IO制造技术

本发明专利技术提供一种

【技术实现步骤摘要】
IO接口测试方法、装置及UVM验证环境


[0001]本专利技术涉及测试
，具体地涉及一种
IO
接口测试方法
、
一种
IO
接口测试装置
、
一种
UVM
验证环境
、
一种机器可读存储介质及一种电子设备
。

技术介绍

[0002]芯片输入
/
输出（
Input/Output
，
IO
）接口负责芯片与外界进行数据交换，
IO
接口资源比较有限，基本每一个
IO
接口都可以复用多个功能，对于大规模复杂芯片，往往存在
IO
管脚上的多功能复用，通过对寄存器的不同配置，使
IO
管脚实现不同的接口功能
。
对于该复用技术的验证，可以采用通用验证方法学
(UVM
，
Universal Verification Methodology)
进行验证，针对每个管脚的每个功能，进行相关配置，并提供
IO
管脚上或者芯片内部的不同激励，在芯片内部或者
IO
管脚进行观测，对结果进行判断
。
[0003]目前采用
UVM
验证方法在进行验证时，需要针对单一复用功能分别加载不同复用功能的激励来进行测试，这就需要加载不同的测试用例来测试，比如一条测试用例测试功能0，另一条测试用例测试功能1，因为不同的配置需要加载不同的激励，所以就需要给环境一个信号，然后环境根据信号来切换激励，这就会导致测试非常不灵活，且与实际的应用场景不符，无法达到验证的完备性效果
。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的是提供一种
IO
接口测试方法
、
一种
IO
接口测试装置
、
一种
UVM
验证环境
、
一种机器可读存储介质及一种电子设备，该
IO
接口测试方法可以实现采用一条测试用例实现芯片
IO
接口所有复用功能的验证流程，仿真时可以多次配置寄存器，模拟该
IO
接口在芯片实际应用时的各种场景，实现与实际的应用场景相符，从而达到验证的完备性
。
同时，只需要编译一次就能够实现整条流程的验证，提高了测试的灵活性
。
[0005]为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种
IO
接口测试方法，应用于
UVM
验证环境，包括：根据待测试
IO
接口的功能复用列表构建多个测试激励，每一个测试激励用于测试待测试
IO
接口的一个功能，每一个测试激励对应于一个寄存器的状态值；获取测试用例，并运行所述测试用例；其中，所述测试用例用于循环设置不同的寄存器状态参数，并对于每一个寄存器状态参数，执行以下步骤：采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件；采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值；基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件；获取待测试
IO
接口的一个功能的测试结果，并对所述测试结果进行检查，得到检查结果
。
[0006]在本申请实施例中，所述
UVM
验证环境包括寄存器模型，所述采用前门访问的方式
将寄存器状态参数写入至
DUT
文件，包括：采用前门访问的方式，通过所述寄存器模型将寄存器状态参数写入至
DUT
文件中的寄存器
。
[0007]在本申请实施例中，所述
UVM
验证环境包括第一接口组件和第二接口组件，所述采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值，包括：由所述第一接口组件采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值；所述基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件，包括：由所述第一接口组件将所述
DUT
文件中寄存器的状态值发送至所述第二接口组件；由所述第二接口组件基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件
。
[0008]在本申请实施例中，所述由所述第一接口组件采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值，包括：由所述第一接口组件获取所述
DUT
文件中寄存器的绝对路径；由所述第一接口组件基于所述
DUT
文件中寄存器的绝对路径，采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值
。
[0009]在本申请实施例中，所述获取待测试
IO
接口的一个功能的测试结果，并对所述测试结果进行检查，得到检查结果的过程位于
run_phase
中，所述采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件的过程位于
main_phase
中
。
[0010]本申请第二方面提供一种
UVM
验证环境，用于实现上述的
IO
接口测试方法
。
[0011]在本申请实施例中，包括寄存器模型，所述寄存器模型用于采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件中的寄存器
。
[0012]本申请第三方面提供一种
IO
接口测试装置，应用于
UVM
验证环境，包括：构建模块，用于根据待测试
IO
接口的功能复用列表构建多个测试激励，每一个测试激励用于测试待测试
IO
接口的一个功能，每一个测试激励对应于一个寄存器的状态值；运行模块，用于获取测试用例，并运行所述测试用例；其中，所述测试用例用于循环设置不同的寄存器状态参数，并对于每一个寄存器状态参数，执行以下步骤：采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件；采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值；基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件；获取待测试
IO
接口的一个功能的测试结果，并对所述测试结果进行检查，得到检查结果
。
[0013]本申请第四方面提供一种电子设备，该电子设备包括：至少一个处理器；存储器，与所述至少一个处理器连接；其中，所述存本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
IO
接口测试方法，其特征在于，应用于
UVM
验证环境，包括：根据待测试
IO
接口的功能复用列表构建多个测试激励，每一个测试激励用于测试待测试
IO
接口的一个功能，每一个测试激励对应于一个寄存器的状态值；获取测试用例，并运行所述测试用例；其中，所述测试用例用于循环设置不同的寄存器状态参数，并对于每一个寄存器状态参数，执行以下步骤：采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件；采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值；基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件；获取待测试
IO
接口的一个功能的测试结果，并对所述测试结果进行检查，得到检查结果
。2.
根据权利要求1所述的
IO
接口测试方法，其特征在于，所述
UVM
验证环境包括寄存器模型，所述采用前门访问的方式将寄存器状态参数写入至
DUT
文件，包括：采用前门访问的方式，通过所述寄存器模型将寄存器状态参数写入至
DUT
文件中的寄存器
。3.
根据权利要求1所述的
IO
接口测试方法，其特征在于，所述
UVM
验证环境包括第一接口组件和第二接口组件，所述采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值，包括：由所述第一接口组件采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值；所述基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件，包括：由所述第一接口组件将所述
DUT
文件中寄存器的状态值发送至所述第二接口组件；由所述第二接口组件基于所述
DUT
文件中寄存器的状态值选择对应的测试激励，并将所述测试激励下发至所述
DUT
文件
。4.
根据权利要求3所述的
IO
接口测试方法，其特征在于，所述由所述第一接口组件采用后门访问的方式读取所述
DUT
文件中寄存器的状态值，包括：由所述第一接口组件获取所述
DUT
文件中寄存器的绝对路径；由所述第一接口组件基于所述
DUT
文件...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡铭，谢启梁，沈泽宇，周文刚，周建，
申请(专利权)人：成都市楠菲微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：