一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装制造技术

本发明专利技术涉及金相检测技术领域，特别公开了一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，包括检测基座和金相显微镜本体，金相显微镜本体包括粗同轴调焦块

【技术实现步骤摘要】
一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装


[0001]本专利技术涉及金相检测
，特别涉及一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装
。

技术介绍

[0002]金相检测，主要是为了研究金相显微组织，通过测量与计算来确定三维组织的空间形貌，这种技术不仅仅大大提高了金相检验的准确率更是提高了其速度，大大缩短了工作时间，从某种意义上而言，金相检测就是在人们主观意识的基础上对于金属内部结构的研究与分析，将物理冶金学理论运用到实际的操作过程中，针对其金属以及合金的成分进行检验，性能的分析，因为检测的是金属材料内部的各种组织结构的形态及分部情况，同样的材料用在不同的地方，对其性能的要求是不一样的，所以其组织的形态结构也是不一样的，金相检测就是通过工件的金相组织形态判断该工件是否符合使用的性能要求
。
[0003]对于金相的检测，会使用使用到倒置金相检测显微镜，目前大多的金相检测显微镜的底座多为平置设计，但是不具备高度调节，因此具有一定的局限性，且对于待检测材料的移动不具备坐标标注，在检测时移动待检测材料不够精确，可能会出现重复观测，影响了检测效率，为解决上述问题，因此提出一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装
。

