一种磁传感器温度特性测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种磁传感器温度特性测试方法及装置，本发明专利技术方法包括将磁传感器放置于温箱中，设置温箱的初始温度；采用线圈在磁传感器敏感方向施加交流磁场，且交流磁场的频率

【技术实现步骤摘要】
一种磁传感器温度特性测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及磁场传感器领域，具体涉及一种磁传感器温度特性测试方法及装置
。

技术介绍

[0002]磁传感器是磁信息获取的重要途径，可实现磁场
、
电流
、
光
、
应力应变等物理量的测量，是现代传感器产业的一个重要分支，广泛应用于汽车电子
、
信息存储
、
医疗器械
、
航空航天
、
武器装备等民用
、
军用各个领域
。
[0003]磁传感器的测量精度易受到外部环境的影响，其中温度是关键因素之一
。
温度变化会导致磁传感器的零偏
、
灵敏度等发生变化从而导致磁传感器的输出产生漂移
。
在磁传感器温度特性测试中，环境磁场
、
外部及温箱的干扰磁场等因素会极大地影响温度特性的测试结果，常规的传感器温度特性测试方法无法用于磁传感器
。
为了避免这些影响，通常选择干扰磁场小的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，包括：
S101
，将磁传感器放置于温箱中，设置温箱的初始温度；
S102
，采用线圈在磁传感器敏感方向施加交流磁场，且交流磁场的频率
f
B
在磁传感器及线圈带宽范围内，交流磁场的幅度
A
B
不大于磁传感器量程；
S103
，获取并记录磁传感器在当前的温度
T
下输出的交流磁场信号的幅度
A
M
；
S104
，改变温箱的温度，若温箱的温度小于设定温度值则跳转步骤
S102
；否则，将磁传感器在不同温度
T
下输出的交流磁场信号的幅度
A
M
绘制
T
‑
A
M
曲线以用于评估磁传感器的温度特性
。2.
根据权利要求1所述的磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，步骤
S102
中采用线圈是指采用亥姆霍兹线圈
。3.
根据权利要求2所述的磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，步骤
S102
中采用线圈在磁传感器敏感方向施加交流磁场时，在交直流电流源的激励下，亥姆霍兹线圈产生的交流磁场的函数表达式为：上式中，
B
c
为亥姆霍兹线圈产生的交流磁场，
B
c0
为交流磁场信号的幅度，
ω
为交流磁场信号的频率，
t
为时间，为相位，
B0为直流偏置磁场
。4.
根据权利要求3所述的磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，步骤
S103
获取并记录磁传感器在当前的温度
T
下输出的交流磁场信号的幅度
A
M
包括：
S201
，获取磁传感器在当前的温度
T
下输出的交流磁场信号
B
s
：上式中，
B
c0
为交流磁场信号的幅度，
ω
为交流磁场信号的频率，
t
为时间，为相位，
B0为直流偏置磁场，
B
e
为环境磁场，
B
d
(t,T)
为环境及温箱的干扰磁场；
S202
，将磁传感器在当前的温度
T
下输出的交流磁场信号
B
s
以及与交流磁场的频率相同
、
且相位相差
90
°
的参考信号1及参考信号2输入正交矢量型锁定放大器，通过正交矢量型锁定放大器采用锁相技术提取交流磁场信号的幅度
B
c0
以作为磁传感器在当前的温度
T
下输出的交流磁场信号的幅度
A
M
。5.
根据权利要求4所述的磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，步骤
S202
中参考信号1及参考信号2的函数表达式为：上式中，
r1(t)
和
r2(t)
分别表示参考信号1及参考信号2，
A1和
A2分别表示参考信号1及参考信号2的幅值，表示参考信号1及参考信号2的相位，
ω
为交流磁场信号的频率，
t
为时间
。6.
根据权利要求1所述的磁传感器温度特性测试方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜青法，胡佳飞，潘孟春，丁增权，罗慧慧，柳俊威，李裴森，黎贵龙，石狮龙，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：