扫描笔扫描控制方法技术

本申请提出一种扫描笔扫描控制方法

【技术实现步骤摘要】
扫描笔扫描控制方法、装置、介质及设备


[0001]本专利技术涉及一种扫描笔扫描控制方法
、
装置
、
介质及设备，属于扫描笔扫描控制

。

技术介绍

[0002]现有扫描笔的扫描操作，为了获取更好的用户体验，通常对扫描操作给与了更大的操作空间，例如倾斜方向扫描，扫描笔倾斜操作等，虽然会导致扫描得到的图像变形严重，但是也可以获取准确的扫描结果，但是这种扫描的宽限操作必然带来扫描计算量的提升以及扫描计算时间的增加，为了降低扫描笔的算力成本，提升扫描笔识别速度和显示流畅性，需要对现有的扫描笔的扫描方式进行优化和改进
。

技术实现思路

[0003]针对上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种扫描笔扫描控制方法
、
装置
、
介质及设备
。
根据本专利技术的实施方案，提供第一个方案为：一种扫描笔扫描控制方法，包括如下步骤：获取扫描终端实时发送的扫描连续帧图像；自连续扫描帧图像中获取当前帧图像，将当前帧图像在连续扫描帧图像中的前一时序的图像作为对比帧图像，所述对比帧图像为初始图像或连续拼接结果图的最后一帧图像；调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数，所述最佳匹配点参数包括拟合度参数
、
相对位移参数及拼接点坐标参数；根据最佳匹配点参数获取拼接点曲线及当前拼接点斜率，根据拼接点曲线及当前拼接点斜率和拼接点偏移方向获取扫描调控信号；发送扫描调控信号至扫描终端<br/>。
[0004]进一步地，所述调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数的步骤包括：调用模板提取子模块，所述模板提取子模块自当前帧图像中根据扫描终端的扫描移动方向确认提取区域，自提取区域中提取包含字符像素点的第一模板图像，所述模板提子模块自对比帧图像中提取包含所有字符像素点的图像区域做空白像素填充处理并获取待匹配图像；调用归一算法子模块，所述归一算法子模块将第一模板图像和待匹配图像进行配准处理并获取第一拟合度参数和第一拼接点坐标参数，若第一拟合度参数达到第一阈值，则将第一拼接点作为最佳匹配点并输出第一最佳匹配点参数，所述第一最佳匹配点参数包括第一拟合度参数
、
第一相对位移参数及第一拼接点坐标参数；若第一拟合度参数未达到第一阈值，则调用双模板二值化算法模块，所述双模板
二值化算法模块扩展所述第一模板图像并获取当前帧图像的不同比例的第一模板图像和第二模板图像，所述双模板二值化算法模块将第一模板图像和第二模板图像分别与待匹配图像进行配准处理并获取第二拟合度参数
、
第二拼接点坐标参数
、
第三拟合度参数及第三拼接点坐标参照，将第二拟合度参数和第三拟合度参数进行优势比对并将胜出的拼接点作为最佳拼接点并输出第二最佳匹配点参数，所述第二最佳匹配点参数包括胜出的第二拟合度参数
、
第二相对位移参数
、
第二拼接点坐标参数，或胜出的第三拟合度参数
、
第三相对位移参数
、
第三拼接点坐标参数；其中，所述将第二拟合度参数和第三拟合度参数进行优势比对的方法包括：若第二相对位移参数
、
第三相对位移参数的
X
轴向位移均为正值，且第二拟合度
、
第三拟合度均大于
0.5
且不同时为1；通过已完成拼接的连续待拼接图像上的历史最佳匹配点通过离散拟合方式计算出历史拼接曲线；将第二拼接点通过离散拟合方式拼接入历史拼接曲线获取第二拼接曲线，将第三拼接点通过离散拟合方式拼接入同一历史拼接曲线获取第三拼接曲线；比较第二拼接曲线上基于历史拼接曲线的第二拼接点的第二斜率变化程度，以及，第三拼接曲线上基于历史拼接曲线的第三拼接点的第三斜率变化程度，将斜率变化程度较小的拼接点作为胜出的拼接点，将胜出的拼接点坐标作为最佳匹配点
。
[0005]进一步地，所述根据拼接点曲线及当前拼接点斜率获取扫描调控信号的步骤包括：根据最佳匹配点参数获取拟合的拼接点曲线，将当前拼接点接入拼接点曲线并计算当前拼接点在拼接点曲线上的偏移方向；若产生向上偏移，则当前帧图像相对于对比帧图像上移，则扫描调控信号包括引导扫描终端向下偏移的下移控制信号；若产生向下偏移，则当前帧图像相对于对比帧图像下移，则扫描调控信号包括引导扫描终端向上偏移的上移控制信号
。
[0006]进一步地，所述下移控制信号包括控制扫描窗口下方扫描指示灯点亮的下控制开关信号，所述上移控制信号包括控制扫描窗口上方扫描指示灯点亮的上控制开关信号
。
[0007]进一步地，所述下移控制信号包括控制扫描窗口下方扫描指示灯增强亮度的下增强控制开关信号，所述上移控制信号包括控制扫描窗口上方扫描指示灯增强亮度的上增强控制开关信号
。
[0008]进一步地，所述下移控制信号包括控制扫描窗口上方扫描指示灯减弱亮度的上减弱控制开关信号，所述上移控制信号包括控制扫描窗口下方扫描指示灯减弱亮度的下减弱控制开关信号
。
