在于，据配置的测试例相关参数从指令池中选取指令，根据选取的指令及指令在指令池中的编写规范，生成指令汇编代码，根据指令汇编代码生成功能测试代码，包括：根据配置的测试例的数据相关性和前置指令类型信息从指令池中选择指令集，从指令集中选取一条指令作为前置指令；根据配置的测试例的数据相关性和后置指令类型信息从指令池中选择指令集...

【专利技术属性】
技术研发人员：方健，徐学政，张光达，王会权，李田林，易品筠，陈润泽，金美慧，
申请(专利权)人：中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院，
类型：发明
国别省市：