用于检查显示面板的装置和检查显示面板的表面的方法制造方法及图纸

本申请涉及用于检查显示面板的装置和用于检查显示面板的表面的方法。用于检查显示面板的装置包括：光源，朝向显示面板的表面照射光；光检测器，检测从显示面板的表面上的感兴趣区域反射的光，以生成捕获的图像；透镜系统，包括接收反射光并且将反射光提供到光检测器的至少一个透镜；以及分析器，基于将模型数据与检测数据进行比较的结果来量化感兴趣区域的曲率程度，并且基于量化结果来确定显示面板是否有缺陷，其中，模型数据包括感兴趣区域的参考光强度的分布，检测数据与捕获的图像对应。应。应。

【技术实现步骤摘要】
用于检查显示面板的装置和检查显示面板的表面的方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2022年6月21日在韩国知识产权局(KIPO)提交的第10
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2022
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0075820号韩国专利申请的优先权和权益，所述韩国专利申请的全部内容通过引用并入本文中。


[0003]本公开涉及用于检查显示面板的装置和用于检查显示面板的表面的方法。

技术介绍

[0004]随着显示面板变得更薄，显示面板的表面可能在制造工艺期间变形，或者可能具有比产品规格更严重的弯曲度或不平坦度。如上所述的显示面板的不平坦表面可导致产品缺陷。
[0005]因此，在大规模生产显示面板时，需要快速且准确地检查显示面板的表面的曲率、变形等的程序。

技术实现思路

[0006]本公开的目的是提供用于检查显示面板的装置和用于检查显示面板的表面的方法，该装置通过将包括从显示面板的表面上的感兴趣区域反射的光的强度分布的检测数据与模型数据进行比较来确定显示面板的表面是否有缺陷。
[0007]然而，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于检查显示面板的装置，包括：光源，朝向所述显示面板的表面照射光；光检测器，检测从所述显示面板的所述表面上的感兴趣区域反射的光，以生成捕获的图像；透镜系统，包括接收反射光并且将所述反射光提供到所述光检测器的至少一个透镜；以及分析器，基于将模型数据与检测数据进行比较的结果来量化所述感兴趣区域的曲率程度，并且基于量化结果来确定所述显示面板是否有缺陷，其中，所述模型数据包括所述感兴趣区域的参考光强度的分布，所述检测数据与所述捕获的图像对应。2.根据权利要求1所述的装置，还包括：光学系统，将从所述光源发射的所述光调整为平行光，向所述感兴趣区域提供所述平行光，并且根据所述感兴趣区域的尺寸调整所述平行光的直径。3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述分析器包括：存储器，存储根据所述感兴趣区域的所述模型数据；第一计算器，计算所述模型数据与所述检测数据之间的每个坐标的数据值的大小的差；第二计算器，计算所述大小的差的总和作为与所述曲率程度对应的代表值；以及确定器，将所述代表值与阈值进行比较以确定所述显示面板是否有缺陷。4.根据权利要求3所述的装置，其中，在所述代表值超过所述阈值的情况下，所述确定器确定所述显示面板有缺陷，以及在所述代表值等于或小于所述阈值的情况下，所述确定器确定所述显示面板正常。5.根据权利要求3所述的装置，其中，所述分析器还包括：参考位置提取器，提取与所述检测数据中包括的光强度的最大值对应的位置的坐标作为参考坐标；以及模型数据校正器，通过移位所述模型数据使得与所述模型数据中包括的所述参考光强度的最大值对应的位置的坐标与所述参考坐标一致来生成校正的模型数据。6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述第一计算器计算所述校正的模型数据与所述检测数据之间的每个坐标的数据值的大小的差。7.根据权利要求5所述的装置，其中，所述第一计算器基于所述校正的模型数据中包括的最大值来归一化所述校正的模型数据的数据值。8.根据权利要求7所述的装置，其中，所述第一计算器基于所述检测数据中包括的最大值来归一化所述检测数据的数据值。9.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：李慈恩，徐瑨，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：