一种电镜图像中物体实际尺寸的检测方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种电镜图像中物体实际尺寸的检测方法，包括：获取电镜图像；基于需要识别的目标图像设置种类标签，所述目标图像包括待测物体

【技术实现步骤摘要】
一种电镜图像中物体实际尺寸的检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及图像识别
，特别是涉及一种电镜图像中物体实际尺寸的检测方法及系统
。

技术介绍

[0002]透射电子显微镜
(Transmission Electron Microscope
，简称
TEM)
是一种强大的显微工具，用于观察物质的微观结构和性质
。
它通过入射电子束并测量透过样品的电子来获得高分辨率的图像，可以帮助科学家们深入了解材料的微观结构和性质
。
为了更直观地对透射电子显微镜所采集的图像进行分析，智能识别
TEM
图像并提取出图像中的部分信息是非常需要的
。
近年来，随着深度学习方法在目标检测领域取得了巨大的成功
。
特别是以卷积神经网络
(CNN)
为基础的方法，如
R
‑
CNN、Fast R
‑
CNN、Faster R
‑
CNN
和r/>YOLO(Yo本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电镜图像中物体实际尺寸的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取电镜图像；采用目标检测模型对所述电镜图像中的目标图像进行识别，并将检测结果用边界框框出，所述目标图像包括待测物体
、
标尺跨度标识
、
标尺刻度标识；提取边界框信息，并根据所述边界框信息计算得到所述待测物体的实际尺寸
。2.
根据权利要求1所述的电镜图像中物体实际尺寸的检测方法，其特征在于，所述边界框为矩形框，所述边界框信息包括所述边界框的像素高度和像素宽度，以及所述目标图像对应的种类标签，所述种类标签包括待测物体名称
、
标尺跨度
、
以及有限个预设的表示不同实际跨度的标尺刻度
。3.
根据权利要求2所述的电镜图像中物体实际尺寸的检测方法，其特征在于，所述根据所述边界框信息计算得到所述待测物体的实际尺寸，包括以下步骤：基于所述待测物体的边界框信息提取所述待测物体的像素高度和像素宽度；基于所述标尺跨度标识的边界框信息提取所述标尺的像素跨度；基于所述标尺刻度标识的边界框信息提取所述标尺的实际跨度，所述标尺的实际跨度为所述标尺刻度标识的所述种类标签；根据所述待测物体的像素高度
、
所述待测物体的像素宽度

【专利技术属性】
技术研发人员：吴幸，谢靖，王超伦，盛智伟，武勇惠，张子健，叶长青，李晓梅，
申请(专利权)人：华东师范大学，
类型：发明
国别省市：