技术实现思路

[0004](
一
)
解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，解决金相检测显微镜不具备高度调节，因此具有一定的局限性，且对于待检测材料的移动不具备坐标标注，在检测时移动待检测材料不够精确，可能会出现重复观测，影响了检测效率的技术问题
。
[0006](
二
)
技术方案
[0007]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：
[0008]一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，包括检测基座和金相显微镜本体，所述金相显微镜本体包括粗同轴调焦块
、
细同轴调焦块
、
转轴目镜观察筒
、
三目接筒
、
三目接筒
、
光源灯箱
、
滤镜卡槽
、
承载座
、
物镜转盘
、
物镜，所述金相显微镜本体的侧端部设置有粗同轴调焦块和细同轴调焦块，所述金相显微镜本体的上段的侧端部设置有转轴目镜观察筒，所述金相显微镜本体的上端部设置有三目接筒，所述金相显微镜本体的上端部设置有光源灯箱，所述金相显微镜本体的上端部设置有滤镜卡槽，所述金相显微镜本体的上端部设置有承载座，所述承载座的上端部转动安装有物镜转盘，所述物镜转盘的上端部设置有至少两个物镜；
[0009]其中，所述三目接筒的位置位于转轴目镜观察筒的一侧，所述承载座的位置位于远离粗同轴调焦块的一侧，所述滤镜卡槽的位置位于承载座的一侧，所述光源灯箱的位置位于滤镜卡槽的一侧
。
[0010]优选的：所述检测基座的下端部螺纹安装有四个调节柱，所述检测基座中段的上端部固定安装有四个固定块，所述金相显微镜本体中段的下端部固定安装有四个固定块；
[0011]其中，四个所述调节柱的分别分布在检测基座底端的四个角，四个所述检测基座上的固定块与金相显微镜本体上的固定块位置对称分布
。
[0012]每个所述固定块的侧端部均转动安装有转动柱，每两个所述转动柱之间均转动安装有铰接块；
[0013]其中，四个所述铰接块的位置均位于检测基座和金相显微镜本体的两侧
。
[0014]位于同一侧的两个所述铰接块之间均固定安装有同一个调节块，其中一个所述调节块的侧端部转动安装有螺纹杆，所述螺纹杆贯穿螺纹安装于另一个调节块，所述螺纹杆的侧端部固定安装有转动盘，所述转动盘的侧端部固定安装有转动把手；
[0015]其中，所述转动把手的位置位于贯穿安装有螺纹杆的调节块一侧
。
[0016]所述承载座的侧端部固定安装有两个承载块；
[0017]其中，两个所述承载块的位置均位于承载座中段的两个侧端部
。
[0018]优选的：两个所述承载块的上端部均转动安装有螺纹转筒，两个所述螺纹转筒的内侧壁均螺纹安装有螺纹转轴，两个所述螺纹转轴的上端部固定安装有同一个载物台；
[0019]其中，两个所述螺纹转轴贯穿安装于螺纹转筒的上端部
。
[0020]所述载物台的上端部设置有水滴载物片，所述载物台的上端部开设有四个平置槽；
[0021]其中，四个所述平置槽的位置均等距排列在水滴载物片的四周
。
[0022]所述载物台的上方设置有移动板，所述移动板的下端部滚动安装有四个滚珠；
[0023]其中，四个所述滚珠均设置在四个平置槽的内侧
。
[0024]所述移动板的侧端部固定安装有标注块，所述标注块的上端部螺纹安装有螺栓
,
所述标注块的侧端部固定安装有两个标注指针；
[0025]其中，两个所述标注指针呈九十度位置排列
。
[0026]所述载物台的上端部开设有标注槽口；
[0027]其中，所述标注槽口的一侧设置有数值标注，所述螺栓可与标注槽口进行接触，两个所述标注指针均位于有数值标注的一侧
。
[0028](
三
)
有益效果
[0029]一
、
移动板移动带动标注块
,
标注块受力移动带动螺栓
,
然后转动螺栓，螺栓受力在标注块上进行螺纹转动，当螺栓与标注槽口接触时，螺栓的摩擦力对移动板进行限位，然后观测标注指针指向的标注数值，对坐标进行记录，然后根据坐标对待检测材料进行调整，通过将倒置金相样件检测工装设计为坐标可调，使得在对待检测材料进行检测时，可以进行移动坐标标注，从而可以在检测时精确移动待检测材料，避免了重复观测，进而提高了检测效率
。
[0030]二
、
调节柱螺纹转动调节其自身高度，从而对检测基座的四个角的高度进行调节，使检测基座保持在水平观测线上，当检测基座到达水平线后，停止转动调节柱，通过将可调节坐标的倒置金相样件检测工装的调节柱设计为四角单独可调节，使得当可调节坐标的倒置金相样件检测工装所处位置不平时，可以对四角进行单独调节使其保持在水平观测线上，从而提高了可调节坐标的倒置金相样件检测工装的适用性
。
[0031]三
、
调节块移动带动铰接块
,
铰接块受力带动挤压转动柱
,
转动柱受力在固定块上进行转动，转动柱转动带动固定块进行高度调节，固定块移动对金相显微镜本体进行高度调节，当高度调节为适用高度时，停止拉动转动把手，通过将将可调节坐标的倒置金相样件检测工装设计为高度可调节，使得在检测时可以根据使用者需求调节为适用高度，降低了将可调节坐标的倒置金相样件检测工装的局限性，提高了将可调节坐标的倒置金相样件检测工装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，包括检测基座
(1)
和金相显微镜本体
(2)
，其特征在于，所述金相显微镜本体
(2)
包括粗同轴调焦块
(21)、
细同轴调焦块
(22)、
转轴目镜观察筒
(23)、
三目接筒
(24)、
三目接筒
(24)、
光源灯箱
(25)、
滤镜卡槽
(26)、
承载座
(27)、
物镜转盘
(28)、
物镜
(29)
，所述金相显微镜本体
(2)
的侧端部设置有粗同轴调焦块
(21)
和细同轴调焦块
(22)
，所述金相显微镜本体
(2)
的上段的侧端部设置有转轴目镜观察筒
(23)
，所述金相显微镜本体
(2)
的上端部设置有三目接筒
(24)
，所述金相显微镜本体
(2)
的上端部设置有光源灯箱
(25)
，所述金相显微镜本体
(2)
的上端部设置有滤镜卡槽
(26)
，所述金相显微镜本体
(2)
的上端部设置有承载座
(27)
，所述承载座
(27)
的上端部转动安装有物镜转盘
(28)
，所述物镜转盘
(28)
的上端部设置有至少两个物镜
(29)
；其中，所述三目接筒
(24)
的位置位于转轴目镜观察筒
(23)
的一侧，所述承载座
(27)
的位置位于远离粗同轴调焦块
(21)
的一侧，所述滤镜卡槽
(26)
的位置位于承载座
(27)
的一侧，所述光源灯箱
(25)
的位置位于滤镜卡槽
(26)
的一侧
。2.
如权利要求1所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，所述检测基座
(1)
的下端部螺纹安装有四个调节柱
(11)
，所述检测基座
(1)
中段的上端部固定安装有四个固定块
(12)
，所述金相显微镜本体
(2)
中段的下端部固定安装有四个固定块
(12)
；其中，四个所述调节柱
(11)
的分别分布在检测基座
(1)
底端的四个角，四个所述检测基座
(1)
上的固定块
(12)
与金相显微镜本体
(2)
上的固定块
(12)
位置对称分布
。3.
如权利要求2所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，每个所述固定块
(12)
的侧端部均转动安装有转动柱
(13)
，每两个所述转动柱
(13)
之间均转动安装有铰接块
(14)
；其中，四个所述铰接块
(14)
的位置均位于检测基座
(1)
和金相显微镜本体
(2)
的两侧
。4.
如权利要求3所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，位于同一侧的两个所述铰...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤斌杰，唐晓臣，张艳，冯军，
申请(专利权)人：上海东风汽车专用件有限公司，
类型：发明
国别省市：