[0009]进一步地，所述下移控制信号包括控制扫描窗口的透视显示屏的上半部糊化的上糊化控制信号，所述上移控制信号包括控制扫描窗口的透视显示屏的下半部糊化的下糊化控制信号
。
[0010]根据本专利技术的实施方案，利用本专利技术提供的第一个方案中的扫描笔扫描控制方法，提供第二个方案为：一种扫描笔扫描控制装置，包括：
图像获取模块，用于获取扫描终端实时发送的扫描连续帧图像；帧图像选取模块，用于自连续扫描帧图像中获取当前帧图像，将当前帧图像在连续扫描帧图像中的前一时序的图像作为对比帧图像，所述对比帧图像为初始图像或连续拼接结果图的最后一帧图像；配准处理模块，用于调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数，所述最佳匹配点参数包括拟合度参数
、
相对位移参数及拼接点坐标参数；调控信号生成模块，用于根据最佳匹配点参数获取拼接点曲线及当前拼接点斜率，根据拼接点曲线及当前拼接点斜率获取扫描调控信号；信号发送模块，用于发送扫描调控信号至扫描终端
。
[0011]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行以下步骤：获取扫描终端实时发送的扫描连续帧图像；自连续扫描帧图像中获取当前帧图像，将当前帧图像在连续扫描帧图像中的前一时序的图像作为对比帧图像，所述对比帧图像为初始图像或连续拼接结果图的最后一帧图像；调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数，所述最佳匹配点参数包括拟合度参数
、
相对位移参数及拼接点坐标参数；根据最佳匹配点参数获取拼接点曲线及当前拼接点斜率，根据拼接点曲线及当前拼接点斜率获取扫描调控信号；发送扫描调控信号至扫描终端
。
[0012]一种计算机可读存本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种扫描笔扫描控制方法，其特征在于，包括如下步骤：获取扫描终端实时发送的扫描连续帧图像；自连续扫描帧图像中获取当前帧图像，将当前帧图像在连续扫描帧图像中的前一时序的图像作为对比帧图像，所述对比帧图像为初始图像或连续拼接结果图的最后一帧图像；调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数，所述最佳匹配点参数包括拟合度参数
、
相对位移参数及拼接点坐标参数；根据最佳匹配点参数获取拼接点曲线及当前拼接点斜率，根据拼接点曲线及当前拼接点斜率和拼接点偏移方向获取扫描调控信号；发送扫描调控信号至扫描终端
。2.
根据权利要求1所述的扫描笔扫描控制方法，其特征在于，所述调用拼接算法模块对当前帧图像和对比帧图像进行配准处理并获取最佳匹配点参数的步骤包括：调用模板提取子模块，所述模板提取子模块自当前帧图像中根据扫描终端的扫描移动方向确认提取区域，自提取区域中提取包含字符像素点的第一模板图像，所述模板提取子模块自对比帧图像中提取包含所有字符像素点的图像区域做空白像素填充处理并获取待匹配图像；调用归一算法子模块，所述归一算法子模块将第一模板图像和待匹配图像进行配准处理并获取第一拟合度参数和第一拼接点坐标参数，若第一拟合度参数达到第一阈值，则将第一拼接点作为最佳匹配点并输出第一最佳匹配点参数，所述第一最佳匹配点参数包括第一拟合度参数
、
第一相对位移参数及第一拼接点坐标参数；若第一拟合度参数未达到第一阈值，则调用双模板二值化算法模块，所述双模板二值化算法模块扩展所述第一模板图像并获取当前帧图像的不同比例的第一模板图像和第二模板图像，所述双模板二值化算法模块将第一模板图像和第二模板图像分别与待匹配图像进行配准处理并获取第二拟合度参数
、
第二拼接点坐标参数
、
第三拟合度参数及第三拼接点坐标参照，将第二拟合度参数和第三拟合度参数进行优势比对并将胜出的拼接点作为最佳拼接点并输出第二最佳匹配点参数，所述第二最佳匹配点参数包括胜出的第二拟合度参数
、
第二相对位移参数
、
第二拼接点坐标参数，或胜出的第三拟合度参数
、
第三相对位移参数
、
第三拼接点坐标参数；其中，所述将第二拟合度参数和第三拟合度参数进行优势比对的方法包括：若第二相对位移参数
、
第三相对位移参数的
X
轴向位移均为正值，且第二拟合度
、
第三拟合度均大于
0.5
且不同时为1；通过已完成拼接的连续待拼接图像上的历史最佳匹配点通过离散拟合方式计算出历史拼接曲线；将第二拼接点通过离散拟合方式拼接入历史拼接曲线获取第二拼接曲线，将第三拼接点通过离散拟合方式拼接入同一历史拼接曲线获取第三拼接曲线；比较第二拼接曲线上基于历史拼接曲线的第二拼接点的第二斜率变化程度，以及，...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗辉，马志宇，韦刚，李云军，伍炬彬，
申请(专利权)人：深圳市云希谷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：