模拟比较电路温度测量校准方法技术

本申请涉及一种模拟比较电路温度测量校准方法

【技术实现步骤摘要】
模拟比较电路温度测量校准方法、装置和设备


[0001]本申请涉及温度测量
，特别是涉及一种模拟比较电路温度测量校准方法
、
装置
、
设备和温度测量系统
。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展，出现了多种对于温度的测量方法
。
其中，利用模拟比较器测量温度的方法就是一种高精度的温度测量方法，属于一种高精度的单斜率
AD
转换方法
。
其测量电路组成原理简单，通过计算模拟比较器连接的电阻的阻值和放电时长就可对温度进行测量
。
[0003]但是，随着测量的次数的增加，测量电路中电阻等元器件会发生老化，发生老化之后，元器件的参数会发生变化，导致最终测量的温度结果不够准确，带来测量误差
。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高温度测量准确性，减小测量误差的模拟比较电路温度测量校准方法
、
装置
、
设备和温度测量系统
。
[0005]第一方面，本申请提供了一种模拟比较电路温度测量校准方法，模拟比较电路包括模拟比较器
、
测量电阻和参考电阻，所述测量电阻和所述参考电阻均连接所述模拟比较器的输入端
。
所述方法包括：
[0006]在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值；所述标准电阻的阻值与所述参考电阻的阻值相匹配；
[0007]根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新
。
[0008]在其中一个实施例中，所述在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值，包括：
[0009]在所述测量电阻被替换为标准电阻后，根据所述标准电阻的阻值
、
所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长，计算得到所述参考电阻的实际阻值
。
[0010]在其中一个实施例中，所述模拟比较电路还包括定时器，所述定时器连接所述模拟比较器的输出端，所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长的获取方式为：
[0011]在所述测量电阻被替换为标准电阻后，将所述模拟比较器的判断极性进行交换；
[0012]通过所述定时器的上升沿捕获输入，得到所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长
。
[0013]在其中一个实施例中，所述根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新，包括：
[0014]多次获取所述参考电阻的实际阻值；
[0015]根据各所述参考电阻的实际阻值的平均值对所述参考电阻的阻值进行更新
。
[0016]在其中一个实施例中，所述方法还包括：
[0017]判断是否接收到校准指令；
[0018]若是，执行所述在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值
。
[0019]在其中一个实施例中，所述根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新，包括：
[0020]用所述参考电阻的实际阻值替换所述模拟比较电路的温度计算表达式中的参考电阻的阻值
。
[0021]第二方面，本申请还提供了一种模拟比较电路温度测量校准装置
。
所述装置包括：
[0022]实际阻值获取模块，用于在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值；所述标准电阻的阻值与所述参考电阻的阻值相匹配；
[0023]校准模块，用于根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新
。
[0024]第三方面，本申请还提供了一种模拟比较电路校准设备
。
包括标准电阻和控制器，所述标准电阻用于替换所述测量电阻，所述控制器用于根据上述的方法对模拟比较电路进行校准
。
[0025]在其中一个实施例中，模拟比较电路校准设备还包括信息交互装置，所述信息交互装置连接所述控制器
。
[0026]第四方面，本申请还提供了一种温度测量系统，包括模拟比较电路和如上述的模拟比较电路校准设备
。
[0027]在其中一个实施例中，所述模拟比较电路包括模拟比较器
、
测量电阻和参考电阻，所述测量电阻和所述参考电阻均连接所述模拟比较器的输入端，所述模拟比较器的输出端连接所述控制器
。
[0028]在其中一个实施例中，所述模拟比较电路还包括定时器，所述模拟比较器的输出端通过所述定时器连接所述控制器
。
[0029]上述模拟比较电路温度测量校准方法
、
装置
、
设备和温度测量系统，模拟比较电路包括模拟比较器
、
测量电阻和参考电阻，测量电阻和参考电阻均连接模拟比较器的输入端，对模拟比较电路温度测量进行校准时，在测量电阻被替换为与参考电阻的阻值相匹配的标准电阻后，计算参考电阻的实际阻值，再根据参考电阻的实际阻值对参考电阻的阻值进行更新
。
由此，利用标准电阻对参考电阻的阻值进行校准，可以得到参考电阻的实际阻值，利用参考电阻的实际阻值对参考电阻的阻值进行更新后，可以校准参考电阻的阻值，减小参考电阻的工作误差，从而提高模拟比较电路的温度测量准确性
。
附图说明
[0030]图1为一个实施例中模拟比较电路的结构示意图；
[0031]图2为一个实施例中模拟比较电路温度测量校准方法的流程示意图；
[0032]图3为一个实施例中计算参考电阻的实际阻值步骤的流程示意图；
[0033]图4为一个实施例中获取标准电阻的放电时长和参考电阻的放电时长步骤的流程示意图；
[0034]图5为一个实施例中对参考电阻的阻值进行更新步骤的流程示意图；
[0035]图6为另一个实施例中模拟比较电路温度测量校准方法的流程示意图；
[0036]图7为一个实施例中模拟比较电路温度测量校准装置的结构框图；
[0037]图8为一个实施例中模拟比较电路的详细结构示意图；
[0038]图9为一个实施例中温度测量系统的结构示意图；
[0039]图
10
为一个实施例中模拟比较电路温度测量校准方法的详细流程示意图；
[0040]图
11
为一个实施例中计算机设备的内部结构图
。
具体实施方式
[0041]为了使本申请的目的
、
技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明
。
应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请
。
[0042]本申请实施例提供的模拟比较电路温度测量校准方法，用于对模拟比较电路的温度测量过程进行校准
。
具体地，用于对模拟比较电路的参考电阻的阻值进行校准，从而本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种模拟比较电路温度测量校准方法，其特征在于，所述模拟比较电路包括模拟比较器
、
测量电阻和参考电阻，所述测量电阻和所述参考电阻均连接所述模拟比较器的输入端，所述方法包括：在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值；所述标准电阻的阻值与所述参考电阻的阻值相匹配；根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值，包括：在所述测量电阻被替换为标准电阻后，根据所述标准电阻的阻值
、
所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长，计算得到所述参考电阻的实际阻值
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述模拟比较电路还包括定时器，所述定时器连接所述模拟比较器的输出端，所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长的获取方式为：在所述测量电阻被替换为标准电阻后，将所述模拟比较器的判断极性进行交换；通过所述定时器的上升沿捕获输入，得到所述标准电阻的放电时长和所述参考电阻的放电时长
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考电阻的实际阻值对所述参考电阻的阻值进行更新，包括：多次获取所述参考电阻的实际阻值；根据各所述参考电阻的实际阻值的平均值对所述参考电阻的阻值进行更新
。5.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：判断是否接收到校准指令；若是，执行所述在所述测量电阻被替换为标准电阻后，计算所述参考电阻的实际阻值<...

【专利技术属性】
技术研发人员：余洋，赵勇，李绍健，方召军，金胜昔，熊乾，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：