一种自动化芯片功耗测量系统及测量方法技术方案

本发明专利技术公开了一种自动化芯片功耗测量系统及测量方法，包括芯片测试板

【技术实现步骤摘要】
一种自动化芯片功耗测量系统及测量方法


[0001]本专利技术涉及芯片功耗测量领域，具体为一种自动化芯片功耗测量系统及测量方法
。

技术介绍

[0002]芯片功耗的测量是一款新研的芯片在测试阶段必不可少的电性能参数
。
[0003]一是可以确认该芯片设计是否达到所要求的规格，另一方面也是为了降功耗设计
、
散热设计提供切实的数据；因此，芯片功耗的测量就显得尤为重要
。
[0004]传统的和现有的技术中，对芯片功耗的测量，主要分为三种方式：一是主要通过芯片工作时的壳温和芯片周围的环境温度，来大致算出芯片工作时的功耗，此方法测量误差较大，对于环境的要求较高；二是将毫欧级电阻串接到电源支路上，然后使用万用表测量毫欧电阻两端的电压，然后算出其电流，再得到所需要的支路功耗；三是在各电源支路预留两个大焊盘，平时用铜皮短接，等到测量时，将万用表调至电流档位再串入到电源支路中，读取其电流值，然后算出功耗；二
、
三都有一个共同的缺点，那就是手工测量误差比较大且当测量待测芯片的多路电源功耗时，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种自动化芯片功耗测量系统，其特征在于：包括：芯片测试板
、
上位机（
105
）和安装在芯片测试板上的测量电路，测量电路包括电源模块（
101
）
、DC/DC
变换器（
102
）
、n
个精密电阻
a
n
和
n
个功率监控模块
b
n
、
待测芯片（
103
）
、
管理控制模块
BMC
（
104
）；
DC/DC
变换器（
102
）的输入端与电源模块（
101
）电性连接，
n
个精密电阻
a
n
的一端分别与
DC/DC
变换器（
102
）的各路电源电压输出端连接，
n
个精密电阻
a
n
的另一端分别与待测芯片（
103
）的各路电源电压输入端连接；
n
个功率监控模块
b
n
与
n
个精密电阻
a
n
对应并联，
n
个功率监控模块
b
n
与管理控制模块
BMC
（
104
）互联，管理控制模块
BMC
（
104
）通过串口
UART
与上位机（
105
）互联
。2.
根据权利要求1的一种自动化芯片功耗测量系统，其特征在于：功率监控模块
b
n
（
104
）采用
INA226
功率监测器，
INA226
功率监测器包括设置在
INA226
上的
I2C
接口
、ADC
和多个寄存器；
ADC
通过引脚监测精密电阻
a
n
两端的压降值，
ADC
与多个寄存器连接，多个寄存器通过
I2C
接口管理控制模块
BMC
（
104
）与连接
。3.
根据权利要求2的一种自动化芯片功耗测量系统，其特征在于：多个寄存器包括分流电压寄存器
、
功耗寄存器
、
电流寄存器和校准寄存器，管理控制模块
BMC
（
104
）通过
I2C
接口将合适的校准寄存器值写入校准寄存器中，管理控制模块
BMC
（
104
）通过
I2C
接口读取寄存器内部参数值
。4.
根据权利要求3的一种自动化芯片功耗测量系统，其特征在于：管理控制模块
BMC
（
104
）读取寄存器内部参数之前，管理控制模块
BMC
（
104
）选取合适的校准寄存器值写入校准寄存器中进行校准
。5.
根据权利要求4的自动化芯片功耗测量系统的功耗测量方法，其特征在于：校准寄存器值由式...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵雪勇，张韬，李世平，郑昱，韩文俊，郝明，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十四研究所，
类型：发明
国别省市：